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最新专利技术
  • 一种多倍压整流LCC变换器的参数设计方法
    一种多倍压整流LCC变换器的参数设计方法_南京理工大学_202511183908.5
    本发明提出了一种多倍压整流LCC变换器的参数设计方法，包括：基于多倍压整流LCC变换器及多倍压整流器输出电容参与谐振的情况，采用基波等效法建立谐振腔并联电容的电压精确数学模型；通过谐振腔并联电容的电压精确数学模型，对倍压LCC谐振变换器的增...
    2026-04-21
  • 一种基于自适应快速混合搜索算法的网表优化方法及装置
    一种基于自适应快速混合搜索算法的网表优化方法及装置_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202511531899.4
    本发明公开了一种基于自适应快速混合搜索算法的网表优化方法及装置，方法包括：读取待优化电路的原始网表文件和综合流参数；创建综合流的转换字典，并创建哈希表；将综合流做为染色体输入，生成染色体组成种群；计算新种群中染色体的适应度；根据适应度选择子...
    2026-04-21
  • 基于符号计算的FPGA不可达代码检测方法和装置
    基于符号计算的FPGA不可达代码检测方法和装置_深远华创(南京)信息科技有限公司_202512040285.2
    本发明公开了一种基于符号计算的FPGA不可达代码检测方法和装置，该方法包括：获取待检测的FPGA工程的RTL代码，提取RTL代码中所有模块, 查找各个模块中所有时序逻辑和组合逻辑所对应的控制节点，记录下所有控制节点以及对应位置；对时序逻辑所...
    2026-04-21
  • 自动化仿真验证方法及设备、存储介质
    自动化仿真验证方法及设备、存储介质_上海概伦电子股份有限公司_202511550466.3
    本申请提出一种自动化仿真验证方法及设备、存储介质。该方法包括：获取预设参数；将所述预设参数输入第一仿真模型进行仿真，得到第一仿真结果；将所述第一仿真模型转换为第二仿真模型，并将所述预设参数输入第二仿真模型进行仿真，得到第二仿真结果；将所述第...
    2026-04-21
  • 自适应网络的模拟电路的参数预测、工艺迁移方法和装置
    自适应网络的模拟电路的参数预测、工艺迁移方法和装置_上海概伦电子股份有限公司_202511556542.1
    本发明公开一种自适应网络的模拟电路的参数预测、工艺迁移方法，包括：基于模拟电路的特征向量和目标性能指标数据分别获取网络训练数据集，所述网络训练数据集基于分布密度分为深层网络训练数据集和浅层网络训练数据集；基于所述目标性能指标数据自适应获取激...
    2026-04-21
  • 基于SVS的电路一致性判断方法
    基于SVS的电路一致性判断方法_深圳国微芯科技有限公司_202511583710.6
    本发明公开了基于SVS的电路一致性判断方法，包括：步骤1，将待判断的两份电路网表文件转换为以节点为单位的层级化表示形式；步骤2，根据已知信息，找到两份电路中存在相似性关系的节点对；步骤3，按照从底层至上层的顺序，遍历节点对，并将符合要求的节...
    2026-04-21
  • 一种IP测试系统及IP测试方法
    一种IP测试系统及IP测试方法_天津津航计算技术研究所_202511608226.4
    本申请提供一种IP测试系统及IP测试方法，系统包括上位机，用于生成参数配置指令；接口转换模块，与上位机通信连接，被配置为接收来自上位机的参数配置指令，并将参数配置指令转换为与目标IP模块的本地配置接口兼容的配置信号；目标IP模块，集成有配置...
    2026-04-21
  • 数字后端网表转换和物理验证方法、系统、计算机及介质
    数字后端网表转换和物理验证方法、系统、计算机及介质_中国电子科技集团公司第二十四研究所_202511635485.6
    本发明公开了数字后端网表转换和物理验证方法、系统、计算机及介质，该方法包括：从数字后端导出布局布线后的GDS文件，并通过融合工艺设计套件中的标准单元数据，完善版图信息；从数字后端导出Verilog网表文件；对Verilog网表文件进行网表格...
    2026-04-21
  • 一种DIE间缓存一致性处理方法及数据共享加速装置
    一种DIE间缓存一致性处理方法及数据共享加速装置_北京微核芯科技有限公司_202512000741.0
    本申请提出一种DIE间缓存一致性处理方法及数据共享加速装置，包括构建多CPU DIE和多IO DIE的互联架构，结合状态分层状态管控机制，突破传统架构中状态记录与DIE数量强耦合的限制。三层状态数据执行缓存一致性维护时，目标CPU DIE调...
    2026-04-21
  • 一种基于BDD的大规模数字电路输入独立性分析方法
    一种基于BDD的大规模数字电路输入独立性分析方法_杭州九之星软件有限公司_202512001229.8
    本发明公开了一种基于BDD的大规模数字电路输入独立性分析方法，将电路Verilog文件转换为与非图AIG并逻辑优化，提取输入输出变量集合；将AIG网络转换为全局BDD表示并减小节点数量；构建关于输入组S和X的多变量乘积项cube；计算Di关...
