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一种电弧试验装置及电弧试验方法
本申请公开了一种电弧试验装置及电弧试验方法, 包括试验样机、吹气机构和供气系统;试验样机具有封闭腔体, 且封闭腔体内设置有静触头和动触头, 动触头可朝向靠近或远离静触头的方向移动;吹气机构包括喷口和导气管, 喷口位于封闭腔体内, 且静触头位...
一种基于多模态融合的无人机电力巡检方法及系统
本发明涉及一种基于多模态融合的无人机电力巡检方法及系统, 属于局部放电检测领域。所述系统, 包括电力沿线气象站、四旋翼无人机、远程云服务器和手机移动终端;电力沿线气象站用于采集环境气象信息, 四旋翼无人机用于采集UHF信号与红外温度信号, ...
一种多模态传感的局部放电监测装置、方法
本发明提出了一种多模态传感的局部放电监测装置、方法, 该装置中多维传感采集模块从不同物理维度捕捉局部放电产生的信号;所述信号调理与数据转换模块对信号进行时分复用, 转换为多维传感采集数据;所述本地处理模块通过多维数据模型对多维传感采集数据提...
一种变频谐振试验电路
本发明公开了一种变频谐振试验电路, 包括若干运放、若干反相器、若干三极管、若干电阻、电容, 所述若干运放中的运放U1同相端接运放U6同相端、电容C1一端、电阻R4一端、电阻R5一端、1_2端, 反相端接运放U7输出端、电阻R7一端、电阻R1...
测试电路、测试系统及测试方法
一种测试电路、测试系统及测试方法, 测试电路包括:多个并联的测试单元;其中, 测试单元包括:测试结构、以及与测试结构串联的控制结构, 控制结构用于在测试结构短路时, 使对应的测试单元构成断路。本发明有利于缩短测试时间, 提高测试效率。
测试晶体管的方法
本申请涉及一种测试晶体管的方法。一种方法可包括:闭合电耦合到晶体管的栅极的复位开关, 使得该栅极处于第一电压, 从而对该栅极进行充电, 其中该晶体管包括该栅极和源极, 并且该源极电耦合到第一电压源;将该晶体管的该栅极置于高阻抗状态;断开复位...
一种基于双传感器卡尔曼滤波加权平均算法的碳化硅功率器件结温在线精确提取方法
本发明公开了一种基于双传感器卡尔曼滤波加权平均算法的碳化硅功率器件结温在线精确提取方法, 所述方法如下:步骤一、功率器件的损耗模型接收来自逆变器的相电流、直流母线电压、占空比, 并从芯片的数据手册中获取SIC MOSFET的导通电阻、参考直...
一种电致发光器件的坏点监测方法及系统
本发明涉及显示器件监测技术领域, 公开了一种电致发光器件的坏点监测方法及系统, 该方法包括:将电致发光器件划分为多个待监测区域, 根据每个待监测区域的历史数据集合设定监测特征;按照监测特征获取每个待监测区域的实时监测数据, 生成每个实时监测...
一种氮化镓器件动态导通电阻测试电路与方法
本发明属于功率器件测试技术领域, 具体是涉及一种氮化镓器件动态导通电阻测试电路与方法。本发明的电路包括多模式功率回路模块, 用于构成整个测试平台的主功率路径, 通过更改外部负载配置, 可灵活切换为不同的工作模式, 模拟器件在不同拓扑中的导通...
IGBT模块的组装测试方法、设备及存储介质
本发明公开了一种IGBT模块的组装测试方法、设备及存储介质, 涉及IGBT测试领域。该方法的步骤包括:将IGBT芯片封装为IGBT模块;为IGBT模块配置驱动器件、并配置驱动器件的参数;初步测试:在初步给定的电流和电压的条件下, 确定IGB...
IGBT的检测方法、系统及车辆
本申请公开了一种IGBT的检测方法、系统及车辆, 涉及IGBT技术领域, 应用于包括IGBT驱动模块、电流源模块和温度传感器的IGBT的检测系统, 电流源模块连接IGBT驱动模块, 温度传感器采集系统对应散热器上的散热器温度值, 接收到IG...
一种用于发光二极管的检测装置
本发明公开了一种用于发光二极管的检测装置, 本发明涉及发光二极管的检测领域, 包括检测主体, 所述检测主体的顶部设置有发光晶体, 检测主体底部靠四角位置均固定连接有固定吸盘, 检测主体的侧面设置有通电槽, 发光晶体的底部设置有长针脚和短针脚...
一种高压二极管反向漏电流检测装置
本发明涉及一种高压二极管反向漏电流检测装置, 第三电阻R3的一端连接高压二极管D2的P极、另一端接GND, 高压二极管D2的N极与高压电源X1相连;第三电阻R3的电压检测端连接放大器N1正端, 第二电阻R2的一端接放大器负端、另一端接地, ...
一种半导体器件中二极管的老化检测方法及系统
本发明公开了一种半导体器件中二极管的老化检测方法及系统, 涉及二极管检测相关技术领域, 方法包括:获取目标半导体器件的二极管接入电路, 部署微自检器执行各二极管的状态自检与判定;若自检结果为异常, 触发询问验证检定;包括:生成询问指令发送至...
芯片、芯片崩应测试方法及芯片测试方法
本发明提供一种芯片、芯片崩应测试方法及芯片测试方法, 在芯片上电后能够触发自动崩应, 并能通过芯片相应的IO管脚的电位状态变化来实时反馈和监控崩应进展状态, 由此在芯片崩应期间, 测试机台无需额外向芯片发送相应指令就可以获取芯片的崩应进展状...
对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片
本申请实施例提供一种对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片。所述FPGA芯片包括激励单元、检验单元以及测试电路, 该方法包括:利用激励单元向测试电路输出激励信号;利用测试电路传输激励信号;利用检验单元对测试电路的末端输出端口输...
一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质
本申请公开了一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质。所述检测系统包括信号发生模块, 用于向待测电路提供激励电流;磁场探测模块, 用于接收所述待测电路在激励电流的刺激下产生的垂直磁场分量, 并将其转化为电压信号;信号提取模块, 用于...
一种汽车用PCBA板检测装置与检测方法
本发明属于PCBA板检测技术领域, 具体涉及一种汽车用PCBA板检测装置, 包括:检测机体、安装于检测机体内部用于调节检测位置的龙门滑台以及安装于龙门滑台表面并进行检测的飞针检测头;传送组件, 包括贯穿安装在检测机体内部并位于飞针检测头底侧...
一种芯片数据分析方法、终端设备及存储介质
本发明涉及数据分析技术领域, 具体为一种芯片数据分析方法、终端设备及存储介质, 本发明中, 通过同步采集芯片多传感器多维时序数据流, 在目标分析窗口内识别各维度稳态、上升沿、下降沿和振荡四种变化模式类型, 同时量化变化主导维度标识、维度间时...
一种卫星舱板加热回路检测装置及方法
本申请属于电路检测技术领域, 具体公开了一种卫星舱板加热回路检测装置及方法。该装置应用于舱板加热回路单元, 包括控制单元和成像单元;舱板加热回路单元包括多个检测区域, 每个检测区域的边界上设置有定位回路;控制单元在确定每个检测区域的回路阻值...
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