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最新专利技术
  • 一种晶圆红外检测测试设备
    一种晶圆红外检测测试设备_广东凯威存储技术股份有限公司_202610143685.8
    本发明涉及一种晶圆红外检测测试设备，包括工作台，工作台的底部设置有驱动电机，驱动电机的顶部驱动连接有固定机构，工作台的顶部设置有红外激光检测仪，固定机构包括固定安装在驱动电机输出端的连接座，连接座的顶部设置有基座，基座的内部设置有定心机构与...
    2026-05-15
  • 一种基于机器视觉的LED显示屏灯珠缺失自动检测系统
    一种基于机器视觉的LED显示屏灯珠缺失自动检测系统_安徽凝彩新型显示器件有限公司_202610194080.1
    本发明属于LED显示屏技术领域，尤其是一种基于机器视觉的LED显示屏灯珠缺失自动检测系统，包括输送线，所述输送线的框架外表面设置有检测部件，所述检测部件包括检测相机，所述检测相机对LED显示屏的灯珠缺失进行检测。该基于机器视觉的LED显示屏...
    2026-05-15
  • 一种高速线束芯线质量在线检测装置
    一种高速线束芯线质量在线检测装置_东莞市捷信机电设备有限公司_202610224813.1
    本发明涉及高速线缆生产检测技术领域，具体公开了一种高速线束芯线质量在线检测装置，包括机架、沿线束路径布置的检测组件以及位于下游的标记组件。检测组件配置有气浮导向机构，包含呈圆周阵列的透气滑块和调节组件；调节组件采用类似卡盘的原理驱动滑块径向...
    2026-05-15
  • 一种新材料纤维布的瑕疵检测装置
    一种新材料纤维布的瑕疵检测装置_江苏锦熙新材料有限公司_202610252846.7
    本发明公开了一种新材料纤维布的瑕疵检测装置，包括：外壳，所述外壳的前部安装有可以打开的旋转门，所述外壳的内壁固定安装有支撑板，所述支撑板的内壁通过连杆转动连接有卷筒，所述卷筒的圆周面卷绕有布料；照射机构，所述照射机构设置在外壳的顶部，所述照...
    2026-05-15
  • 基于图像识别的印刷电路板微缺陷检测方法及系统
    基于图像识别的印刷电路板微缺陷检测方法及系统_西安朗创电子技术有限公司_202610320377.8
    本申请公开了一种基于图像识别的印刷电路板微缺陷检测方法及系统，涉及电子组件检测技术领域。该方法具体包括：获取待检测组件表面多光谱图像序列，生成含空间位置与异常程度的初步缺陷热力图；依据组件物理结构与材料属性建立形态规则库，定义缺陷典型几何形...
    2026-05-15
  • 一种微纳米气泡溶液中气泡含气率测量方法及系统
    一种微纳米气泡溶液中气泡含气率测量方法及系统_中山大学_202610432895.9
    本发明提出一种微纳米气泡溶液中气泡含气率测量方法及系统，涉及流体测量的技术领域，方法包括采集时域反射波形信号和微纳米气泡溶液的溶液温度；基于所述时域反射波形信号，提取微纳米气泡溶液的特征参数；构建气泡含气率测量模型，对气泡含气率测量模型的系...
    2026-05-15
  • 一种基于雷达扫描的耐火材料内部结构缺陷无损探测方法
    一种基于雷达扫描的耐火材料内部结构缺陷无损探测方法_中钢洛耐科技股份有限公司_202610416272.2
    本发明属于耐火材料制品无损探测技术领域，公开了一种基于雷达扫描的耐火材料内部结构缺陷无损探测方法，针对致密度较高的熔铸制品、体积密度较大的烧结制品等特殊耐火材料制品，通过线性扫描或区域扫描，结合线性波形、二维图谱和迁移视图，形成可任意调整观...
    2026-05-15
  • 一种纳米级分辨率金属材料中氢分布的电子显微分析方法
    一种纳米级分辨率金属材料中氢分布的电子显微分析方法_中国工程物理研究院核物理与化学研究所_202610320316.1
    本申请涉及一种纳米级分辨率金属材料中氢分布的电子显微分析方法，属于透射电镜显微分析技术领域。纳米级分辨率金属材料中氢分布的电子显微分析方法包括：对待测样品的待测区域进行像素点扫描采集，获取电子能量损失谱数据集Pij；零损峰对中处理获得电子能...
    2026-05-15
  • 一种X射线检测系统
    一种X射线检测系统_天津三英精密仪器股份有限公司_202610040388.0
    本发明公开了一种X射线检测系统，包括开设有通孔的固定板和转盘、可沿X轴和Y轴进行平移的平移组件、驱动连接于转盘的旋转组件、连接于平移组件的样本仓、连接于转盘的X射线组件和智能控制模组、X射线源、连接于X射线源的滤波片自动调节组件、平板探测器...
    2026-05-15
  • 一种实现空间位姿自动补偿的GIS设备X射线检测方法
    一种实现空间位姿自动补偿的GIS设备X射线检测方法_国网宁夏电力有限公司电力科学研究院_202610290498.2
    本发明提供一种实现空间位姿自动补偿的GIS设备X射线检测方法，属于GIS设备检测技术领域，本发明通过激光雷达多视角扫描获取GIS设备点云数据，采用自适应多尺度统计滤波消除噪声，利用深度展开网络和稀疏编码结合的空间配准优化模型实现非刚性点云配...