    2026-04-21
  • 多工艺封装芯片异构集成设计仿真方法及装置
    多工艺封装芯片异构集成设计仿真方法及装置_芯和半导体科技(上海)股份有限公司_202512027317.5
    本申请公开了一种多工艺封装芯片异构集成设计仿真方法及装置，所述方法包括：获取芯片设计与封装设计的至少两种设计文件，解析所述设计文件中的几何与层叠信息并生成芯片三维模型与封装三维模型；将所述芯片三维模型与所述封装三维模型进行相对放置以形成堆叠...
    2026-04-21
  • IBIS模型数据的处理方法、装置、计算机设备及存储介质
    IBIS模型数据的处理方法、装置、计算机设备及存储介质_芯和半导体科技(上海)股份有限公司_202512027372.4
    本申请公开了一种IBIS模型数据的处理方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：获取目标IBIS模型的上拉曲线和下拉曲线；判断所述上拉曲线和所述下拉曲线的有效性；响应于判断出仅所述上拉曲线为有效曲线而所述下拉曲线为无效曲线，根据所述上拉曲...
    2026-04-21
  • 芯片的仿真方法及装置、设备、介质、产品
    芯片的仿真方法及装置、设备、介质、产品_摩尔线程智能科技(北京)股份有限公司_202512061272.3
    本公开实施例提供了一种芯片的仿真方法及装置、设备、介质、产品，其中，该方法包括：获取芯片中至少一个组件实例的组件模型、以及至少一个接口实例的接口模型；其中，所述组件模型具有第一仿真操作，所述第一仿真操作用于模拟所述组件实例的功能逻辑；所述接...
    2026-04-21
  • 一种基于FeFET构建的可重构伊辛器、芯片
    一种基于FeFET构建的可重构伊辛器、芯片_安徽大学_202512016830.4
    本发明涉及集成电路设计技术领域，公开了基于FeFET构建的可重构伊辛器、芯片。本发明提供了可重构伊辛器，包括：计算阵列部、自旋更新部。计算阵列部包括N列基于FeFET构建的伊辛计算列，支持灵活设定不同自旋之间的相互关系，能够实现对复杂不规则...
    2026-04-21
  • 信号仿真分析方法及系统
    信号仿真分析方法及系统_深圳市晶存科技股份有限公司_202512044313.8
    本发明涉及电路设计技术领域，公开了一种信号仿真分析方法及系统。该方法包括：搭建仿真结构；根据搭建的仿真结构，分别获取主控芯片基板、PCB板、存储芯片颗粒基板的散射参数；根据所述PCB板的散射参数对第二走线设计进行优化，根据存储芯片颗粒基板的...
    2026-04-21
  • 集成电路增量时序分析方法、装置和计算机设备
    集成电路增量时序分析方法、装置和计算机设备_无锡北京大学电子设计自动化研究院_202511436372.3
    本申请涉及一种集成电路增量时序分析方法、装置和计算机设备。所述方法包括：在原始的集成电路拓扑图发生修改后，根据修改后的集成电路拓扑图对所述原始的集成电路拓扑图的图结构进行增量更新，得到图结构更新结果；根据所述图结构更新结果对所述原始的集成电...
    2026-04-21
  • 一种PCIe协议时序检错方法、系统、设备及存储介质
    一种PCIe协议时序检错方法、系统、设备及存储介质_无锡亚科鸿禹电子有限公司_202511484249.9
    本申请涉及一种PCIe协议时序检错方法、系统、设备及存储介质，应用在半导体芯片设计及验证技术领域，方法包括接收待检测时序信息，待检测时序信息包括待检测的若干PCIe时序；构建若干PCIe时序对应的若干PCIe协议时序检测模块；构建PCIe协...
    2026-04-21
  • 用于集成电路时序分析的关键路径可视化方法及装置、设备、介质
    用于集成电路时序分析的关键路径可视化方法及装置、设备、介质_上海国微芯芯半导体有限公司_202511516985.8
    本申请提供一种用于集成电路时序分析的关键路径可视化方法及装置、设备、介质，应用于芯片设计技术领域，通过接收用户设定的路径群组与违例阈值，自动筛选并生成一份集中展示所有关键时序路径的报告，进而根据用户从报告中选择的目标路径，在物理版图上分别以...
    2026-04-21
  • 针对芯片的分析方法及装置
    针对芯片的分析方法及装置_上海兆芯集成电路股份有限公司_202511578877.3
    本公开涉及一种针对芯片的分析方法及装置。该方法包括：对不同分析工具对目标芯片的最新结果分别进行数据抓取得到目标数据，分析工具包括至少两种，各分析工具对目标芯片进行的分析不同；将各分析工具对应的目标数据作为分析依据发送到其他分析工具；基于目标...
    2026-04-21
  • 一种从上到下式自动生成SoC系统中时序约束文件方法及装置
    一种从上到下式自动生成SoC系统中时序约束文件方法及装置_北京清微智能科技有限公司_202511065723.4
    本发明公开了一种从上到下式自动生成SoC系统中时序约束文件方法及装置。其中，方法包括：在xls文件中填写SoC系统时序约束中的关键信息；通过脚本采用从上到下式读取关键信息，生成SoC系统所需的所有时序约束文件。
    2026-04-21
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