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最新专利技术
  • 一种功率半导体器件老化程度确定方法、设备及介质
    一种功率半导体器件老化程度确定方法、设备及介质_苏州鑫达半导体科技有限公司_202511322643.2
    本发明公开了一种功率半导体器件老化程度确定方法、设备及介质，涉及半导体器件可靠性检测技术领域，包括，以复合数据序列为输入，构建电热双向递归神经网络模型，对电气特性数据进行温度补偿，生成纯净老化信号；对纯净老化信号进行时域与频域分析，提取漂移...
    2026-04-03
  • 功率器件的在线监测方法及在线监测装置
    功率器件的在线监测方法及在线监测装置_上海英恒电子有限公司_202511360052.4
    本发明公开了一种功率器件的在线监测方法及在线监测装置，方法包括：在功率器件的使用过程中，实时获取功率器件的特征参数；根据功率器件的特征参数、功率器件的特征参数的变化率以及功率器件的特征参数的变化率变化的趋势中的至少一者，确定功率器件的工作状...
    2026-04-03
  • 测试系统及侦测测试错误的方法
    测试系统及侦测测试错误的方法_南亚科技股份有限公司_202511387292.3
    提供一种测试系统，测试系统包含测试装置、监控装置及侦测装置。测试装置包含探针装置。探针装置测试晶圆以产生测试数据。监控装置耦接测试装置，及产生图片。图片包含晶圆的多个晶片。所述多个晶片的每一者是根据测试数据以对应颜色显示。侦测装置包含第一存...
    2026-04-03
  • 一种结温确定方法、装置、设备和可读存储介质
    一种结温确定方法、装置、设备和可读存储介质_长城汽车股份有限公司_202511425567.8
    本申请提供了一种结温确定方法、装置、设备和可读存储介质，应用于电力电子技术领域。该方法包括：确定功率模块的参考热阻抗和热损耗功率，根据散热器的冷却液流量对参考热阻抗进行修正得到目标热阻抗，根据目标热阻抗和热损耗功率确定功率模块的预测结温。在...
    2026-04-03
  • 基于数据分析的功率半导体性能评估方法及系统
    基于数据分析的功率半导体性能评估方法及系统_深圳市美浦森半导体有限公司_202511434995.7
    本发明涉及电力电子技术领域，一种基于数据分析的功率半导体性能评估方法及系统，包括：接收功率半导体的性能评估指令，基于所述性能评估指令确认出功率半导体的目标失效应力，当功率半导体的目标失效应力为低失效应力时，对功率半导体进行性能测试，利用基础...
    2026-04-03
  • 一种元器件替换设备
    一种元器件替换设备_苏州玖物智能科技股份有限公司_202511528733.7
    本发明提供一种元器件替换设备，其包括：机台，传输机构，以及沿传输线体的流转方向依次布设于机台上的抽屉上下料机构，解螺丝机构，检测机构，替换机构，盖板装配机构，以及锁螺丝机构；治具载板用于带动其上的抽屉治具沿传输线体流转，并在流转过程中完成元...
    2026-04-03
  • 基于瞬态热阻测量的发光二极管芯片结温检测方法
    基于瞬态热阻测量的发光二极管芯片结温检测方法_深圳市鑫业新光电有限公司_202511566753.3
    本发明提供了基于瞬态热阻测量的发光二极管芯片结温检测方法，涉及发光元件检测技术领域，所述方法包括：构建芯片测试控制模块，按照芯片应用场景对目标发光二极管芯片进行热阻测试参数设计，生成芯片热阻测试参数表，将目标发光二极管芯片置于绝缘材料封装温...
    2026-04-03
  • SiC MOSFET栅氧化层退化综合诊断方法及系统
    SiC MOSFET栅氧化层退化综合诊断方法及系统_湖南大学_202511679946.X
    一种SiC MOSFET栅氧化层退化综合诊断方法及系统，方法包括：构建数据集，训练得到结温估算函数；通过测量电路获取实际运行条件下的实际前驱参数，将实际前驱参数代入到结温估算函数中，得到当前实际结温估计值，将当前实际结温估计值代入到栅氧化层...
    2026-04-03
  • 一种基于自由载流子吸收的半导体量子点材料电学特性测量方法
    一种基于自由载流子吸收的半导体量子点材料电学特性测量方法_西安工业大学_202511693255.5
    本发明涉及一种基于自由载流子吸收的半导体量子点材料电学特性测量方法；包括以下步骤：将泵浦激光和连续探测激光先后入射到被测半导体样品相同位置，改变泵浦激光功率，自由载流子的浓度将发生非线性变化，且其非线性特性与量子点中激子和载流子的特性密切相...
    2026-04-03
  • 产品检测方法、装置、存储介质和电子设备
    产品检测方法、装置、存储介质和电子设备_芯联集成电路制造股份有限公司_202511823575.8
    本申请提供一种产品检测方法、装置、存储介质和电子设备，其中，产品检测方法包括：获取目标产品的一种或者多种测试参数的检测数据；针对每个测试参数，基于测试参数的检测数据，通过线性拟合得到测试参数的变化趋势，并生成用于量化变化趋势的线性程度的评估...
