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信息存储应用技术
  • 一种高精度定位的半导体磁芯加工方法及系统
    一种高精度定位的半导体磁芯加工方法及系统_陕西卓信隆新能源有限公司_202510670234.5
    本发明公开了一种高精度定位的半导体磁芯加工方法及系统，涉及磁芯加工相关领域，该方法包括：确定半导体封装基板和磁芯，半导体封装基板上包括第一凹槽；通过白光干涉仪采集第一凹槽的内表面形态特征和磁芯的外表面形态特征；通过对内表面形态特征和外表面形...
    2025-09-09
  • 一种RAID阵列存储测试系统
    一种RAID阵列存储测试系统_天津津航计算技术研究所_202211492926.8
    本发明涉及一种RAID阵列存储测试系统，属于存储阵列领域。本发明的存储测试系统以RAID阵列卡为核心，配合RAID芯片特点开发的高效RAID数据处理固件和Linux操作系统驱动程序，可实现连接多达40块硬盘在Linux平台下使用自研上位机软...
    2025-09-09
  • 检测台的三轴伺服滑台模组
    检测台的三轴伺服滑台模组_怀来九星电子科技有限公司_202422230853.6
    本实用新型涉及检测设备技术领域，具体为检测台的三轴伺服滑台模组，包括检测台和连接于检测台底部的滑台，滑台的底部安装有底座，底座的两端对称设置有端座。本实用新型通过在底座两端对称设置的端座，保证装置的结构稳定性；其中一组端座外壁上安装的伺服减...
    2025-09-09
  • 告警根因输出方法、装置、设备、介质和程序产品
    告警根因输出方法、装置、设备、介质和程序产品_中国建设银行股份有限公司_202210110134.3
    本公开提供了一种告警根因输出方法，可以应用于大数据技术领域。该告警根因输出方法包括：确定上游监测数据的告警规则；基于告警规则识别上游监测数据中的当前监测数据项相对于历史监测数据项的告警触发状态；以及根据当前监测数据项的告警触发状态在设备拓扑...
    2025-09-09
  • 微应用画像生成方法、装置、电子设备、存储介质及产品
    微应用画像生成方法、装置、电子设备、存储介质及产品_中国农业银行股份有限公司_202510705491.8
    本发明公开了一种微应用画像生成方法、装置、电子设备、存储介质及产品。响应于微应用画像生成事件被触发，分别采集微应用群中的每个微应用的运行数据；其中，所述微应用群中包含至少两个微应用；针对每个所述微应用的所述运行数据，从所述运行数据中提取预设...
    2025-09-09
  • 一种工业数据采集软件的性能测试方法及系统
    一种工业数据采集软件的性能测试方法及系统_国能信控技术股份有限公司_202510708401.0
    本发明提供了一种工业数据采集软件的性能测试方法及系统，包括：设定工业数据采集软件的性能第1性能指标‑第6性能指标，预先对工业数据采集软件进行监测，若连续五分钟不符合第5性能指标、第6性能指标，进行异常记录；对数据仿真模块和工业数据采集软件进...
    2025-09-09
  • 硬盘检测设备
    硬盘检测设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511064464.3
    本申请公开了一种硬盘检测设备，涉及自动化检测技术领域。该硬盘检测设备包括测试柜、第一托盘移动机构、第一硬盘移动机构、硬盘推送机构、第一物料仓、第一空盘仓和硬盘分离仓。第一托盘移动机构用于从第一物料仓取出装有硬盘的第一托盘，并将装有硬盘的第一...
    2025-09-09
  • 一种高强韧双网络水凝胶电解质及其制备方法和应用
    一种高强韧双网络水凝胶电解质及其制备方法和应用_上海工程技术大学_202510935141.0
    本发明公开了一种高强韧双网络水凝胶电解质及其制备方法和应用，该制备方法包括：卡拉胶溶解于去离子水中，磁力搅拌加热至完全溶解，冷却，加入ZnSO4溶液预交联，形成卡拉胶‑Zn2+溶液；AM和交联剂溶...
    2025-09-09
  • 一种TiO2@ATP作为填料原位聚合凝胶电解质、制备方法及应用
    一种TiO<Sub>2</Sub>@ATP作为填料原位聚合凝胶电解质、制备方法及应用_淮阴工学院_202510666375.X
    本发明涉及电解质制备技术领域，公开了一种TiO2@ATP作为填料原位聚合凝胶电解质、制备方法及应用，凝胶电解质的制备包括以下步骤：将TiO2与酸洗后的凹凸棒石进行充分研磨，煅烧，得到TiO
    2025-09-09
  • 一种下位机模拟系统及无需下位机支持的上位机调试方法
    一种下位机模拟系统及无需下位机支持的上位机调试方法_成都艾科斯伦医疗科技有限公司_202510744288.1
    一种下位机模拟系统及无需下位机支持的上位机调试方法，涉及计算机辅助设计技术领域，下位机模拟系统所采用的技术方案包括仿真模块、通讯模块、指令分发模块及响应生成模块；上位机调试方法包括上位机将需要下位机运行的指令发送给下位机模拟系统；下位机模拟...