    2026-05-15
  • 基于计算机视觉的芯片缺陷诊断方法及其检测系统
    基于计算机视觉的芯片缺陷诊断方法及其检测系统_成都大学_202610436796.8
    本申请公开了一种基于计算机视觉的芯片缺陷诊断方法及其检测系统。包括以下步骤：S1.对同一待测芯片，同步或依次采集来自第一传感单元的第一模态数据和来自第二传感单元的第二模态数据，其中，第一传感单元与第二传感单元基于不同物理原理工作；S2.将配...
    2026-05-15
  • 一种微痕检测CT装置的防护结构及其控制方法
    一种微痕检测CT装置的防护结构及其控制方法_山东美汉林智能装备科技有限公司_202610299373.6
    一种微痕检测CT装置的防护结构及其控制方法，包括第一罩体、第二罩体、第三罩体、基坑、升降机构、基板、基座、隔震机构、轴承；第一罩体、第二罩体、第三罩体按同心同轴方式依次嵌套组成；第一罩体为最内层罩体，其通过隔振机构安装于基座上，基座安装于基...
    2026-05-15
  • 一种基于原位‌CT的松散煤岩体多场耦合测试系统和方法
    一种基于原位‌CT的松散煤岩体多场耦合测试系统和方法_煤炭科学研究总院有限公司_202610443583.8
    本公开提出一种基于原位‌CT的松散煤岩体多场耦合测试系统和方法，系统包括：原位反应装置、CT装置、供气装置、气体分析装置和数据采集模块；其中，原位反应装置用于装填松散煤岩体，且原位反应装置的石英外壁设置有真空隔热腔室；原位反应装置转动设置在...
    2026-05-15
  • 高分辨台式X射线谱仪和X射线吸收谱测试方法
    高分辨台式X射线谱仪和X射线吸收谱测试方法_安徽吸收谱仪器设备有限公司_202610463683.7
    本发明公开了一种分辨台式X射线谱仪和X射线吸收谱测试方法，涉及光谱测量技术领域。高分辨台式X射线谱仪包括：样品信号源，位于多罗兰圆内部，用于产生X射线；指数晶体，为弯曲晶体，其表面形状由指数方程定义，使得晶体曲面上不同点具有不同的曲率半径且...
    2026-05-15
  • 一种用于ABC干粉灭火剂中硫酸铵含量的检测方法
    一种用于ABC干粉灭火剂中硫酸铵含量的检测方法_浙江方圆检测集团股份有限公司_202610085325.7
    本发明一种用于ABC干粉灭火剂中硫酸铵含量的检测方法，该方法首先通过X射线衍射定性判断样品是否含有硫酸铵；接着采用纳氏试剂分光光度法测定总氨氮含量，重量法测定磷酸二氢铵含量，离子色谱法测定干扰组分氨氮含量；最后根据氮元素守恒计算硫酸铵含量。...
    2026-05-15
  • 一种三元锂电池高温循环过程中产热与Li+/Ni2+混排的关联表征方法
    一种三元锂电池高温循环过程中产热与Li+/Ni2+混排的关联表征方法_烟台职业学院_202610390825.1
    本发明提供了一种三元锂电池高温循环过程中产热与Li+/Ni2+混排的关联表征方法，包括以下步骤：组装三元锂电池进行充放电循环；利用XRD对三元锂电池正极材料循环过程中的结晶状态进行测试表征，采用TOPAS软件对晶相衍射峰进行峰位识别和强度分...
    2026-05-15
  • 一种消除EBSD金属样品电解抛光制备诱发黑斑的方法
    一种消除EBSD金属样品电解抛光制备诱发黑斑的方法_扬州大学_202511886511.2
    本发明公开了一种消除EBSD金属样品电解抛光制备诱发黑斑的方法，包括切割试样并清洗：采用线切割机切割试样，并放入超声波清洗机中清洗后吹干；粗磨：采用砂纸在金相研磨机上祛除线切割产生的硬化层；精磨：采用目数不同的砂纸按照目数由低到高依次湿磨试...
    2026-05-15
  • 4D-STEM材料缺陷自动化检测方法及系统
    4D-STEM材料缺陷自动化检测方法及系统_上海交通大学_202511965020.7
    本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种4D‑STEM材料缺陷自动化检测方法及系统，方法包括：获取4D‑STEM数据并结构化处理，生成学生网络输入的低维特征与教师网络输入的特权模态数据；构建非对称教师‑学生网络，教师网络处理特权模态获物理语...
    2026-05-15
  • 一种应用于导电性不良的晶圆样品的扫描电镜制样方法
    一种应用于导电性不良的晶圆样品的扫描电镜制样方法_北京理工大学_202511879538.9
    本发明属于扫描电镜技术领域，具体涉及一种应用于导电性不良的晶圆样品的扫描电镜制样方法，包括以下步骤：将晶圆样品进行清洗处理；将清洗处理后的晶圆样品固定在匀胶机的载物盘上，然后在晶圆样品表面滴加导电胶，通过匀胶机旋涂，将导电胶均匀涂覆在晶圆样...
    2026-05-15
  • 一种快速检测化工废水中砷含量的方法
    一种快速检测化工废水中砷含量的方法_金川集团永昌铜业有限公司_202610110887.2
    本发明涉及一种快速检测化工废水中砷含量的方法，包括以下步骤：S1样品前处理优化：取化工废水硫化液体样品，经过滤即得待检测样品；S2能量色散X荧光仪参数调试：根据砷元素的特征X射线能量范围，设置仪器的能量检测区间，确定最优检测时间参数；S3建...
    2026-05-15
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