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最新专利技术
  • 一种大型通风机电机试验装置及其使用方法
    一种大型通风机电机试验装置及其使用方法_中船黄埔文冲船舶有限公司_202511188251.1
    本发明实施例提供了一种大型通风机电机试验装置及其使用方法，所述装置包括若干支架，所述支架按环形阵列布设在通风机电机周侧，支架呈L型，其立杆通过固定螺杆和固定螺母以可拆卸的方式固定在通风机电机上，其横杆作为支撑部使用，若干支架的横杆底端位于同...
    2026-02-05
  • 一种背对背电容器组关合和开断试验电路及其试验方法
    一种背对背电容器组关合和开断试验电路及其试验方法_山东省产品质量检验研究院_202511734861.7
    本发明属于关合开断试验技术领域，具体涉及一种背对背电容器组关合和开断试验电路及其试验方法，包括直流充电单元、关合涌流单元和容性电流开断单元；其中，所述直流充电单元通过充电隔离开关QS连接所述关合涌流单元，所述关合涌流单元内设试品TO，所述容...
    2026-02-05
  • 中低压直流断路器在线检测方法
    中低压直流断路器在线检测方法_浙江恩帕尔电气科技有限公司_202511727679.9
    本发明公开了中低压直流断路器在线检测方法，涉及电力系统保护控制技术领域，包括以下步骤：S001，在直流断路器执行开断操作期间，构建辐射回波谱分布模型，通过采集电流突降率与断口电压爬升速率计算干扰强度预估值，提取干扰能量集中的扰动频段并生成特...
    2026-02-05
  • 基于动态应力的开关一体化稳定试验系统及方法
    基于动态应力的开关一体化稳定试验系统及方法_国网湖北省电力有限公司荆州供电公司_202511540322.X
    本发明涉及设备测试系统技术领域，具体涉及基于动态应力的开关一体化稳定试验系统及方法，包括矩阵测试单元，构建测试矩阵，同步控制测试矩阵中的目标开关进行合分闸操作循环；数据分析单元，基于合分闸操作循环的完成情况，结合目标开关合分闸操作循环中负载...
    2026-02-05
  • 一种绝缘封闭组合电器带电检验装置
    一种绝缘封闭组合电器带电检验装置_国网宁夏电力有限公司银川供电公司_202511400249.6
    本发明提供一种绝缘封闭组合电器带电检验装置，属于检验装置技术领域，装置包括：行进底座，行进底座设置于安装地面上；位置调节件，位置调节件安装于行进底座上；环形安装套，环形安装套安装于位置调节件的输出端，环形安装套套设于绝缘封闭组合电器的外侧壁...
    2026-02-05
  • 按键状态检测方法、按键状态检测模块和家用电器
    按键状态检测方法、按键状态检测模块和家用电器_浙江苏泊尔家电制造有限公司_202511357570.0
    本申请公开了一种按键状态检测方法、按键状态检测模块和家用电器。当按键被按下时，按键的第一触点和第二触点导通。按键状态检测模块包括控制芯片、第一二极管和第二二极管。第一二极管的正极连接按键的第一触点和控制芯片的AD采样管脚，负极连接直流电源正...
    2026-02-05
  • 一种高频下有载分接开关油隙绝缘特性测量方法
    一种高频下有载分接开关油隙绝缘特性测量方法_中国电力科学研究院有限公司_202511312527.2
    本发明公开了属于电气设备监测与故障诊断技术领域的一种高频下有载分接开关油隙绝缘特性测量方法。包括以下步骤：在高压绕组与中性点之间或网侧绕组与中性点之间设置有载分接开关；搭建特高频监测系统，进行有载分接开关切换放电监测与触头间隙绝缘油局部放电...
    2026-02-05
  • 一种10KV柱上开关性能智能检测仪及检测方法
    一种10KV柱上开关性能智能检测仪及检测方法_国网山东省电力公司肥城市供电公司_202511298815.7
    本发明公开了一种10KV柱上开关性能智能检测仪及检测方法，涉及柱上开关性能检测设备技术领域，包括与柱上开关连接的检测仪本体；柱上开关包括指针和铭牌；指针通过转轴转动连接于柱上开关；柱上开关上设置有感应座，感应座和检测仪本体之间电性连接；感应...
    2026-02-05
  • 户外高压隔离开关的检测方法、装置、设备及存储介质
    户外高压隔离开关的检测方法、装置、设备及存储介质_云南电网有限责任公司电力科学研究院_202511289783.4
    本申请提供了一种户外高压隔离开关的检测方法、装置、设备及存储介质，户外高压隔离开关的检测方法包括：建立用于模拟隔离开关运行状态的仿真模型；基于仿真模型生成多组模拟运行数据并进行计算，获得与模拟运行数据对应的仿真输出结果；将模拟运行数据与仿真...
    2026-02-05
  • 光收发驱动芯片直流失调补偿电路的测试方法、系统和介质
    光收发驱动芯片直流失调补偿电路的测试方法、系统和介质_垣芯半导体(上海)有限公司_202511737992.0
    本发明公开了光收发驱动芯片直流失调补偿电路的测试方法、系统和介质，涉及光电集成电路测试技术领域，包括以下步骤：对光收发驱动芯片的测试波形与偏置轨迹进行时间对齐，提取节拍间相位错位量与幅值突跳量，并将连续变化结果映射为时序冲突观测带，用于识别...
