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最新专利技术
  • 一种变压器绝缘油老化测试装置
    一种变压器绝缘油老化测试装置_深圳市铭昱达电子有限公司_202511602654.6
    本发明涉及绝缘油检测的领域，涉及一种变压器绝缘油老化测试装置，包括测试箱体、油杯、两个电极、注油管道、排油管道以及调节机构，油杯的内顶面上开设有回型收纳槽，调节机构包括相对放置在回型收纳槽中的两个C型调节板，两个C型调节板的外圈均能够与油杯...
    2026-05-03
  • 风电变流器IGBT健康状态智能监测方法及系统
    风电变流器IGBT健康状态智能监测方法及系统_华能会理风力发电有限公司_202511170542.8
    本申请公开了一种风电变流器IGBT健康状态智能监测方法及系统，其通过利用设备健康运行初期的在线数据，构建并持续自适应一个非线性回归基准模型，以准刻画健康状态下导通压降与导通电流、结温之间的内在关联，接着通过将实时工况输入该基准模型，预测出理...
    2026-05-03
  • 柔直换流阀功率模块的通流特性参数确定方法、装置、设备、介质和产品
    柔直换流阀功率模块的通流特性参数确定方法、装置、设备、介质和产品_广东电网有限责任公司广州供电局_202511291550.8
    本申请涉及一种柔直换流阀功率模块的通流特性参数确定方法、装置、设备、介质和产品。基于功率模块的通流特性测试装置，获取不同环境测试条件下功率模块的电流电压波形，针对各环境测试条件，基于环境测试条件下的电流电压波形确定功率模块的通流特性参数，基...
    2026-05-03
  • 混合半导体器件的功率循环测试电路、方法及相关装置
    混合半导体器件的功率循环测试电路、方法及相关装置_合肥工业大学_202511397708.X
    本申请实施例公开了一种混合半导体器件的功率循环测试电路、方法及相关装置，该半导体混合器件的功率循环测试包括直流电源、测试开关、测量电源、续流开关和至少两条并联的测试支路，不同所述测试支路包括的待测半导体器件互不相同，其中，所述直流电源通过所...
    2026-05-03
  • 一种通用型巴条光电性能测试平台
    一种通用型巴条光电性能测试平台_西安镭特电子科技有限公司_202511399788.2
    本发明公开了一种通用型巴条光电性能测试平台，属于半导体测试设备技术领域，包括主体平台，以及设置在主体平台内的负极模块、正极模块和测试模块；负极模块包括光学六维调整架以及从下至上依次固定连接的热沉、陶瓷板和负极，通过光学六维调整架固定于主体平...
    2026-05-03
  • 一种功率器件测试系统及方法
    一种功率器件测试系统及方法_南京南瑞继保电气有限公司_202511413598.1
    本申请公开了一种功率器件测试系统及方法，属于功率器件测试技术领域，系统包括：第一测试单元、电抗器和第二测试单元，第一测试单元通过电抗器连接第二测试单元；第一测试单元和第二测试单元均包括至少一个具有直流电容的全桥模块，在电容负基准运行模态，全...
    2026-05-03
  • 晶闸管、全桥子模块换流阀融合多级测试装置及测试方法
    晶闸管、全桥子模块换流阀融合多级测试装置及测试方法_国网江苏省电力有限公司超高压分公司_202511419366.7
    本发明公开了一种晶闸管、全桥子模块换流阀融合多级测试装置及测试方法，包括人机交互模块、CPU控制模块、通讯转换模块、输出控制模块、晶闸管阻抗测试模块、工频隔离变压器、高压整流模块和输出切换模块；人机交互模块将测试数据传输至CPU控制模块，后...
    2026-05-03
  • 一种基于碳化硅MOSFET栅压温度盲点的瞬态温升测量方法
    一种基于碳化硅MOSFET栅压温度盲点的瞬态温升测量方法_北京工业大学_202511534021.6
    本发明公开了一种基于碳化硅MOSFET栅压温度盲点的瞬态温升测量方法。首先，通过测量不同温度下MOS器件的转移特性曲线，根据漏源电流与温度的关系确定器件的栅压温度盲点。其次，基于MOS器件输出特性曲线函数，建立栅压温度盲点下无自升温影响的曲...
    2026-05-03
  • 一种基于多参数融合BP神经网络的IGBT实时结温预测方法及系统
    一种基于多参数融合BP神经网络的IGBT实时结温预测方法及系统_国网福建省电力有限公司超高压分公司_202511597052.6
    本发明提供了一种基于多参数融合BP神经网络的IGBT实时结温预测方法及系统，首先通过饱和通态集‑射极电压VCE测量模块，在恒定集电极电流(Ic)、最低壳温(Tcmin)条件下采集IGBT开通瞬间的VCE数据，结合加速老化实验构建退化先验数据...
    2026-05-03
  • 一种多站点半导体器件测试设备的测试方法、设备和介质
    一种多站点半导体器件测试设备的测试方法、设备和介质_上海共进微电子技术有限公司_202511633819.6
    本发明公开了一种多站点半导体器件测试设备的测试方法、设备和介质，该方法包括：从所述测试系统中确定出至少一个异常测试站点；根据所述测试系统的设备配置数据，确定多种可选测试模式；使用预先训练的机器学习模型，预测各可选测试模式对所述异常测试站点的...
