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最新专利技术
  • 一种PCS功率器件健康状态无创监测方法
    一种PCS功率器件健康状态无创监测方法_华北电力大学(保定)_202511213235.3
    本发明公开一种PCS功率器件健康状态无创监测方法， 包括：建立包含功率器件导通损耗与开关损耗的动态损耗模型；建立按功率器件数量与位置分布的多维老化分类框架；采用双路径验证机制分析老化对损耗特性的影响：通过实测数据校准将动态损耗模型的计算结果...
    2026-01-16
  • 一种功率循环试验中自动穿插静态特性测试的试验方法
    一种功率循环试验中自动穿插静态特性测试的试验方法_鲁欧智造(山东)数字科技有限公司_202511269324.X
    本发明涉及功率循环试验技术领域， 具体为一种功率循环试验中自动穿插静态特性测试的试验方法， 包括以下步骤：步骤一：对被测样品进行功率循环测试， 判断老化程度；并统计功率循环测试的循环数；步骤二， 判断功率循环测试的循环数是否达到预设值N， ...
    2026-01-16
  • 一种晶圆超声检测方法及设备
    一种晶圆超声检测方法及设备_物元半导体技术(青岛)有限公司_202511024458.5
    本申请提供一种晶圆超声检测方法及设备， 其中， 晶圆超声检测方法包括：沿二维螺旋路径对整个晶圆进行全局超声扫描， 获得若干初测回波信号构成全局回波信号组， 记录初测回波信号的位置坐标；基于全局回波信号组确定嫌疑气泡区域；嫌疑气泡区域至少存在...
    2026-01-16
  • 一种基于电路参数监控的自值守辅助系统和方法
    一种基于电路参数监控的自值守辅助系统和方法_武汉大学_202510817046.0
    本发明提供一种基于电路参数监控的自值守辅助系统和方法， 涉及甚低频波动探测和应用技术领域。该系统包括至少三个单片机监控模块， 每个单片机监控模块包括参数采集接口、控制输出接口、显示接口和通信接口；参数采集接口连接至所监控的目标设备， 用于采...
    2026-01-16
  • 一种电路输出信号同步性测试方法及相关设备
    一种电路输出信号同步性测试方法及相关设备_中国运载火箭技术研究院_202510825098.2
    本发明公开了一种电路输出信号同步性测试方法及相关设备， 其中， 自动测试设备包括数据处理单元和时间测量单元， 时间测量单元包括计数器， 待测器件上的待测管脚通过总线与数据处理单元进行信号传输， 先根据待测器件的时钟信号的时钟周期确定时间测量...
    2026-01-16
  • 一种探针卡与晶圆引脚接触高度自动检测系统和方法
    一种探针卡与晶圆引脚接触高度自动检测系统和方法_张芬_202510826502.8
    本发明公开了一种探针卡与晶圆引脚接触高度自动检测系统及方法。系统包括测试机、探针台和探针卡， 测试机控制探针台驱动件带动承接盘沿Z轴移动。检测方法为：先以较大步长B1上升承接盘， 每步进行接触检测；上升至高度H后切换为较小步长B2继续检测。...
    2026-01-16
  • 故障定位系统、方法、电子设备及空调器
    故障定位系统、方法、电子设备及空调器_广东美的暖通设备有限公司_202510899901.7
    本发明公开了一种故障定位系统、方法、电子设备及空调器， 其中， 故障定位系统应用于电子设备， 电子设备包括多个电路板， 故障定位系统包括：可控开关， 可控开关设置在多个电路板中的首个电路板上， 可控开关的一端适于输入预设电信号；检测线， 检...
    2026-01-16
  • 半导体测试结构及测试方法
    半导体测试结构及测试方法_广州增芯科技有限公司_202510901478.X
    本申请提供一种半导体测试结构及测试方法， 半导体测试结构包括：器件区， 器件区包括呈m*n阵列布置的多个测试器件；测试器件包括并列设置的第一晶体管和第二晶体管， 第一晶体管和第二晶体管分别包括源区、漏区、栅极及基体， 第一晶体管的源区和第二...
    2026-01-16
  • 一种片上EOS事件监测装置及系统
    一种片上EOS事件监测装置及系统_屹世半导体(上海)有限公司_202510902051.1
    本申请提供一种片上EOS事件监测装置及系统， 涉及IC芯片技术领域。本申请通过将目标芯片在待监测电压域下的多个芯片PAD经多个源跟随器和分压电路与EOS事件识别单元的第一识别输入端连接， 由EOS事件识别单元基于第一识别输入端处的实际输入电...
    2026-01-16
  • 一种过流保护测试电路、方法
    一种过流保护测试电路、方法_上海艾为电子技术股份有限公司_202510905466.4
    本公开实施例提供一种过流保护测试电路、方法， 测试电路包括：驱动模块、测试模块、基准模块和比较模块， 测试模块还包括：在功率单元和采样单元之间连接的开关单元， 在测试模式下， 开关单元控制功率单元断开， 采样单元工作， 通过比较模块得出测试...
