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  • 一种干涉仪被配置为表征样品中的多个结构,包括高纵横比结构。干涉仪利用具有小于收集反射光的收集光学器件的数值孔径的数值孔径的照明光学器件照射样品,以便增加穿透结构深度的光量并提高信噪比。在测量期间,收集光学器件相对于样品的焦点定位是固定的,同...
  • 一种自主工作系统的控制方法、地图获取方法、自主机器人的控制方法以及自主工作系统,其中自主工作系统的控制方法包括:获取在目标区域上空采集的环境信息(S901),环境信息包括图像数据、位置数据;基于环境信息生成目标区域的地图(S902),其中,...
  • 在一些实施方案中,电子设备使用预先确定的路径和/或临场路径来进行导航和/或行进。在一些实施方案中,电子设备基于与电子设备的环境相关的特性、准则和/或因素来生成临场路径。在一些实施方案中,电子设备输出对要用于导航和/或行进的临场路径的指示。
  • 一种电感式传感器设备包括:至少一个管芯,该至少一个管芯安装在基板中或该基板上;重新分布层(RDL)区域,该重新分布层(RDL)区域在至少一个管芯之上形成并且包括多个RDL金属层;和至少一个电感线圈,该至少一个电感线圈在RDL区域中形成并且包...
  • 一种基于编码器的检流计系统被适配用于通过在编码器内放置结构元件和振动缩减阻尼材料来缩减检流计内的振动。所公开的系统和方法对基于编码器的检流计系统提供定位误差缩减以及改善的动态性能。
  • 本发明公开了一种系统和方法,其通过以下允许确定容器内流体的质量:首先振动容器的外表面,其中所述容器含有流体(诸如压缩流体、气体、液体、气体和液体的混合物或超临界流体)。然后,在所述容器的所述外表面处接收振动数据,并且然后将所述振动数据转换为...
  • 本发明涉及用于调节激光束设备(22)的激光束(14)的射束焦散(12)、特别是焦点位置(18)的调整方法(10),所述激光束设备具有光学装置(52),特别地用于产生极紫外辐射(EUV),所述调整方法包括以下方法步骤:a)在沿激光束传播方向(...
  • 本发明涉及一种用于固定温度传感器(200)的固定支架,特别是用于固定电机中的温度传感器(200)的固定支架,该固定支架包括:固定部件(3),其配置成固定到待感测目标,特别是固定到电机的汇流条;以及保持部件(5),其用于保持温度传感器(200...
  • 本发明的螺栓轴力监测用光纤测量装置(100)包括:用于测量被测定体的应变的光纤(23);对多组螺栓(20)和螺母(21)中的至少一组组合所涉及的螺母(21)的外周部分形状进行变更从而具有安装了光纤(23)的光纤安装螺母(21S)的光纤安装固...
  • 获得平衡修正信息的方法具有以下工序:获得不实施试切削而以特定转速进行旋转的状态时的第一振动数据的工序;获得不实施试切削而以比特定转速低的低频转速进行旋转的状态时的第二振动数据的工序;获得对第一修正位置实施了试切削后的旋转体以特定转速进行旋转...
  • 本发明提供一种试验装置,对从被试验元件发出的包含n(n为自然数)个彼此不同的波长的输入光的各波长的光功率进行检测,所述试验装置包括:传播部,可针对输入光切换彼此不同的n个以上的传播波长特性,且以n个传播波长特性将来自被试验元件的含有n个波长...
  • 一种取样装置,其包括对由输送装置输送的板体片从该板体片的下方进行支撑的支撑装置、以及用于使该支撑装置的位置沿高度变位的变位装置。该支撑装置包括具有柱状形状的连接部件、沿该连接部件的长边排列并具有柱状形状的多个支撑部件、以及设置于该连接部件的...
  • 一种用于导出熔融聚合物的粘度的装置(1),包括:管道(10),其具有入口(10I)和出口(10U)并且被熔融聚合物材料流穿过;传感器系统(13),其可操作地与在管道(10)中流动的熔融聚合物材料接触,以测量压力值并且如果需要,测量温度值,并...
  • 本公开内容涉及一种用于使用计算设备分析流式细胞术系统内的颗粒的方法。该方法包括:从流式细胞术系统接收流式细胞术数据;为至少一个事件分配概率值,概率值指示至少一个事件在限定的阈值规则内以将事件归类为属于聚类的概率;向用户显示概率值;允许用户调...
  • 本申请属于气体检测领域,提供一种气体检测方法、系统及终端设备,其中,方法包括:获取待测气体的测试光谱;基于测试光谱和预先获取的标准气体的标定光谱,通过最小二乘法获取相对浓度;基于相对浓度和预先获取的标准气体的标定浓度,获取待测气体的测试浓度...
  • 一种允许使用激光诱导击穿光谱(LIBS)或其他类似方法对液态金属或合金样品中的一种或多种高蒸气压元素进行可再现的、精确的和基本上与温度无关的定量测量的方法。该方法引入一种或多种选择性反应性物质和基本惰性的载气以改变液态金属或合金的采样点处和...
  • 本发明涉及一种不受基板背面反射影响的光学薄膜分析装置及使用其的分析方法,更具体地,涉及一种可以利用光学方法同时测量薄膜的厚度和作为光学常数的折射率和消光系数的不受基板背面反射影响的光学薄膜分析装置及使用其的分析方法,并且涉及一种通过解决基板...
  • 本公开提供了具有倾斜光路的缺陷缓解器系统和方法,所述系统和方法识别和/或缓解已安装的中空玻璃单元的电子装置中的一个或多个缺陷,其中所述缺陷位于所述间隔件的边缘或拐角处或位于所述间隔件下方。
  • 一种用于分析由封盖机装配到具有支撑环(SR)的容器(CO)上的盖(C)的系统(1),其中盖和支撑环具有相对于它们相应的螺纹元件的起点一致地定向的标记,该系统包括:输送机(2),其用于将装配有盖的一系列的容器(CO)单独地输送至使容器沿着预定...
  • 一种根据本发明的实施方式的电极接片检查设备可以包括:至少一个处理器;以及存储器,存储器用于存储由所述至少一个处理器执行的至少一个指令。在此,所述至少一个指令可以包括:用于从计算机断层扫描(CT)装置获得电池的CT数据的指令;从CT数据得到电...
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