    2026-05-03
  • 基于相似性原理的真空二极管缩放测试方法及装置
    基于相似性原理的真空二极管缩放测试方法及装置_清华大学_202511723174.5
    本申请涉及器件性能测试技术领域，特别涉及一种基于相似性原理的真空二极管缩放测试方法及装置，其中，方法包括：确定待测的真空二极管原型机的固有参数及目标测试工况，根据固有参数及目标测试工况生成原型机的测试控制参数集；基于原型机的测试控制参数集，...
    2026-05-03
  • 一种驱动电压可调测试电路和设备
    一种驱动电压可调测试电路和设备_重庆云潼科技有限公司_202511763485.4
    本申请公开了一种驱动电压可调测试电路和设备，应用于集成电路领域。在驱动电压可调测试电路中，隔离电源电路、可调电压电路和测试驱动电路依次连接，并且与待测试电路相连。其隔离电源电路为第一电压源和可调电压电路建立电气隔离，提升电磁兼容性以及保障人...
    2026-05-03
  • 基于深能级瞬态谱的β-Ga2O3器件均一性检测方法
    基于深能级瞬态谱的β-Ga2O3器件均一性检测方法_哈尔滨工业大学_202511795889.1
    本发明提供一种基于深能级瞬态谱的β‑Ga22O33器件均一性检测方法、系统、设备及存储介质，涉及半导体器件技术领域，该方法包括：从同一批次的β‑Ga22O33器件中获取多个待检测器件；对每个待检测器件进行深能级瞬态谱测试，得到每个待检测器件...
    2026-05-03
  • 一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法
    一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法_柯泰光芯(常州)测试技术有限公司_202511851226.7
    本发明公开了一种VCSEL晶圆的窄脉冲并行测试方法，包括信号源、同步分路器、脉冲切换电路、测试仪以及N个驱动器，所述信号源提供精确脉冲信号，通过所述同步分路器分别给所述脉冲切换电路和所述测试仪分配两组同步的脉冲信号；本发明充分利用了纳秒测试...
    2026-05-03
  • 一种短路测试电路及测试装置
    一种短路测试电路及测试装置_深圳平湖实验室_202511854553.8
    本申请提供了一种短路测试电路及测试装置，涉及半导体测试的技术领域，该短路测试电路包括驱动电路、测试控制电路、第一负载电路、第二负载电路和切换电路。其中，测试控制电路的第一受控端和第一负载电路的第一端均用于接收测试电压；切换电路的第一端与测试...
    2026-05-03
  • 一种基于SiC的MOS结构晶体管性能检测方法及系统
    一种基于SiC的MOS结构晶体管性能检测方法及系统_深圳市美浦森半导体有限公司_202511854745.9
    本发明涉及晶体管性能检测技术领域，一种基于SiC的MOS结构晶体管性能检测方法及系统，包括：利用晶体管性能检测单元及热成像单元对测试晶体管进行性能检测，得到测试晶体管性能参数组集及晶体管热分布图像序集，基于晶体管热分布图像序集及测试晶体管性...
    2026-05-03
  • 一种LED外延片的光电参数测试方法
    一种LED外延片的光电参数测试方法_厦门银科启瑞半导体科技有限公司_202511871239.0
    本发明公开了一种LED外延片的光电参数测试方法，涉及光电测试技术领域，采用微纳分级花椰菜状织构的掺硼纳米晶金刚石复合探针接触LED外延片进行电学参数测试；探针的制备方法包括以下步骤：基体锐化处理、梯度缓冲层沉积与碳注入锁定、静电吸附植种、脉...
    2026-05-03
  • 一种芯片封装测试一体装置及测试方法
    一种芯片封装测试一体装置及测试方法_六安亿芯微电子有限公司_202511369682.8
    本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片封装测试一体装置及测试方法，包括测试台，所述测试台的上表面两端四角位置均固定安装有立柱，位于测试台同一端设置的两根立柱上端共同固定安装有电动滑轨，两组电动滑轨之间滑动安装有两个对称设置的第一安装架...
    2026-05-03
  • 一种激光器芯片加速老化测试方法
    一种激光器芯片加速老化测试方法_桂林雷光科技有限公司_202511370618.1
    本发明涉及老化测试技术领域，公开了一种激光器芯片加速老化测试方法，其中，该方法包括：对加速老化环境下的激光器芯片进行光功率、阈值电流、斜率效率、出射波长的同步测量，得到时序数据矩阵；对时序数据矩阵进行双稀疏字典分解，得到正常特征系数和退化特...
    2026-05-03
  • 一种用于多通道LED驱动芯片的开短路检测电路及方法
    一种用于多通道LED驱动芯片的开短路检测电路及方法_安徽烁轩半导体有限公司_202511377896.X
    本发明公开了一种用于多通道LED驱动芯片的开短路检测电路及方法，属于LED检测技术领域，该开短路检测电路包括电压选择单元、开路比较器、短路比较器和逻辑电路。电压选择单元采集所有通道的LED驱动电路中的NMOS列管的漏极电压和源极电压；逻辑电...
    2026-05-03
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