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最新专利技术
  • 一种基于深度学习的高压设备绝缘性能测试方法
    一种基于深度学习的高压设备绝缘性能测试方法_国能大渡河检修安装有限公司_202610004977.3
    本发明提供了一种基于深度学习的高压设备绝缘性能测试方法，属于高压电气设备检测与深度学习交叉技术领域，方法包括：S1：测试数据采集；S2：数据预处理；S3：特征提取；S4：特征标准化与标签构建；S5：深度学习模型训练与优化；S6：实际绝缘性能...
    2026-05-01
  • 一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法
    一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法_苏州联讯仪器股份有限公司_202511562197.2
    本发明涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法。该半导体测试设备包括光纤对位装置、第一视觉组件以及依次向上设置的第一驱动装置、载物台、第二驱动装置、第二视觉组件和探针卡；第一驱动装置与载物台之间设置有容纳...
    2026-05-01
  • 一种测试设备的监控方法、装置、设备、介质及产品
    一种测试设备的监控方法、装置、设备、介质及产品_上海共进微电子技术有限公司_202511611082.8
    本发明公开了一种测试设备的监控方法、装置、设备、介质及产品，该方法包括：从各测试站点获取各测试数据；基于测试数据，通过在预设时间间隔内的滚动窗口计算每个测试站点的过程能力指数和标准偏差值；将过程能力指数和标准偏差值分别与匹配的预设阈值进行比...
    2026-05-01
  • 半导体器件的测试方法及测试装置、集成半导体器件
    半导体器件的测试方法及测试装置、集成半导体器件_英诺赛科(苏州)半导体有限公司_202511623634.7
    本发明公开了一种半导体器件的测试方法及测试装置、集成半导体器件。所述半导体器件包括衬底和与所述衬底连接的衬底电极；所述测试方法包括：向所述衬底互相连接的至少两个所述半导体器件中的一个所述衬底电极输入测试信号，并采集其它所述半导体器件的衬底电...
    2026-05-01
  • 快速鉴别碳化硅功率晶体管动态特性总剂量辐射损伤方法
    快速鉴别碳化硅功率晶体管动态特性总剂量辐射损伤方法_中国科学院新疆理化技术研究所_202511698203.7
    本发明涉及一种快速鉴别碳化硅功率晶体管动态特性总剂量辐射损伤方法。该方法涉及的装置由静电试验平台、样品驱动板、驱动电源、脉冲发生器、高压电源、示波器和计算机组成。利用示波器上的高压探头准确快速测量碳化硅功率晶体管的漏源电压、漏源电流、栅源电...
    2026-05-01
  • 一种IGCT器件及换流阀可靠性试验方法、装置及存储介质
    一种IGCT器件及换流阀可靠性试验方法、装置及存储介质_国网河南省电力公司电力科学研究院_202511748839.8
    本发明提供了一种IGCT器件及换流阀可靠性试验方法、装置及存储介质，属于换流阀试验技术领域。该方法包括：在IGCT器件出厂阶段，基于IGCT器件的芯片结构与钼片压接工艺，开展IGCT器件的电压耐受能力与温度循环稳定性试验，获取器件级试验结果...
    2026-05-01
  • 寿命模型生成方法、系统及存储介质、电子设备
    寿命模型生成方法、系统及存储介质、电子设备_中国第一汽车股份有限公司_202511775127.5
    本发明公开了一种寿命模型生成方法、系统及存储介质、电子设备，涉及寿命模型技术领域。方法包括：从多个预设运行参数组中选取目标参数组；根据目标参数组控制为根据功率模块得到的待测电路运行，直至待测电路中出现失效功率模块，并获取待测电路的第一状态信...
    2026-05-01
  • 半桥测试电路、系统
    半桥测试电路、系统_中国第一汽车股份有限公司_202511781198.6
    本发明公开了一种半桥测试电路、系统，涉及半桥技术领域。电路包括：第一电源子电路，第一端连接待测半桥的第一端，第二端连接待测半桥的第二端，用于向待测半桥的第一端输入电流；检测子电路，第一端连接待测半桥中上桥臂的第一端，第二端连接上桥臂的第二端...
    2026-05-01
  • 用于GaN功率器件的在线栅极漏电流监测方法及系统
    用于GaN功率器件的在线栅极漏电流监测方法及系统_湖南大学_202512035399.8
    本申请涉及宽禁带半导体功率器件的在线健康监测技术领域，公开了一种用于GaN功率器件的在线栅极漏电流监测方法及系统，该方法包括：提取平均栅极驱动电流，该平均栅极驱动电流为一个完整的开关周期内，流入或流出GaN功率器件栅极的瞬时电流的平均值；基...
    2026-05-01
  • 用于功率半导体器件短路测试的驱动方法和装置
    用于功率半导体器件短路测试的驱动方法和装置_苏州中瑞宏芯半导体有限公司_202610003702.8
    本公开提供了一种用于功率半导体器件短路测试的驱动方法和装置，属于半导体测试技术领域，该驱动装置包括隔离电源电路；与隔离电源电路的副边电连接的驱动电路，该驱动电路被配置成基于外部控制信号触发待测器件执行短路测试；该隔离电源电路，被配置为：基于...