    2026-02-05
  • 一种自带管脚检测的芯片电路及检测方法
    一种自带管脚检测的芯片电路及检测方法_成都明夷电子科技股份有限公司_202511734750.6
    本发明涉及芯片检测技术领域，具体地说，涉及一种自带管脚检测的芯片电路及检测方法；通过在原芯片的每一个输出管脚额外增加一个由数字电路控制的第一开关，经过测试点后，分别连接由数字电路控制的第二开关和第三开关，第二开关连接至最终的芯片输出管脚，第...
    2026-02-05
  • 一种加热老化测试工装
    一种加热老化测试工装_上海芯诣电子科技有限公司_202511726688.6
    本发明涉及晶圆测试设备技术领域，具体涉及一种加热老化测试工装，包括置物架，还包括晶圆夹具，放置在置物架上；检测组件，包括位于置物架一侧的多个弹性探针以及一个加热盘；热风导流组件，包括设置在加热盘一侧的通气公头，导热罩远离通气公头一侧设有导风...
    2026-02-05
  • 一种后道工艺可靠性的可寻址测试电路及测试方法
    一种后道工艺可靠性的可寻址测试电路及测试方法_上海交通大学_202511577615.5
    本发明涉及一种后道工艺可靠性的可寻址测试电路及测试方法，该电路包括：寻址电路，用于接收二进制地址信号并进行译码，生成多个选通信号；开关电路，与所述寻址电路连接，被配置为响应于所述选通信号，将输入测试信号选传输到对应的输出线；待测阵列，包括多...
    2026-02-05
  • PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质
    PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质_广州广合科技股份有限公司_202511502497.1
    本发明公开了PCB低阻测试方法、装置、电子设备和存储介质，将待测试电路网络中各导体的制程尺寸偏差值代入电阻定律公式计算电阻偏差值作为各导体的补偿因子，采用补偿因子对低阻测试法中的各导体的理论电阻值补偿，获得待测试电路网络的标准电阻值范围，基...
    2026-02-05
  • 探针卡的测试电路的确定方法及探针卡测试系统
    探针卡的测试电路的确定方法及探针卡测试系统_上海道格特科技有限公司_202511466141.7
    本发明公开了一种探针卡的测试电路的确定方法及探针卡测试系统，该方法包括基于待测电路板的待测电路区域确定测试电路；基于测试电路制造柔性电路板；将柔性电路板与待测电路区域电连接，形成探针卡电路板；当包括探针卡电路板的探针卡放置于探针卡测试设备的...
    2026-02-05
  • 一种具有智能定位功能的PCB板用检测设备
    一种具有智能定位功能的PCB板用检测设备_及强(上海)智能科技有限公司_202511464683.0
    本发明公开了一种具有智能定位功能的PCB板用检测设备，涉及电路板检测技术领域，包括机箱、驱动单元、清洁单元、定位单元与保持单元，其中机箱用于安装固定驱动单元、清洁单元、定位单元与保持单元，驱动单元用于提供动力源，清洁单元用于探针每次检测前的...
    2026-02-05
  • 一种基板布线开路缺陷定位方法、设备及介质
    一种基板布线开路缺陷定位方法、设备及介质_苏州通富超威半导体有限公司_202511445443.6
    本公开实施例提供了一种基板布线开路缺陷定位方法、设备及介质，方法包括：当确定坏品的目标信号线存在开路缺陷时，利用时域反射仪分别对坏品的目标信号线和对应的好品的目标信号线的同一测试端进行测试，得到坏品的目标信号线走线截止对应的第一反射时间以及...
    2026-02-05
  • 测试方法、装置、电子设备及可读介质
    测试方法、装置、电子设备及可读介质_龙芯中科技术股份有限公司_202511164162.3
    本发明实施例提供一种测试方法、装置、电子设备及可读介质，涉及集成电路技术领域，该方法中，在当前测试流程中，基于至少两个目标测试文件各自携带的裸片标识，识别各裸片的目标测试文件。对于任一裸片，获取裸片的目标测试文件携带的关系配置信息。基于关系...
    2026-02-05
  • 晶圆的测试方法
    晶圆的测试方法_华润润安科技(重庆)有限公司_202410818563.5
    本申请提供了一种晶圆的测试方法。晶圆包括多个阵列排布的芯片；芯片包括第一电极、栅极和第二电极；各芯片的第二电极相连；芯片正向导通时，电流从第一电极流向第二电极。测试方法包括：确定晶圆中测试芯片及辅助芯片的位置；向测试芯片的栅极施加开启电压使...
    2026-02-05
  • 一种检测系统级芯片的方法以及系统级芯片
    一种检测系统级芯片的方法以及系统级芯片_华为技术有限公司_202410807392.6
    本申请实施例公开一种检测系统级芯片的方法以及系统级芯片，能够根据芯片子系统的老化状态调整自检策略的等级，以提高检测系统级芯片的准确性。该方法包括：使用第一老化传感器获取第一芯片子系统的老化系数；确定第一芯片子系统的老化系数对应的第一失效率，...
    2026-02-05
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