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最新专利技术
  • 高压断路器机构的卡涩故障预警方法、装置、设备及介质
    高压断路器机构的卡涩故障预警方法、装置、设备及介质_国网四川省电力公司成都供电公司_202511789177.9
    本发明公开了高压断路器机构的卡涩故障预警方法、装置、设备及介质，涉及电力设备故障预警技术领域。本发明的方法包括：获取高压断路器执行分合闸动作时，由其机构上辅助开关节点状态变化产生的SOE信号；根据相邻的第一SOE信号与第二SOE信号之间的时...
    2026-03-20
  • 基于非侵入式声学传感特征的高压开关故障诊断系统
    基于非侵入式声学传感特征的高压开关故障诊断系统_国网黑龙江省电力有限公司佳木斯供电公司_202511769119.X
    本发明涉及大数据处理的技术领域，具体涉及一种基于非侵入式声学传感特征的高压开关故障诊断系统。所述系统包括：用于获取目标开关设备的多个振动信号以及每一个振动信号的多个振动分量的信号获取模块；用于分析各振动分量的能量分布的能量分析模块；用于分析...
    2026-03-20
  • 基于非侵入式声波监测的高压开关故障诊断系统
    基于非侵入式声波监测的高压开关故障诊断系统_国网黑龙江省电力有限公司佳木斯供电公司_202511763894.4
    本申请涉及一种基于非侵入式声波监测的高压开关故障诊断系统。系统包括：分离模块，将流动声波信号进行盲源分离，得到多个声波源信号及对应的能量占比；计算模块，计算每个声波源信号的振幅序列的峭度以及一阶差分值的标准差，并基于频谱分析结果，确定基频成...
    2026-03-20
  • 一种接触器运行状态的监测方法及系统
    一种接触器运行状态的监测方法及系统_云南中烟工业有限责任公司_202511699863.7
    本申请涉及烟机设备监测技术领域，公开了一种接触器运行状态的监测方法及系统包括如下步骤：S1、为每个接触器的输入点和输出点均设置时间戳变量，并计算每个接触器的输入到输出的响应时间；S2、为每个接触器构建包括响应时间、响应时间标准差以及响应时间...
    2026-03-20
  • 一种开关柜电动手车状态监测的方法
    一种开关柜电动手车状态监测的方法_国网江苏省电力有限公司连云港供电分公司_202511692666.2
    本发明公开了一种开关柜电动手车状态监测的方法，首先处理器获取测距传感器的信号，与断路器处于试验位置、中间位置、运行位置时对应距离转化的标准电压值进行比较，实时获取断路器当前位置状态；根据断路器位置状态设定底盘车电机运行电流标准值；最后将红外...
    2026-03-20
  • 一种高压隔离开关触头状态智能校验与检修辅助方法
    一种高压隔离开关触头状态智能校验与检修辅助方法_华能太仓发电有限责任公司_202511684506.3
    本发明提出了一种高压隔离开关触头状态智能校验与检修辅助方法。本发明通过一体化感知模块实时采集触头温度、接触电阻、微位移及环境温湿度等多维参数，经边缘计算单元进行数据预处理与时空特征提取后，输入CNN‑LSTM融合AI模型进行智能诊断，精准识...
    2026-03-20
  • 一种针对GIS设备的局部放电定位方法及系统
    一种针对GIS设备的局部放电定位方法及系统_国网上海市电力公司_202511678770.6
    本发明涉及一种针对GIS设备的局部放电定位方法及系统，方法通过多个特高频传感器进行同步信号采集，构建基于放电测量信号的多通道信号矩阵，得到时间对齐的多传感器信号；对时间对齐的多传感器信号进行信号滤波处理，得到每一特高频传感器对应的目标频段信...
    2026-03-20
  • 用于功率开关的异常检测装置、芯片、产品和设备
    用于功率开关的异常检测装置、芯片、产品和设备_深圳市稳先微电子有限公司_202511621691.1
    本申请提供一种用于功率开关的异常检测装置、芯片、产品和设备，其中，该异常检测装置包括栅极驱动电路、驱动电压检测电路和栅极异常判断电路，栅极驱动电路用于通过栅极驱动端连接功率开关，在功率开关从关断截止状态向开启导通状态转变期间，栅极异常判断电...
    2026-03-20
  • 一种基于图像的断路器电磁斥力机构状态评估方法及系统
    一种基于图像的断路器电磁斥力机构状态评估方法及系统_国网冀北电力有限公司超高压分公司_202511386494.6
    本发明提供的一种基于图像的断路器电磁斥力机构状态评估方法及系统，包括：启动断路器进行分合闸操作时，采用高速相机采集电磁斥力机构振动图像；通过Lucase‑Kanade光流法从电磁斥力机构振动图像中得到时域图和频域图，从时域图和频域图中提取时...
