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  • 本发明提供一种应用于电控柜绝缘子状态的实时监测装置及监测方法,包括以下步骤:获取控制器检测的当前环境温度;判断当前环境温度是否低于预设温度阈值,监测到环境温度低于预设温度阈值时,电气柜内部绝缘子正常工作;当环境温度高于临界温度时,开启风机降...
  • 本发明提供一种绝缘通风条绝缘性能在线检测设备及检测方法,涉及绝缘性能检测技术领域,包括:线体连接架、活动控制件、夹持定位件、外观检测件和辅助分离件;所述活动控制件安装在线体连接架上;所述夹持定位件共设有两组,且两组夹持定位件安装在活动控制件...
  • 一种局部放电监测方法、局部放电监测系统、介质及产品,实施本方法,移动局放采集单元与工频相位基准采集单元之间通过LoRa无线通信,实现时钟同步和数据传输,无需布设固定线缆,大大降低了安装维护成本。移动局放采集单元采用多级时钟修正机制——首先基...
  • 本发明公开了一种基于多参量的油浸式变压器放电缺陷主动防御方法及系统。在变压器运行时,采集得到脉冲电流信号,特高频信号,油中溶解乙炔含量信号,根据脉冲电流信号和特高频信号的幅值与不同的预设门槛作比较,以及是否在过去若干个时间段内均有高过门槛的...
  • 本发明涉及一种漏电流与击穿电压测量装置,应用于半导体分立器件测试,包括数控电源、MOSFET管和控制电路;所述数控电源的正极与所述MOSFET管的D端连接,所述MOSFET管的S端与所述半导体分立器件的输入端连接,所述半导体分立器件的输出端...
  • 一种融合物理信息的油中多匝短路严重度辨识方法及装置,方法中,构建多匝绕组模型开展油中匝间电弧放电实验;测量并保存电弧放电过程中的电压信号、电流信号、电磁辐射信号;提取所述电压信号、电流信号、电磁辐射信号的特征参量;基于放电过程中故障严重程度...
  • 本发明公开了一种通用型绝缘检测电路,属于集成电路开发领域。现有各行业的绝缘检测方式各有不同,不同方案各有优势和缺点。本发明设计了一款通用型的电路,可以覆盖传统的各类绝缘检测方式,该电路基于低压注入式绝缘检测原理,设计了一个非常精巧的注入测量...
  • 本发明提出一种基于波速自校准的开关柜局放双端定位方法及系统,所述方法应用于由多台电气串联的开关柜组成的配电系统中,包括:在开关柜内或相邻开关柜间设置由两个谐振式高频电流传感器以固定电气距离布设的基准测量段,用以选择性放大并捕获相应频段的局放...
  • 本发明公开一种高压线缆组件耐压测试箱,涉及高压线缆组件测试技术领域,包括耐压测试箱,所述耐压测试箱包括打压油桶主体,所述打压油桶主体的顶端通过螺丝可拆卸安装打压油桶上盖,所述打压油桶主体内部中空设置,所述打压油桶上盖上设置有连接组件,所述打...
  • 本发明涉及电缆检测技术领域,具体的是基于暂态行波信号特征的电缆绝缘状态评估及预警方法,包括:以暂态行波信号的故障距离和高低频能量差异区分区内故障和区外故障,结合当前待检测电缆的拓扑结构,确定初步识别的故障点;将故障点进行二次区域映射,通过暂...
  • 本发明涉及电力设备检测技术领域,公开了一种气体绝缘开关设备的绝缘缺陷检测方法及系统,包括:通过短波辐照与阶梯电压的协同作用,主动激发绝缘缺陷的放电过程,主动激发替代被动等待,有效解决了微小气隙缺陷因自然电子产率不足导致的检测盲区问题,多参数...
  • 本发明涉及电缆绝缘性能检测技术领域,具体的是一种电力电缆绝缘性能综合测试装置及测试方法,包括支架,支架上通过转动总成连接有用于放置待测电缆的测试仓,测试仓上通过驱动组件滑动插接有密封框盖,密封框盖上设置有模拟直埋式电缆实际工况的拟真总成,本...
  • 本申请涉及半导体器件测试技术领域,具体涉及一种半导体器件测试装置,包括箱体、液冷组件、测试工位组件以及驱动模块;所述液冷组件包括多个呈阵列设置在所述箱体内壁的液冷模块;所述测试工位组件包括支撑框架以及多个安装在所述支撑框架上的被测器件承载模...
  • 本申请提供一种防凝露结构及半导体器件测试设备,涉及半导体器件测试技术领域。该防凝露结构包括基座,基座上设有贯通孔,贯通孔与穿墙板适配,并用于供穿墙板穿过,基座内设有空腔和连接管路,空腔环绕贯通孔并与贯通孔连通,基座上还设有进气接口和出气接口...
  • 本发明提供了一种GaN器件动态高温工作寿命试验电路、方法及装置,其中电路包括:电压输出模块、驱动试验模块、续流模块和负载输出模块,其中:电压输出模块与续流模块、GaN器件电连接;GaN与SiC陪测器件、续流模块电连接,GaN栅极作为其控制端...
  • 本发明涉及半导体器件性能测试技术领域,尤其涉及一种可调脉宽的功率半导体I‑V曲线测试电路。其技术方案包括控制单元和主回路功率开关,控制单元用于产生并输出三路具有预设时序逻辑的驱动信号;主回路功率开关其控制端连接至所述控制单元的第一驱动通道,...
  • 本发明公开了一种交流功率可调的IGBT模块试验系统及方法,属于电子器件试验技术领域。其系统包括第一IGBT半桥模块、第二IGBT半桥模块和交流支路;第一IGBT半桥模块和第二IGBT半桥模块的交流输出端通过交流支路连接;交流支路包括可调电阻...
  • 本发明公开了一种基于调制光反射的半导体电阻率无损检测方法与系统,涉及半导体电阻率检测技术领域,通过光反射调制信号精确精确测量探测光反射率的调制分量ΔR/R,从而计算出半导体电阻率,进而实现半导体电阻率的定量测量。本发明具有超高灵敏度,能够探...
  • 本发明涉及半导体器件测试技术领域,公开了一种模块密封充氮高温测试系统,包括密封充氮系统,内部形成密封空间,外部氮气通入到所述密封充氮系统内的密封空间内;产品加热测试系统,固定连接在所述密封充氮系统内,待测模块输送至所述产品加热测试系统上,当...
  • 本申请公开了一种功率半导体器件测试系统以及设备。本申请所述的一种功率半导体器件测试系统包括电源模块、功率模块、多电感模块、测量模块和控制模块。本申请通过引入多电感模块,使控制模块根据开关模式控制多电感模块选通目标电感与功率模块连接,能够形成...
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