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最新专利技术
  • 一种定位精度评估方法及相关装置
    一种定位精度评估方法及相关装置_华为技术有限公司_202311833012.8
    一种定位精度评估方法，应用于评估行驶装置的定位精度。在该方法中，基于语义信息对评估点云数据和参考点云数据进行降采样，使得降采样后的点云数据中地面点与非地面点之间的比例在预设范围内。然后，将降采样后的评估点云数据与多个降采样后的参考点云数据执...
    2025-08-27
  • 一种基于融合算法的气液两相计量方法、系统及设备
    一种基于融合算法的气液两相计量方法、系统及设备_中国石油集团渤海钻探工程有限公司_202311824427.9
    本发明属于油气勘探领域，具体涉及一种基于融合算法的气液两相计量方法、系统及设备，旨在解决气液两相难以计量的问题。本发明包括：通过多传感器模块收集目标管线中的原始数据作为输入数据；通过A/D转换器对所述输入数据进行转换，获得数字输入数据；对所...
    2025-08-27
  • 一种非均混气液两相计量方法、系统及设备
    一种非均混气液两相计量方法、系统及设备_中国石油集团渤海钻探工程有限公司_202311829106.8
    本发明属于油气勘探领域，具体涉及一种基于融合算法的非均混气液两相计量方法、系统及设备，旨在解决非均混气液两相难以计量的问题。本发明包括：通过多传感器模块收集目标管线中的原始数据作为输入数据；通过A/D转换器对所述输入数据进行转换，获得数字输...
    2025-08-27
  • 稳定可靠的单光子探测器
    稳定可靠的单光子探测器_科大国盾量子技术股份有限公司_202311846541.1
    本发明提供一种稳定可靠的单光子探测器，包括APD和偏置电压自适应控制电路，所述偏置电压自适应控制电路包括控制器、偏压产生电路以及第一偏压检测电路，所述偏压产生电路包括DAC1以及偏压芯片，控制器通过DAC1设置偏压控制值，经偏压芯片放大后在...
    2025-08-27
  • 门控模式和自由运行模式相兼容的单光子探测器
    门控模式和自由运行模式相兼容的单光子探测器_科大国盾量子技术股份有限公司_202311846591.X
    本发明公开了一种门控模式和自由运行模式相兼容的单光子探测器，包括控制器、偏置电压产生电路和门控电压产生电路，所述偏置电压产生电路通过电阻R1连接到APD的阴极，控制器通过将门控电压产生电路中锁相环使能端置低或高来关闭或开启门控电压产生电路。...
    2025-08-27
  • 具有噪声抑制功能的单光子探测器
    具有噪声抑制功能的单光子探测器_科大国盾量子技术股份有限公司_202311846602.4
    本发明公开了一种具有噪声抑制功能的单光子探测器，包括APD以及雪崩信号提取电路，所述雪崩信号提取电路包括依次连接在APD阳极的级联滤波放大电路和甄别电路，其中所述级联滤波放大电路采用“3级滤波+2级放大”，其拓扑结构是“滤波‑放大‑滤波‑滤...
    2025-08-27
  • 一种集成度高的自由运行单光子探测器
    一种集成度高的自由运行单光子探测器_科大国盾量子技术股份有限公司_202311846651.8
    本发明公开一种自由运行单光子探测器，包括外壳(1)、散热器模块(2)、PCB板(3)、屏蔽罩模块(4)、二级制冷模块(5)，散热器模块(2)、PCB板(3)、屏蔽罩模块(4)、二级制冷模块(5)均被包裹在外壳(1)内，PCB板(3)固定在散...
    2025-08-27
  • 一种基于多级制冷的自由运行单光子探测器
    一种基于多级制冷的自由运行单光子探测器_科大国盾量子技术股份有限公司_202311846695.0
    本发明公开一种基于多级制冷的自由运行单光子探测器，包括外壳、散热器模块、PCB板、二级制冷模块，所述二级制冷模块包括上下设置的NFAD和多层TEC，所述散热器模块包括散热器和安装在散热器上的风扇，PCB板固定在散热器模块上方，所述二级制冷模...
    2025-08-27
  • 一种宽带光谱测量装置以及检测设备
    一种宽带光谱测量装置以及检测设备_深圳中科飞测科技股份有限公司_202311834552.8
    一种宽带光谱测量装置以及检测设备，宽带光谱测量装置包括：第一入射狭缝、第一分光组件、第一光谱模块以及第二光谱模块；第一入射狭缝被配置为输入待测光束，待测光束为复色光束；第一分光组件被配置为将待测光束进行分光，得到第一光束与第二光束；第一光谱...
    2025-08-27
  • 一种面源黑体发射率测量装置及方法
    一种面源黑体发射率测量装置及方法_北京振兴计量测试研究所_202311823061.3
    本发明涉及面源黑体发射率测量技术领域，公开一种面源黑体发射率测量装置及方法，面源黑体发射率测量装置包括试验箱以及设置在试验箱内的标准腔式黑体、标准漫反射板和辐射测量单元，试验箱内温度可调，被测面源黑体能放置于试验箱内，辐射测量单元移动设置在...
