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  • 本申请提供一种芯片测试装置,涉及芯片测试领域,能够改善因测试插座与电路板之间存在空气间隙(air gap)而产生的信号串扰问题。该芯片测试装置包括电路板和测试插座。其中,测试插座包括插座本体、中间介质层、多个探针、多个导电部。中间介质层设置...
  • 本发明涉及芯片封装领域,特别是涉及一种芯片的功能性测试封装结构及芯片功能性测试方法,包括测试电路板及设置在所述测试电路板上的叠放芯片组;所述叠放芯片组中包括多个叠放的芯片;同一所述叠放芯片组中的多个芯片上相同的复用信号端口互相键合,并与所述...
  • 本发明公开了一种手持式超短波电台维修平台以及检测系统,本发明涉及检测维修技术领域,包括维修平台本体,所述维修平台本体分别设置有安装组件、检测机构以及显示机构,本发明的优点在于:通过手持式超短波电台中的PCB板依次平铺在相应的工位槽上,通过螺...
  • 本发明属于空间辐射技术领域,公开了一种碳基器件单粒子效应脉冲激光测试系统及等效LET值计算方法,可用于指导碳基器件单粒子效应脉冲激光试验。该系统由脉冲激光器、探针测试平台、供电系统、控制系统及高频示波器构成,基于该系统的等效该方法基于碳基器...
  • 本申请提供一种考虑封装温度分布的导通压降与结温暂态关系测试方法,包括:建立封装材料瞬态温度模型,对功率半导体器件内封装材料的温度进行集总参数等效与替换,得到导通压降与结温间的暂态关系式;固定器件的运行时长改变开关频率或母线电压,测量多组不同...
  • 本发明公开了一种用于监测电力电子开关器件的非接触式天线传感器,包括环形天线,振荡电路,以及检测电路;被测电力电子开关器件在开关暂态过程中的电流i变化引起周围磁场B变化,进而引起环形天线的平面磁通量Φ的变化,使得环形天线两端产生感应电动势e;...
  • 本申请公开了一种负偏压温度不稳定测试的测试执行方法,属于半导体技术领域。针对半导体器件在负偏压温度不稳定测试中测试时间较长且需要推算的技术问题,本申请基于半导体器件的幂律寿命模型通过提高栅极电压幅值将负偏压温度不稳定测试的标准测试条件映射为...
  • 本发明属于功率电子技术领域,本发明公开了一种GaN功率器件导通电阻在线监测方法及系统,其方法包括以下步骤:在测试过程中,首先通过热敏电参量实时测量GaN器件的结温;然后,通过环境控制模块调节GaN器件所处的工作环境,确保结温稳定在预设的固定...
  • 本申请公开了一种功率半导体器件测试系统以及设备。本申请所述的一种功率半导体器件测试系统包括电源模块、功率模块、多电感模块、测量模块和控制模块。本申请通过引入多电感模块,使控制模块根据开关模式控制多电感模块选通目标电感与功率模块连接,能够形成...
  • 本发明涉及半导体器件测试技术领域,公开了一种模块密封充氮高温测试系统,包括密封充氮系统,内部形成密封空间,外部氮气通入到所述密封充氮系统内的密封空间内;产品加热测试系统,固定连接在所述密封充氮系统内,待测模块输送至所述产品加热测试系统上,当...
  • 本发明公开了一种基于调制光反射的半导体电阻率无损检测方法与系统,涉及半导体电阻率检测技术领域,通过光反射调制信号精确精确测量探测光反射率的调制分量ΔR/R,从而计算出半导体电阻率,进而实现半导体电阻率的定量测量。本发明具有超高灵敏度,能够探...
  • 本发明公开了一种交流功率可调的IGBT模块试验系统及方法,属于电子器件试验技术领域。其系统包括第一IGBT半桥模块、第二IGBT半桥模块和交流支路;第一IGBT半桥模块和第二IGBT半桥模块的交流输出端通过交流支路连接;交流支路包括可调电阻...
  • 本发明涉及半导体器件性能测试技术领域,尤其涉及一种可调脉宽的功率半导体I‑V曲线测试电路。其技术方案包括控制单元和主回路功率开关,控制单元用于产生并输出三路具有预设时序逻辑的驱动信号;主回路功率开关其控制端连接至所述控制单元的第一驱动通道,...
  • 本发明提供了一种GaN器件动态高温工作寿命试验电路、方法及装置,其中电路包括:电压输出模块、驱动试验模块、续流模块和负载输出模块,其中:电压输出模块与续流模块、GaN器件电连接;GaN与SiC陪测器件、续流模块电连接,GaN栅极作为其控制端...
  • 本申请提供一种防凝露结构及半导体器件测试设备,涉及半导体器件测试技术领域。该防凝露结构包括基座,基座上设有贯通孔,贯通孔与穿墙板适配,并用于供穿墙板穿过,基座内设有空腔和连接管路,空腔环绕贯通孔并与贯通孔连通,基座上还设有进气接口和出气接口...
  • 本申请涉及半导体器件测试技术领域,具体涉及一种半导体器件测试装置,包括箱体、液冷组件、测试工位组件以及驱动模块;所述液冷组件包括多个呈阵列设置在所述箱体内壁的液冷模块;所述测试工位组件包括支撑框架以及多个安装在所述支撑框架上的被测器件承载模...
  • 本发明涉及电缆绝缘性能检测技术领域,具体的是一种电力电缆绝缘性能综合测试装置及测试方法,包括支架,支架上通过转动总成连接有用于放置待测电缆的测试仓,测试仓上通过驱动组件滑动插接有密封框盖,密封框盖上设置有模拟直埋式电缆实际工况的拟真总成,本...
  • 本发明涉及电力设备检测技术领域,公开了一种气体绝缘开关设备的绝缘缺陷检测方法及系统,包括:通过短波辐照与阶梯电压的协同作用,主动激发绝缘缺陷的放电过程,主动激发替代被动等待,有效解决了微小气隙缺陷因自然电子产率不足导致的检测盲区问题,多参数...
  • 本发明涉及电缆检测技术领域,具体的是基于暂态行波信号特征的电缆绝缘状态评估及预警方法,包括:以暂态行波信号的故障距离和高低频能量差异区分区内故障和区外故障,结合当前待检测电缆的拓扑结构,确定初步识别的故障点;将故障点进行二次区域映射,通过暂...
  • 本发明公开一种高压线缆组件耐压测试箱,涉及高压线缆组件测试技术领域,包括耐压测试箱,所述耐压测试箱包括打压油桶主体,所述打压油桶主体的顶端通过螺丝可拆卸安装打压油桶上盖,所述打压油桶主体内部中空设置,所述打压油桶上盖上设置有连接组件,所述打...
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