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最新专利技术
  • 一种基于相变材料的太赫兹水质检测芯片及其检测方法
    一种基于相变材料的太赫兹水质检测芯片及其检测方法_深圳大学_202610036606.3
    本发明公开了一种基于相变材料的太赫兹水质检测芯片及其检测方法，该检测芯片基底、插指电极、相变薄膜；插指电极设置于基底上，插指电极之间设有微结构阵列，相变薄膜覆盖于插指电极及微结构阵列上；相变薄膜覆盖的区域作为液滴载样区；相变薄膜在非晶体与晶...
    2026-04-19
  • 基于物理约束稀疏反卷积网络的太赫兹波色散补偿方法
    基于物理约束稀疏反卷积网络的太赫兹波色散补偿方法_哈工大郑州研究院_202511245891.1
    基于物理约束稀疏反卷积网络的太赫兹波色散补偿方法，涉及太赫兹无损检测技术领域，包括以下步骤：制备单层及多层复合材料样本并获取太赫兹参考信号与色散太赫兹信号；建立考虑太赫兹波色散效应的信号传播模型；构建稀疏反卷积网络实现色散信号与飞行时间的映...
    2026-04-19
  • 一种基于近红外光谱监测烟叶醇化速度的方法及其应用
    一种基于近红外光谱监测烟叶醇化速度的方法及其应用_广西中烟工业有限责任公司_202511684196.5
    本发明提供了一种基于近红外光谱监测烟叶醇化速度的方法及其应用，所述方法包括以下步骤：将待测烟叶进行近红外光谱检测，将检测结果代入回归模型得到所述待测烟叶的醇化速度。本发明提供的方法克服了现有技术中仅能静态预测烟叶醇化程度的缺陷，创新性地将“...
    2026-04-19
  • 用于电缆绝缘层快速检测的近红外光谱检测装置
    用于电缆绝缘层快速检测的近红外光谱检测装置_中电保力(北京)科技有限公司_202511913060.7
    本发明涉及用于电缆绝缘层快速检测的近红外光谱检测装置，包括取样筒和检测筒，取样筒前端敞开且前端边缘开刃，后端可拆卸的连接助推装置，助推装置能推动取样筒前端切入绝缘层内；需要检测时，取样筒前端可拆卸的连接检测筒后端，取样筒后端可拆卸的连接推进...
    2026-04-19
  • 一种高精度星壤水冰氢氧同位素测量方法和系统
    一种高精度星壤水冰氢氧同位素测量方法和系统_中国科学院合肥物质科学研究院_202511688047.6
    本发明公开了一种高精度星壤水冰氢氧同位素测量方法和系统，属于空间探测技术领域，包括以下步骤：步骤S1，将含水冰星壤样品进行加热，提取出所述含水冰星壤样品中的全部水汽；步骤S2，将提取出的全部水汽通入碳化钙中进行加热反应，产生乙炔气体和氧化钙...
    2026-04-19
  • 一种多光谱煤堆自燃隐蔽火区识别检测方法与系统
    一种多光谱煤堆自燃隐蔽火区识别检测方法与系统_新疆鼎飞益智能科技有限公司_202511738893.4
    本发明涉及气体检测技术领域，具体为一种多光谱煤堆自燃隐蔽火区识别检测方法与系统，所述方法包括：获取目标煤堆区域上空不同种类的气体浓度数据；并获取目标煤堆区域表面的温度数据；对获取的气体浓度数据进行网格化处理生成二维气体浓度分布图；根据已获取...
    2026-04-19
  • 一种基于异常检测的PPB级燃气泄漏智能识别方法
    一种基于异常检测的PPB级燃气泄漏智能识别方法_北京埃德尔博珂工程技术有限公司_202511867300.4
    本发明公开了一种基于异常检测的PPB级燃气泄漏智能识别方法，涉及异常检测领域，解决了现有燃气泄漏智能识别准确性不足的问题，包括：步骤S1：采集燃气组分浓度数据；步骤S2：对燃气组分浓度数据进行统计，得到时序浓度数据列表，根据时序浓度数据列表...
    2026-04-19
  • 基于多传感器数据融合的甲烷气体泄漏检测方法
    基于多传感器数据融合的甲烷气体泄漏检测方法_西安智光物联科技有限公司_202610007745.3
    本发明涉及气体检测技术领域，公开了基于多传感器数据融合的甲烷气体泄漏检测方法。该方法通过多个可调谐半导体激光吸收光谱传感器获取吸收强度序列和波长漂移量。构建以传感器位置为节点的动态特征关联网络，将传感器数据作为节点初始状态，沿预设路径交叉比...
    2026-04-19
  • 一种测定氢、氧稳定同位素值的方法及系统
    一种测定氢、氧稳定同位素值的方法及系统_江西省林业科学院_202610017799.8
    本发明公开了一种测定氢、氧稳定同位素值的方法及系统，属于同位素检测技术领域。方法包括：对待测样品进行低温真空密封封装，在惰性气体氛围下梯度升温解吸释放水分，经铂‑铑合金催化裂解生成氢氧混合气体；通过多通道可调谐二极管激光吸收光谱仪同步采集氢...
    2026-04-19
  • 一种基于环形艾里涡旋光相位的湍流折射率结构常数反演方法
    一种基于环形艾里涡旋光相位的湍流折射率结构常数反演方法_湖南大学_202511882157.6
    本发明具体涉及一种基于环形艾里涡旋光相位的湍流折射率结构常数反演方法。利用“探针”光束——环形艾里涡旋光，经过湍流传输并获取“探针”光束畸变相位。通过分析畸变相位与理想相位的差值关系，计算出湍流的相位结构函数，然后根据Kolmogorov湍...