    2026-04-03
  • 测试设备及预烧装置
    测试设备及预烧装置_闳康科技股份有限公司_202410892844.5
    本发明公开一种测试设备及预烧装置。测试设备包含设备本体、处理装置、温度调整装置、N个直流电源供应模块及预烧装置。设备本体包含腔室，处理装置能控制温度调整装置，以使腔室的温度达到默认温度。预烧装置包含电路板及M个芯片承载座。当电路板的一侧与腔...
    2026-04-03
  • 数模转换芯片测试系统及电子设备
    数模转换芯片测试系统及电子设备_上海卫星互联网研究院有限公司_202410895724.0
    本申请提出一种数模转换芯片测试系统及电子设备，涉及芯片技术领域，其中，系统包括：上位机，芯片评估母版，多个芯片评估子板；所述上位机用于根据测试项目确定测试指令，并将所述测试指令发送至芯片评估母版，并接收所述芯片评估母版发送的测试反馈数据；所...
    2026-04-03
  • 一种自动化芯片测试装置
    一种自动化芯片测试装置_华测芯动半导体科技(苏州)有限公司_202511232360.9
    本发明公开了一种自动化芯片测试装置，涉及测试装置技术领域，包括芯片测试座，芯片测试座包括：座体，其底部倒置设有容置芯片的测试槽；运送机构，其水平移动设置在座体上并位于座体的下方；连接架，其竖向移动设置在运送机构上，其上设有两个载台；通过运送...
    2026-04-03
  • 延迟激励产生装置、方法、测试平台、电子设备及介质
    延迟激励产生装置、方法、测试平台、电子设备及介质_北京天数智芯半导体科技有限公司_202511291046.8
    本申请涉及一种延迟激励产生装置、方法、测试平台、电子设备及计算机可读存储介质，属于测试领域。延迟激励产生装置包括：第一应用接口和百分比延迟生成器。第一应用接口用于获取用户配置的第一激励描述文件，第一激励描述文件包括：包含百分比变量、观测窗口...
    2026-04-03
  • 芯片温湿度老化测试系统
    芯片温湿度老化测试系统_苏州尼硕库电子科技有限公司_202511327698.2
    本发明公开了芯片温湿度老化测试系统，本发明涉及芯片的温湿度老化测试领域，包括核心控制与数字孪生融合模块、立体式温湿度场主动构建模块、多物理场耦合应力加载模块、能量自适配供给模块、全生命周期数据溯源与智能评估模块。本发明所述的芯片温湿度老化测...
    2026-04-03
  • 一种芯片潮湿敏感度检测装置
    一种芯片潮湿敏感度检测装置_合肥聚跃检测技术有限公司_202511364951.1
    本发明公开了一种芯片潮湿敏感度检测装置，涉及芯片检测技术领域，包括烘干箱、恒温恒湿箱、回流焊炉和超声波扫描检测仪；还包括自动转移隔离机构；所述自动转移隔离机构包括干燥隔离仓和用于传输芯片的传输机构，所述干燥隔离仓固定设置于所述烘干箱和恒温恒...
    2026-04-03
  • 汽车电网管理模块PCBA测试系统
    汽车电网管理模块PCBA测试系统_上海沪工汽车电器有限公司_202511375224.5
    本发明公开了一种汽车电网管理模块PCBA测试系统，该系统包括集成化工站，该工站集成有PCBA上料、烧录、测试、合料功能，通过机械手臂实现PCBA的自动抓取、烧录、测试和合料；仪表测试模块，用于根据汽车电网管理模块的产品功能特性，对所述模块的...
    2026-04-03
  • 芯片量产测试环境的恢复方法、装置及电子设备
    芯片量产测试环境的恢复方法、装置及电子设备_深圳市辰卓科技股份有限公司_202511377046.X
    本申请适用于半导体测试技术领域，提供了一种芯片量产测试环境的恢复方法、装置及电子设备，所述芯片量产测试环境的恢复方法对用于执行芯片测试任务的第二模块进行异常检测，在发现异常后由用于用户交互与监控的第一模块于超时容忍区间内触发恢复，至少重启第...
    2026-04-03
  • 一种单片机多功能智能测试装置
    一种单片机多功能智能测试装置_南京理工大学_202511377413.6
    本发明公开一种单片机多功能智能测试装置，包括待测单片机系统板和协处理单片机系统板，二者作为插件安装于测试主板。此外，测试装置集成串口通信选择模块、TTL‑RS232/RS422/RS485转换模块、拨码开关组、发光二极管阵列、JTAG程序烧...
    2026-04-03
  • 一种半导体测试设备测试结构
    一种半导体测试设备测试结构_苏州博康智能科技有限公司_202511378394.9
    本申请公开了一种半导体测试设备测试结构，涉及半导体测试的技术领域。一种半导体测试设备测试结构包括传送线，传送线上安装有用于放置芯片的托盘，传送线的两侧分别设有用于对芯片进行状态判断的检测装置；检测装置包括第一基座，第一基座上滑动连接有第二基...
    2026-04-03
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