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  • 本发明公开一种基于蒙特卡洛树搜索和贝叶斯优化结合的宏布局方法,该方法通过将电路布局空间划分为网格并按面积对宏单元进行排序,构建一个搜索树来优化宏单元的布局。通过贝叶斯优化宏单元布局空间,在搜索树中随机选择节点价值高的点进行布局优化,计算并记...
  • 本发明涉及电路板布线技术领域,公开了一种快速布局布线方法,包括步骤:从数据库中抽取m条PCB板的设计数据,对每一条PCB板的设计数据在板面上划分为N个Patch,得到一条长度为N的序列化数据;对每条序列化数据进行特征编码,构建位置编码矩阵,...
  • 本发明提供基于光刻工艺窗口的hotspot发现方法,涉及光刻技术领域,包括处理系统,处理系统中包含有控制模块、Metro模块、模型仿真模块、Retarget模块、PatternMatch模块和PWA模块,控制模块为控制主体执行以下控制流程:...
  • 本发明属于集成电路设计自动化技术领域,公开了一种抗辐照标准单元自动布局方法,该方法采用双阶段强化学习策略:第一阶段训练器件布局策略模型,通过解析CDL文件提取MOS器件信息,构建电路图结构作为状态表示,利用动态动作掩码机制生成初步器件布局结...
  • 本发明提供一种用于SLLC谐振变换器的共模干扰建模与分析方法,属于电力电子及电磁兼容技术领域;本发明通过提取电路关键寄生参数,结合传输线理论与等效电路建模技术,构建高精度的共模干扰传播路径模型,并引入复杂高频线路寄生参数,描述共模电流的传播...
  • 本发明公开了一种SISL器件的设计优化方法、装置、服务器及存储介质,属于器件优化技术领域。包括:将SISL完整结构分解为简易结构和过渡结构,将简易结构和过渡结构分别作为简易结构细模型和过渡结构细模型;构建与简易结构相同电路结构的第一等效电路...
  • 本发明涉及半导体器件的计算机辅助设计技术领域,公开了一种半导体器件的自适应扫描的仿真方法、系统、电子设备、可读存储介质以及程序产品,用于解决现有技术在物理量变化复杂的仿真场景下,固定扫描步长的方式会使得仿真次数冗余或者仿真结果失真的技术问题...
  • 本发明公开了用于芯片漏电流功耗分析的方法、装置及系统,涉及芯片开发技术领域。所述方法包括:配置芯片数据库,用于存储芯片设计数据,包括用于芯片功耗分析的输入文件;采集芯片漏电流功耗分析需求信息,其包括待分析的目标芯片模块所属的芯片项目和目标工...
  • 本发明具体涉及一种气体开关的预电离间隙设计方法,能够显著提升开关主间隙放电性能,解决现有预电离间隙击穿电压和预电离回路储能电容容值设计方法难以实现最大限度地减小预电离开关主间隙击穿抖动,同时提升开关主间隙放电通道数目的技术问题。本发明气体开...
  • 本发明提供一种GaN晶体管寿命预测方法,包括:建立GaN晶体管电‑热‑力仿真模型,进行功率和热阻仿真得到了GaN晶体管的仿真电气参数之间的关联数据集并从中分析得到原始特征数据;将仿真电气参数中的结温带入Coffin‑Manson热疲劳模型,...
  • 本申请公开了一种基于芯片验证仿真平台的仿真方法,涉及仿真技术领域,在获取仿真平台中的第一构建文件和第一用户配置文件之后,根据时间戳检查第一用户配置文件是否存在更新;若更新,则调用第一用户配置文件重新生成第一中间文件,若未更新,则直接调用原先...
  • 本公开涉及一种UCIe输入输出接口版图结构、电路和芯片,该版图结构包括:至少一个UCIe输入输出接口组;每个输入输出接口组包括两个输入输出接口队列和一个参考电平产生模块,每个输入输出接口队列包括多个UCIe输入输出接口模块;两个输入输出接口...
  • 本发明涉及一种基于失效模式的测试芯片设计方法、装置、介质和芯片,包括:获取产品芯片版图,删除所述产品芯片版图中的后段图层,并在所述产品芯片版图中排布焊盘后,得到原始版图;确定所述原始版图中的多个测试区域及其失效模式;从所述原始版图中裁剪得到...
  • 本申请涉及电力系统技术领域,并提供一种基于电网拓扑感知的仿真加速器、仿真方法及存储介质,在仿真加速器中,拓扑感知模块用于接收电网拓扑数据,分析电网拓扑数据得到电网节点数量和与电网数据对应的导纳矩阵的稀疏度;稀疏图压缩模块用于根据电网节点数量...
  • 本发明实施例提出一种寄存器模型构建方法、系统、设备及存储介质,涉及芯片测试技术领域,该方法应用于寄存器模型构建系统,该方法包括:获取寄存器模型相关的配置文件,从配置文件中确定待测试的寄存器区域;根据寄存器区域构建寄存器初始模型;为寄存器初始...
  • 本发明提供一种基于双向协议握手的USB2.0主机降速桥及原型验证或者硬件仿真加速平台,慢速侧模块于慢时钟频率下运行,负责实现USB协议的协议层与USB协议的物理链路层功能,并与待测芯片设计(DUT)中的USB2.0主机控制器进行通信,原速侧...
  • 本发明公开了一种功能覆盖率补偿方法及装置,其中该方法包括:执行验证测试序列,对芯片功能进行仿真验证,得到功能覆盖项的命中结果;基于命中结果,通过应用程序编程接口构建功能覆盖率数据库;基于功能覆盖率数据库和预先建立的功能覆盖点数据库进行覆盖率...
  • 本发明的技术方案是公开了一种大规模逻辑优化乘法器验证方法,其特征在于,采用四阶段流水线处理模式,其中,第一阶段为部分加法器树恢复阶段;第二阶段为架构生成阶段;第三阶段为功能验证阶段;第四阶段为等价性检查阶段。本发明验证能力突破性提升,远超现...
  • 本发明提供了一种芯片数据面的验证方法、装置及电子设备,涉及芯片验证技术领域,基于待验证网卡芯片对应的发送队列和接收队列的上下文信息,从系统内存划分目标验证区域,再将目标验证区域转换为虚拟内存地址以建立对应队列通道,最终通过通道验证数据面通路...
  • 本申请涉及集成电路设计验证技术领域,公开了一种基于松弛约束的过度约束激励定位方法、系统、设备,该方法通过系统性松弛约束方法,实现测试平台中过度约束的自动化识别,解决现有技术中过度约束隐蔽性强、识别效率低的问题。能够快速识别过度约束,减少因约...
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