    2026-04-19
  • 一种硅片重金属镍污染的可视化检测方法
    一种硅片重金属镍污染的可视化检测方法_浙江金瑞泓科技股份有限公司_202610037983.9
    本发明涉及一种硅片重金属镍污染的可视化检测方法，包括如下操作步骤：S1、样品硅片准备：选取待检测硅片，确保同批次检测硅片来自同一根晶锭的相邻硅片，且采用相同加工流程及加工机台；S2、外延诱导生长：将选取的硅片放入外延反应炉中，通入氢气作为载...
    2026-04-19
  • 一种基于Fano共振的MIM波导传感器及其应用方法
    一种基于Fano共振的MIM波导传感器及其应用方法_浙江大学_202610044909.X
    本发明公开一种基于Fano共振的MIM波导传感器及其应用方法，涉及光学器件技术领域，该方法包括基板；基板上镀有金属镀层；金属镀层上蚀刻有U形谐振腔，U形谐振腔下方蚀刻有金属—介质—金属MIM直波导；通过将宽谱光从直波导左侧入射并从右侧出射，...
    2026-04-19
  • 基于超材料增强的单分子实时测序方法
    基于超材料增强的单分子实时测序方法_南京南智先进光电集成技术研究院有限公司_202511669939.1
    本发明涉及分子测序技术领域，是基于超材料增强的单分子实时测序方法，具体包括：将基底表面划分为若干个局部独立子阵列，得到子阵列基础周期层；并在其中的子阵列间隙区域引入等效隔离带，形成等效隔离子阵列；对子阵列单元精确刻蚀测序孔位，并在每个孔位中...
    2026-04-19
  • 一种基于LSPR微效应的MSM微纳光纤传感器及全氟辛酸特异性检测方法
    一种基于LSPR微效应的MSM微纳光纤传感器及全氟辛酸特异性检测方法_合肥综合性科学中心环境研究院_202511735172.8
    一种基于LSPR微效应的MSM微纳光纤传感器及全氟辛酸特异性检测方法，属于光纤传感以及环境检测技术领域。通过在二氧化硅微纳光纤表面修饰金纳米骨及特异性识别全氟辛酸的适配体构建而成，该传感器具有基于LSPR效应的多模‑单模‑多模(MSM)结构...
    2026-04-19
  • 一种布洛芬微量杂质快速检测方法
    一种布洛芬微量杂质快速检测方法_济南科汇医药科技有限公司_202511801715.1
    本发明涉及药品检测领域，特别涉及一种布洛芬微量杂质快速检测方法，该检测方法采用一种布洛芬微量杂质快速检测装置，该检测装置包括中空设置的基筒，基筒内设置有用于对布洛芬中微量杂质进行快速检测的检测件；本发明使布洛芬药剂与溶剂混合，让杂质与布洛芬...
    2026-04-19
  • 基于光透法与LIS模型的裂隙两相流饱和度测量方法
    基于光透法与LIS模型的裂隙两相流饱和度测量方法_东华理工大学南昌校区_202610037720.8
    本申请提供一种基于光透法与LIS模型的裂隙两相流饱和度测量方法，包括：建立包含均匀背光照明系统、二维裂隙装置及高精度CCD相机的光透法检测系统，构建适用于裂隙的LIS模型库，通过光透法检测系统获取二维裂隙装置充满水以及注入目标流体时的光强值...
    2026-04-19
  • 一种基于激光诱导超声波的掩埋结构探测装置
    一种基于激光诱导超声波的掩埋结构探测装置_上海图双精密装备有限公司_202511647432.6
    本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种基于激光诱导超声波的掩埋结构探测装置，包括激光器、分光元件、光调制模块、合束元件、光敏元件和锁相放大器，激光器产生的脉冲激光被分为泵浦光和探测光；光调制模块对泵浦光进行周期性调制后，通过合束元件与探测...
    2026-04-19
  • 基于自发布里渊散射的显微系统和方法
    基于自发布里渊散射的显微系统和方法_中国科学院上海光学精密机械研究所_202511678840.8
    本申请公开了基于自发布里渊散射的显微系统和方法。一种基于自发布里渊散射的显微系统可包括显微组件和探测组件。显微组件被配置成接收第一激光，第一激光是脉冲激光；以及将第一激光引导到待测样品，以产生自发布里渊散射光。探测组件被配置成：接收自发布里...
    2026-04-19
  • 一种半导体材料表面复合速率测量方法
    一种半导体材料表面复合速率测量方法_中国科学院上海技术物理研究所_202511719933.0
    本发明为一种半导体材料表面复合速率测量方法，包括以下步骤：利用激光源产生泵浦光照射待测半导体样品，采集样品在激光关闭后产生的发光信号随时间的变化率，获得随时间衰减的发光强度曲线，改变激光功率，从强度‑时间‑功率的三维图像获得待测样品响应随时...
    2026-04-19
  • 一种共聚焦荧光光谱测试系统
    一种共聚焦荧光光谱测试系统_苏州惟光探真科技有限公司_202411087839.3
    本申请涉及一种共聚焦荧光光谱测试系统，包括：载料组件上装载有样品；显示组件内置有成像光路，显示组件的一端处具有物镜模组，物镜模组靠近载料组件上的样品设置；光处理组件内具有检测光路，检测光路的一端导向物镜模组；测试组件包括测试仪本体和测试头模...
    2026-04-19
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