    2026-05-01
  • 一种GaN器件热点定位与结温定量测量方法和系统
    一种GaN器件热点定位与结温定量测量方法和系统_重庆联晶通半导体科技有限公司_202610007752.3
    本发明涉及半导体器件测试领域，具体是一种GaN器件热点定位与结温定量测量方法和系统。所述方法包括：获取工作状态下目标GaN器件表面的红外热像数据与拉曼光谱数据；基于拉曼光谱数据，计算获得微区拉曼温度数据；基于微区拉曼温度数据对红外热像数据进...
    2026-05-01
  • 一种基于飞秒脉冲激光调制GaN基微发光二极管的测试系统
    一种基于飞秒脉冲激光调制GaN基微发光二极管的测试系统_苏州大学_202610003385.X
    本申请公开一种基于飞秒脉冲激光调制GaN基微发光二极管的测试系统，测试系统包括：飞秒脉冲激光激发模块、第一检测光路、待测GaN基微发光二极管、光电压检测及偏置控制模块、光致发光检测模块和控制模块，控制模块被配置为：控制飞秒脉冲激光激发模块的...
    2026-05-01
  • 用于异常检测的智能电子开关、芯片、芯片产品和汽车
    用于异常检测的智能电子开关、芯片、芯片产品和汽车_无锡市稳先微电子有限公司_202510435958.1
    本申请实施例提供一种用于异常检测的智能电子开关、芯片、芯片产品和汽车，其中，在该智能电子开关中，漏电检测电路连接在驱动电路和功率开关的栅极端之间，且漏电检测电路包括并联连接的第一开关和漏电检测电阻，这样在控制功率开关开启导通时第一开关处于开...
    2026-05-01
  • 一种在脱机状态下优化DEVICE MAP的方法
    一种在脱机状态下优化DEVICE MAP的方法_北京确安科技股份有限公司_202511370245.8
    本发明公开一种在脱机状态下优化DEVICE MAP的方法，该方法包括：在脱机状态下获取晶圆的测试结果MAP文件并转换为表格文件；将指定BIN值的DIE标记为预设失效标识，将其余需测试的DIE标记为预设测试标识，并将表格文件中的非DIE区域标...
    2026-05-01
  • 扩展芯片测试分选值的方法及系统
    扩展芯片测试分选值的方法及系统_上海华虹宏力半导体制造有限公司_202511511908.3
    本发明提供一种扩展芯片测试分选值的方法及系统。该方法包括：由测试程序生成包含结果分选值的测试结果；根据结果分选值，生成编码分选信息及控制信号；利用控制信号控制设置在测试机与探针台之间的接口硬件，切换通信总线的传输模式，并将编码分选信息通过通...
    2026-05-01
  • 一种模块化封装测试装置及方法
    一种模块化封装测试装置及方法_江苏巨利科技有限公司_202511546521.1
    本发明公开了一种模块化封装测试装置及方法，包括测试支架、功能模块以及连接组件；所述测试支架为框架式结构，内置主控单元与电源模块，所述主控单元用于接收并处理测试数据，所述电源模块为整个装置供电，且所述测试支架的框架上设有模块安装位；所述功能模...
    2026-05-01
  • 系统级芯片的测试方法以及系统
    系统级芯片的测试方法以及系统_无锡中微腾芯电子有限公司_202511566289.8
    本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种系统级芯片的测试方法以及测试系统。该系统包括主控板、上位机、AWG驱动模块、测试信号输出判定模块、测试信号采集ADC模块以及测试板；主控板分别于上位机、AWG驱动模块、测试信号输出判定模块、测试信...
    2026-05-01
  • LED显示模组控制芯片的检测方法及装置
    LED显示模组控制芯片的检测方法及装置_深圳市东陆科技有限公司_202511610698.3
    本发明涉及芯片检测技术领域，公开了一种LED显示模组控制芯片的检测方法及装置。方法包括：对LED显示模组中控制芯片内置的时间控制器进行初始化配置，得到时序控制参数；通过GPIO端口阵列，基于时序控制参数对电容检测电极阵列进行限流充电，监测充...
    2026-05-01
  • 晶圆级多端口射频探针卡及测试方法
    晶圆级多端口射频探针卡及测试方法_常州市晶讯聚震科技有限公司_202511631791.2
    本发明提供了一种晶圆级多端口射频探针卡及测试方法，涉及半导体晶圆级测试与探针卡技术领域，用于对晶圆上多端口射频器件并行测试，包括PCB板，布设有多条射频传输线，PCB板嵌设在支撑框架内，通过环氧树脂结构胶与支撑框架固定连接形成刚性复合体结构...
    2026-05-01
  • 一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统
    一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统_苏州联讯仪器股份有限公司_202511652101.1
    本发明提供了一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统，涉及芯片测试技术领域。本发明先控制第一电性能检测装置对第一测试载台上的第一待测芯片进行电性能测试，然后在第一待测芯片完成电性能测试后，控制第一电性能检测装置对第二测试载台上的第二待测芯片...
    2026-05-01
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