    2025-09-09
  • 自动物品发放设备
    自动物品发放设备_深圳市创自技术有限公司_202510709794.7
    本发明公开了一种自动物品发放设备，涉及物品发放设备技术领域，其中，自动物品发放设备包括柜体、储物装置、取放装置、提取装置灯，所述储物装置包括多个第一储物盒和多个第二储物盒，多个所述第一储物盒间隔设于所述容纳空间内，多个第二储物盒间隔设于所述...
    2025-09-09
  • 一种存储器读写一致性测试方法及系统
    一种存储器读写一致性测试方法及系统_成都中航华测科技有限公司_202510716460.2
    本发明公开了一种存储器读写一致性测试方法及系统，涉及存储器测试技术领域。包括有：S1：进行串扰耦合建模：根据所述量子隧穿电流曲线和三维寄生参数矩阵，构建层间串扰耦合传递函数；S2：构建三维失效概率模型：获取平面耦合错误分布图，并根据所述层间...
    2025-09-09
  • 一种业务数据关系分析方法、装置、设备及存储介质
    一种业务数据关系分析方法、装置、设备及存储介质_中国农业银行股份有限公司_202510670343.7
    本发明公开了一种业务数据关系分析方法、装置、设备及存储介质。包括：获取系统数据流量，对系统数据流量进行预处理以确定接口请求数据；确定接口请求数据中的定位符，并基于定位符构建字典树，根据字典树确定各交易相关系统及其对应的接口；对各交易相关系统...
    2025-09-09
  • 一种基于智能测试框架实现全链路质量闭环管理的方法
    一种基于智能测试框架实现全链路质量闭环管理的方法_鱼快创领智能科技(南京)有限公司_202510650526.2
    本发明提供一种基于智能测试框架实现全链路质量闭环管理的方法，所述智能测试框架采用分层架构设计，包括CLI层、Loader层、Runner层和Report层；所述基于智能测试框架实现全链路质量闭环管理的方法包括以下步骤：S1：解析命令行参数并...
    2025-09-09
  • 能源量表的壳体
    能源量表的壳体_群光电能科技股份有限公司_202410292558.5
    一种能源量表的壳体包含本体、盖体、滑槽结构及滑块。本体具有第一表面及大致垂直于第一表面的立壁。盖体具有侧壁。滑槽结构包含滑槽及环绕滑槽的环壁。环壁设有限位件。滑槽结构设置于立壁及侧壁中的一者上，而滑块设置于立壁及侧壁中的另一者上。滑块可滑动...
    2025-09-09
  • 一种大型轴、孔类零件弯曲度测量方法
    一种大型轴、孔类零件弯曲度测量方法_东南大学_202211033302.X
    本发明公开了一种大型轴、孔类零件偏移量测量方法，该方法通过激光头、激光固定座、定位孔板、成像屏幕、摄像头及图像分析计算机等装置，利用激光光路的直线性，将因轴、孔弯曲所产生的中心偏移位移反应为成像膜激光距参考点的位移偏移，利用摄像头对光斑进行...
    2025-09-09
  • 单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序
    单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序_德州仪器公司_202210483323.5
    本发明涉及一种单次可编程存储器架构中的自锁存感测时序。可编程存储器(19)包含自锁存读取数据路径。感测放大器(28)感测位线处的电压电平，所述位线传送在其相关联的列中的所选择的存储器单元(32)的数据状态。耦合到所述感测放大器(28)的输出...
    2025-09-09
  • 一种接近传感器外壳
    一种接近传感器外壳_珠海市椿田机械科技有限公司_202422540278.X
    本实用新型公开并提供了一种结构简单、加工方便、安装快捷、密封性良好的接近传感器外壳，本实用新型为圆柱体结构，其内部设置有深孔，所述深孔底端内部与电磁感应器限位配合，所述电磁感应器与所述油缸内的活塞推杆配合，所述传感器外壳远离感应面的一端内设...
    2025-09-09
  • 非易失性存储单元数据读取方法及存内计算数据读取方法
    非易失性存储单元数据读取方法及存内计算数据读取方法_北京智芯微电子科技有限公司_202210177188.1
    本申请实施例提供一种非易失性存储单元数据读取方法及存内计算数据读取方法，属于半导体技术领域。方法包括：响应于第一数据读取指令，向非易失性存储器件与位线连接的一端施加第一电压，并向三端开关元件与源线连接的一端施加第二电压，第二电压低于第一电压...
    2025-09-09
  • 光学成像像斑二维位置测量的精度极限优化方法、装置和设备
    光学成像像斑二维位置测量的精度极限优化方法、装置和设备_清华大学_202510853986.5
    本申请提供了一种光学成像像斑二维位置测量的精度极限优化方法、装置和设备，涉及光学成像式精密测量技术领域，旨在实现小尺寸PSF系统的光学成像像斑二维位置测量精度极限分析。该方法包括：根据小尺寸点扩散函数PSF光学系统成像像斑的能量集中分布特征...
    2025-09-09
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