    2025-08-27
  • 一种真空低温面源黑体
    一种真空低温面源黑体_北京振兴计量测试研究所_202311823068.5
    本发明涉及面源黑体技术领域，公开一种真空低温面源黑体，该真空低温面源黑体包括辐射板和制冷板，所述制冷板与所述辐射板间隔设置，所述制冷板的内部设置有制冷液腔，所述制冷液腔用于流通制冷液。该真空低温面源黑体温度分布较为均匀，工作精度较高。
    2025-08-27
  • 一种双面源温差型黑体辐射源及其辐射温度控制方法
    一种双面源温差型黑体辐射源及其辐射温度控制方法_北京振兴计量测试研究所_202311823096.7
    本发明涉及红外光电学技术领域，公开一种双面源温差型黑体辐射源及其辐射温度控制方法，该双面源温差型黑体辐射源包括第一面源黑体、第二面源黑体、环境温度传感器和控制器，控制器能够接收环境温度传感器、第一温度传感器和第二温度传感器的检测信号，并计算...
    2025-08-27
  • 触摸屏的温度检测方法、装置、设备及存储介质
    触摸屏的温度检测方法、装置、设备及存储介质_OPPO广东移动通信有限公司_202311833703.8
    本申请实施例公开了一种触摸屏的温度检测方法、装置、设备及存储介质，该触摸屏的温度检测方法可以包括：获取目标帧的电容参数；其中，目标帧包括当前帧和/或当前帧之前的连续多帧；根据目标帧的电容参数，确定触摸屏的当前温度模式；其中，当前温度模式用于...
    2025-08-27
  • 温度探测组件及应用于核磁体温探头的护套
    温度探测组件及应用于核磁体温探头的护套_深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司_202311837047.9
    本申请公开了一种温度探测组件及应用于核磁体温探头的护套，温度探测组件包括温度探测部件和护套，温度探测部件包括探头主体和探测线，探测线包括光纤导光束，光纤导光束的一端与探头主体连接，探头主体用于与监护设备连接，以将探头主体采集的温度信号传输至...
    2025-08-27
  • 传感器
    传感器_浙江三花智能控制股份有限公司_202311824607.7
    本申请提供了一种传感器，包括传感组件和传感器壳体，所述传感器壳体具有空腔，所述传感组件至少部分位于所述空腔，所述传感组件包括压敏部，所述传感器壳体包括壳端部和连接部，所述壳端部暴露于所述空腔的侧壁与所述压敏部连接，所述壳端部背离所述空腔的侧...
    2025-08-27
  • 传感器
    传感器_浙江三花智能控制股份有限公司_202311828806.5
    本申请提供了一种传感器，包括传感组件、传感器壳体和过渡部，所述传感器壳体具有空腔，所述传感组件至少部分位于所述空腔，所述过渡部至少部分位于所述空腔；所述过渡部与所述传感器壳体为分体结构，所述过渡部与所述传感器壳体连接，所述传感组件与所述过渡...
    2025-08-27
  • 气密性检测方法、气密性检测装置和电池单体的制造系统
    气密性检测方法、气密性检测装置和电池单体的制造系统_宁德时代新能源科技股份有限公司_202311828025.6
    本申请涉及一种气密性检测方法、气密性检测装置和电池单体的制造系统，气密性检测方法包括：提供初始电池；真空处理初始电池，向初始电池中充入惰性气体，得到预检电池；将预检电池置于密封腔体中，其中，预检电池中的气压大于密封腔体中的气压；采集密封腔体...
    2025-08-27
  • 车辆前后轮偏侧刚度的检测方法及装置
    车辆前后轮偏侧刚度的检测方法及装置_大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司_202311829920.X
    本发明公开了一种车辆前后轮偏侧刚度的检测方法及装置，包括：获取车辆的静态参数，所述静态参数包括车辆重量、前轴载荷、后轴载荷、前后轴距、Z轴转动惯量；根据车辆的所述静态参数，计算车辆质心与前轴和后轴的距离；根据预设的车辆操控条件，获取不同条件...
    2025-08-27
  • 加工及检测设备
    加工及检测设备_錼创显示科技股份有限公司_202311819073.9
    本发明提供一种加工及检测设备，包括载台、加工单元、加工扫描仪及至少一检测扫描仪。载台供放置加工样品，加工样品的表面具有多个加工位置，加工单元相对于载台设置而对加工样品加工，加工扫描仪用以对加工样品扫描，加工扫描仪以扫描频率控制加工单元依序对...
    2025-08-27
  • 一种冲击条件下光学成像器光轴偏移量测试设备及方法
    一种冲击条件下光学成像器光轴偏移量测试设备及方法_北京振兴计量测试研究所_202311823119.4
    本发明公开了一种冲击条件下光学成像器光轴偏移量测试设备及方法，设备包括：高刚度平行光管，包括高刚度光学系统、高刚度靶标、光源，用于模拟光学目标，红外光源发出的光，穿过高刚度靶标，进入高刚度光学系统，发出图像；被测光学成像器用于接收高刚度平行...
    2025-08-27
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