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最新专利技术
  • 一种测试治具及其制备方法
    一种测试治具及其制备方法_元旭半导体科技(无锡)有限公司_202610003460.2
    本发明涉及半导体技术领域，具体为一种测试治具及其制备方法，测试治具包括层叠分布的缓冲层、重布线层、若干组测试焊盘及设置于重布线层的端口，测试时，测试焊盘与LED芯片接触连接，LED芯片通过测试焊盘、重布线层中的连接电路、端口与测试机电连接，...
    2026-03-20
  • 半导体测试设备及其自动化测试方法、装置
    半导体测试设备及其自动化测试方法、装置_深圳市辰卓科技股份有限公司_202512053134.0
    本申请提供了一种半导体测试设备及其自动化测试方法、装置，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：通过第二线程采集目标芯片输出的目标数据；在目标芯片基于目标数据进行测试的过程中，若确定需要对目标芯片进行配置修改，则在目标芯片无帧同步引脚的情...
    2026-03-20
  • 时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片
    时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片_广立微(上海)技术有限公司_202512040419.0
    本发明涉及一种时钟频率自适配的测试方法、装置、可读存储介质和芯片，包括：测试机对待测器件执行多次应用不同级数分频器的预处理，获得多个不同频率的工作时钟信号；所述预处理包括：测试机对待测器件开始测试流程，生成时钟信号连接至分频器进行分频处理，...
    2026-03-20
  • 芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质
    芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质_深圳市三晋通科技有限公司_202511968338.0
    本发明涉及芯片故障定位领域，尤其涉及一种芯片故障快速定位方法、装置、设备及存储介质。该方法包括以下步骤：采集芯片运行过程的温度传感数据及时序信号；对所述温度传感数据及时序信号进行多指标偏离计算，生成状态偏离度指标；基于预设的第一偏离阈值对状...
    2026-03-20
  • 芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质
    芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质_深圳市新智源科技有限公司_202511968334.2
    本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片信号完整性测试分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括以下步骤：基于芯片设计需求文档提取芯片性能指标；基于芯片性能指标进行饱和频率激励设定，生成激励测试信号；基于激励测试信号进行多端口信号激励测试及...
    2026-03-20
  • 数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备及存储介质
    数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备及存储介质_南方电网传感科技(广东)有限公司_202511878295.7
    本申请涉及一种数字芯片输出性能的测试装置、测试方法、测试设备和可读存储介质。所述方法包括：控制模块、至少一个ADC芯片、至少一个DAC芯片、至少两个软开关；控制模块分别与ADC芯片和DAC芯片连接；各软开关设置于模拟地和数字地之间的通道，且...
    2026-03-20
  • 转辙机故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质
    转辙机故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质_国能朔黄铁路发展有限责任公司_202511873930.2
    本申请涉及一种转辙机故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质。涉及轨道交通技术领域。所述方法包括：实时采集待检测转辙机运行过程中的模拟电流信号，将模拟电流信号转换为数字电流信号；对数字电流信号进行滤波去噪处理，并基于滤波去噪后的数字电流信号...
    2026-03-20
  • 一种无引脚片式集成电路带电振动装置设计方法及其夹具
    一种无引脚片式集成电路带电振动装置设计方法及其夹具_贵州振华风光半导体股份有限公司_202511831034.X
    一种无引脚片式集成电路带电振动装置设计方法及其夹具，属于集成电路可靠性试验技术领域。将待测无引脚片式集成电路放于一定位槽中，待测无引脚片式集成电路的底面引脚朝下，引脚通过顶针与下方的测试电路板电气连接，待测无引脚片式集成电路的顶面与压紧机构...
    2026-03-20
  • 成像装置的测试方法
    成像装置的测试方法_中山宝丽图电子技术有限公司_202511781454.1
    本发明提供一种成像装置的测试方法，成像装置包括用于控制成像装置各部件工作的主板，主板设置有电回路以及多个信号测试点，多个信号测试点至少之一为特定信号测试点，测试方法包括电连接测试装置和主板的步骤、使得主板进入测试模式的步骤和检测步骤，检测步...
    2026-03-20
  • 用于物理层接口的发送电路的测试电路及测试方法
    用于物理层接口的发送电路的测试电路及测试方法_芯耀辉科技股份有限公司_202511759906.6
    本申请涉及集成电路技术领域并提供一种用于物理层接口的发送电路的测试电路及测试方法。测试电路包括：部署在多个数据发送通道中的每一个的发送模拟部分的解串器，用于对发送模拟部分输出的串行数据进行解串操作从而得到发送环回数据；部署在多个数据发送通道...