    2026-01-16
  • 一种磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置
    一种磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置_深圳优比康科技有限公司_202510916421.7
    本发明涉及电子测控技术领域， 并公开了一种磁悬浮无接触式集成电路IC探针测试平台装置， 包括基座；所述基座的内部设有可用于放置芯片的载物台， 所述基座顶端固定连接有探针检测单元， 其中， 所述载物台包括安装座， 所述安装座通过开设在其外表面...
    2026-01-16
  • 一种照明电路板焊接检测装置及其使用方法
    一种照明电路板焊接检测装置及其使用方法_常州亿星微电子有限公司_202510929305.9
    本发明公开了一种照明电路板焊接检测装置及其使用方法， 涉及电路板检测技术领域， 包括承载台， 承载模具的外壁开设有用于承载照明电路板的模腔， 安装组件设置于承载台上， 安装组件用于对承载模具安装限位， 安装架固定安装于承载台的顶部， 驱动组...
    2026-01-16
  • 一种适用于全自动化双插座手测器
    一种适用于全自动化双插座手测器_天津耐可斯新科技有限公司_202510959861.0
    本发明适用于手测器技术领域， 提供了一种适用于全自动化双插座手测器， 包括：上插座和下插座， 所述上插座与下插座之间通过转动轴活动连接；所述上插座包括上插座外壳以及设置于上插座外壳内侧的上测试组件， 所述上插座外壳的顶部设有复位块和顶销一；...
    2026-01-16
  • 一种静止无功发生器控制电路板测试装置
    一种静止无功发生器控制电路板测试装置_河南许继电力电子有限公司_202510974336.6
    本发明提供了一种静止无功发生器控制电路板测试装置， 属于电流测试领域。该静止无功发生器控制电路板测试装置包括壳体和设置在壳体顶部的测试探针或连接器， 其特征是， 壳体内设置有供电走线槽和信号走线槽， 供电走线槽布置有用于为测试装置或被测电路...
    2026-01-16
  • 一种高速时钟偏差ATE测试电路及其工作方法
    一种高速时钟偏差ATE测试电路及其工作方法_上海问道以芯科技有限公司_202511051351.X
    本发明公开了一种高速时钟偏差ATE测试电路及其工作方法， 涉及高速数据接口芯片测试技术领域。本发明包括第一子通道时钟以及第二子通道时钟；测试电路采用第一D触发器以及第二D触发器；两个D触发器建立时间和保持时间均小于目标偏差值20ps；当两个...
    2026-01-16
  • 一种SIP产品双面飞针测试用治具机构
    一种SIP产品双面飞针测试用治具机构_浙江轩田智能科技有限公司_202511055538.7
    本公开提供一种SIP产品双面飞针测试用治具机构， 包括治具基座， 治具基座具有环状的外壁， 外壁围成安装空间， 安装空间内设置升降平台， 治具基座的外壁的内侧与升降平台的外侧之间通过连接组件连接， 治具基座的底部设置底板， 底板连接治具基座...
    2026-01-16
  • PCB电气性能测试方法
    PCB电气性能测试方法_江西联益科技股份有限公司_202511101357.3
    本申请适用于PCB测试技术领域， 尤其涉及一种PCB电气性能测试方法， 该方法包括：获取测试对象信息；其中， 所述对象信息包括与PCB板相对应的反映所述PCB板线路结构的PCB图像以及标注在所述PCB图像上的至少一个测试区域， 所述测试区域...
    2026-01-16
  • 一种面向复杂扰动场景的工控主板抗干扰性能评估系统及方法
    一种面向复杂扰动场景的工控主板抗干扰性能评估系统及方法_合硕信息科技(深圳)有限公司_202511120674.X
    本发明涉及工业自动化电子测试技术领域， 具体涉及一种面向复杂扰动场景的工控主板抗干扰性能评估系统及方法， 包括时钟扰动场景生成模块、动态时钟干扰注入模块、时钟总线劣变采集模块以及抗干扰等级输出模块；其中：时钟扰动场景生成模块：用于生成时钟扰...
    2026-01-16
  • 一种测试治具和测试系统
    一种测试治具和测试系统_苏州元脑智能科技有限公司_202511223098.1
    本申请公开了一种测试治具和测试系统， 涉及电路设计技术领域。通过在治具本体上预设与拼板结构功能测试点一一对应的探针， 并通过导线与外部测试设备电连接， 使拼板结构在未分割状态下即可直接完成功能接口的对接与信号采集， 避免了相关技术中必须先行...
    2026-01-16
  • 一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统
    一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统_北京柏瑞安电子技术有限公司_202511239297.1
    本发明公开一种BMS板卡缺陷智能检测方法及系统， 旨在通过采集多域异常信号进行频域融合构建电路状态谱库， 识别异常阻抗模式并生成缺陷激励点；对热红外分布信号进行梯度解析生成热流拓扑场， 提取异常热源位置并建立热电耦合坐标；在缺陷激励点注入扫...
    2026-01-16
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