    2026-03-20
  • 继电器检测方法、功率变换装置及电力设备
    继电器检测方法、功率变换装置及电力设备_正浩科技新加坡有限公司_202510344505.8
    本申请涉及一种继电器检测方法，应用于功率变换装置；所述方法包括：输出第一驱动信号至所述功率变换电路，所述第一驱动信号用于控制所述功率变换电路向所述第一火线输出端输出功率；获取所述第一火线输出端的第一逆变电压；在所述第一逆变电压达到目标电压的...
    2026-03-20
  • 继电器检测方法、功率变换器及电力设备
    继电器检测方法、功率变换器及电力设备_正浩科技新加坡有限公司_202510339349.6
    本申请涉及一种继电器检测方法，应用于功率变换器；所述方法包括：控制两路预充通道中的其中一路导通另一路断开，或者控制两路主充电通道中的其中一路导通另外一路断开；控制所述两个零线继电器中的其中一个闭合另一个断开；获取导通的预充通道或者主充电通道...
    2026-03-20
  • 应用于FPGA芯片的自动化IO测试方法及系统
    应用于FPGA芯片的自动化IO测试方法及系统_中科芯磁科技(珠海)有限责任公司_202610083833.1
    本发明涉及集成电路技术领域，一种应用于FPGA芯片的自动化IO测试方法及系统，包括：获取封装类型对应的引脚布局及IO类型对应的电气标准，引用所述IO信息，根据引脚布局及电气标准生成测试类型的工程文件及约束文件，在EDA工具环境中，根据FPG...
    2026-03-20
  • 一种TSV-RDL互连结构失效测试分析系统及方法
    一种TSV-RDL互连结构失效测试分析系统及方法_重庆赛宝工业技术研究院有限公司_202610077567.1
    本发明涉及电子封装技术领域，具体公开了一种TSV‑RDL互连结构失效测试分析系统及方法，通过测试结构、数据采集、判据模型的全流程标准化设计，结合跨尺度表征与多参数预警的技术创新，既实现了对TSV‑RDL互连结构早期失效的精准捕捉，又建立了统...
    2026-03-20
  • 一种ATE设备源板通道并联测试系统
    一种ATE设备源板通道并联测试系统_杭州御渡半导体科技有限公司_202610076623.X
    本发明提供一种ATE设备源板通道并联测试系统，系统包括：负载单元，包括VI源板及多个被测负载通道，VI源板通过信号端口分别与多个被测负载通道连接；所述负载单元根据控制信号选择单通道独立负载或多通道并联负载，并根据所述控制信号切换负载阻值，输...
    2026-03-20
  • 一种测试治具及其制备方法
    一种测试治具及其制备方法_元旭半导体科技(无锡)有限公司_202610003460.2
    本发明涉及半导体技术领域，具体为一种测试治具及其制备方法，测试治具包括层叠分布的缓冲层、重布线层、若干组测试焊盘及设置于重布线层的端口，测试时，测试焊盘与LED芯片接触连接，LED芯片通过测试焊盘、重布线层中的连接电路、端口与测试机电连接，...
    2026-03-20
  • 半导体测试设备及其自动化测试方法、装置
    半导体测试设备及其自动化测试方法、装置_深圳市辰卓科技股份有限公司_202512053134.0
    本申请提供了一种半导体测试设备及其自动化测试方法、装置，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：通过第二线程采集目标芯片输出的目标数据；在目标芯片基于目标数据进行测试的过程中，若确定需要对目标芯片进行配置修改，则在目标芯片无帧同步引脚的情...
    2026-03-20
  • 时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片
    时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片_广立微(上海)技术有限公司_202512040419.0
    本发明涉及一种时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片，包括：测试机对待测器件执行多次应用不同级数分频器的预处理，获得多个不同频率的工作时钟信号；所述预处理包括：测试机对待测器件开始测试流程，生成时钟信号连接至分频器进行分频处理，...
    2026-03-20
  • 芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质
    芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质_深圳市三晋通科技有限公司_202511968338.0
    本发明涉及芯片故障定位领域，尤其涉及一种芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质。该方法包括以下步骤：采集芯片运行过程的温度传感数据及时序信号；对所述温度传感数据及时序信号进行多指标偏离计算，生成状态偏离度指标；基于预设的第一偏离阈值对状...
    2026-03-20
  • 芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质
    芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质_深圳市新智源科技有限公司_202511968334.2
    本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括以下步骤：基于芯片设计需求文档提取芯片性能指标；基于芯片性能指标进行饱和频率激励设定，生成激励测试信号；基于激励测试信号进行多端口信号激励测试及...
    2026-03-20
  • 数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备及存储介质
    数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备及存储介质_南方电网传感科技(广东)有限公司_202511878295.7
    本申请涉及一种数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备和可读存储介质。所述方法包括：控制模块、至少一个ADC芯片、至少一个DAC芯片、至少两个软开关；控制模块分别与ADC芯片和DAC芯片连接；各软开关设置于模拟地和数字地之间的通道，且...
    2026-03-20
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