    2026-03-20
  • 物理层接口的接收电路的测试电路及测试方法
    物理层接口的接收电路的测试电路及测试方法_芯耀辉科技股份有限公司_202511759863.1
    本申请涉及集成电路技术领域并提供一种物理层接口的接收电路的测试电路及测试方法。测试电路包括：部署在物理层接口的第一时钟产生单元，用于产生第一参考时钟信号；第一时钟发送单元，用于基于第一参考时钟信号，模拟时钟接收通道的时钟信号接收；第一数据发...
    2026-03-20
  • 一种信号间传输延迟时间的测试方法及系统
    一种信号间传输延迟时间的测试方法及系统_胜达克半导体科技(上海)股份有限公司_202511596066.6
    本发明涉及半导体测试技术领域，具体提供了一种信号间传输延迟时间的测试方法及系统。其中，测试方法包括：向两个输入通道分别输入周期相同的两个输入信号，并通过两个输出通道输出与所述输入通道对应的输出信号；在设定扫描窗口内，以设定扫描步长逐步采集两...
    2026-03-20
  • 验证目标确定方法、装置、电子设备及存储介质
    验证目标确定方法、装置、电子设备及存储介质_济南迈威智能科技有限公司_202511586767.1
    本申请公开了一种验证目标确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路设计验证技术领域，包括：获取待测试设备的加权有向图模型；根据加权有向图模型的有向边确定候选路径和候选路径的第二权重；将第二权重大于预设阈值的候选路径作为目标路径；根据候...
    2026-03-20
  • 一种适用于多种电路板的测试治具及测试方法
    一种适用于多种电路板的测试治具及测试方法_东莞市路帆电子科技有限公司_202511461806.5
    本发明公开了一种适用于多种电路板的测试治具及测试方法，该测试治具包括：底板，底板的顶部设有至少一条第一定位槽；至少两组固定组件，每组固定组件包括固定板和卡槽结构，固定板底部设有与第一定位槽滑动配合的固定肋条；测试探针组件，可拆卸地安装在第一...
    2026-03-20
  • 多行pattern的site结果匹配方法和芯片测试机
    多行pattern的site结果匹配方法和芯片测试机_杭州长川科技股份有限公司_202511438850.4
    本申请涉及一种多行pattern的site结果匹配方法和芯片测试机，测试单元提取pattern文件中的匹配微指令和期望pattern，根据匹配微指令循环复用多行的期望pattern，获取对待测器件的输出信号进行匹配得到的pin匹配结果。测试...
    2026-03-20
  • 功率半导体器件动态栅氧可靠性的测试方法及系统
    功率半导体器件动态栅氧可靠性的测试方法及系统_复旦大学宁波研究院_202610101506.4
    本发明提供一种功率半导体器件动态栅氧可靠性的测试方法及系统，涉及半导体技术领域，通过施加循环应力进行加速退化试验，获取原始数据并计算退化增量以构建模型，从中确定目标参数并构建两种加速模型，通过极大似然估计得到目标加速模型，比较其在低应力条件...
    2026-03-20
  • 一种快恢复二极管整流器故障诊断方法和系统
    一种快恢复二极管整流器故障诊断方法和系统_江苏祥和电子科技有限公司_202610081308.6
    本发明提供一种快恢复二极管整流器故障诊断方法和系统，涉及二极管故障诊断技术领域，所述方法包括：在诊断周期的多个时刻，获取整流器工作数据和实时环境温度，整流器工作数据包括平均正向电流、累积工作时间和开关频率；获取整流器性能数据和历史健康整流器...
    2026-03-20
  • 一种双脉冲测试平台
    一种双脉冲测试平台_阜新飞宇电子科技有限公司_202610080266.4
    本发明涉及双脉冲测试平台技术领域，具体公开了一种双脉冲测试平台，包括：透明防护箱、移动槽、第一滑槽、第二滑槽、卡槽、伸缩槽和触发机构，透明防护箱的顶端左侧开设有与其内腔相连通的移动槽，透明防护箱的内腔左侧前端沿上下方向开设有第一滑槽，透明防...
    2026-03-20
  • 一种半导体电学性能测试装置
    一种半导体电学性能测试装置_南通市誉隆半导体设备有限公司_202511923594.8
    本发明属于半导体测试技术领域，提供了一种半导体电学性能测试装置，所述底座内转动安装有输送带且输送带上固定安装有多组间隔分布的输送块，所述底座上固定安装有检测箱，检测箱的侧面固定安装有向检测箱内输送冷气的制冷器，检测箱内底部固定安装有放置座，...
    2026-03-20
  • 二极管全自动测试系统及性能测试方法
    二极管全自动测试系统及性能测试方法_广东慧芯电子科技有限公司_202511800256.5
    本发明涉及电子元器件技术领域，特别是一种二极管全自动测试系统及性能测试方法，包括测试管理服务器、可编程测试资源阵列、上下料与定位模块以及测试工位；测试管理服务器为中央处理单元，搭载测试管理软件，负责测试流程的制定、测试任务的调度与分发、测试...
    2026-03-20
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