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最新专利技术
  • 一种基于多维感知的柔性电路板性能测试自动化装置
    一种基于多维感知的柔性电路板性能测试自动化装置_苏州嘉财电子有限公司_202511359539.0
    本发明涉及电路板检测领域，提供了一种基于多维感知的柔性电路板性能测试自动化装置，包括支架、气缸一及托板，气缸一及托板均连接于支架上，气缸一的活塞杆上连接有压板，支架上连接有负压风机及喷头二，托板上连接有气缸三、喷头一和两个及以上存箱，气缸三...
    2026-03-11
  • 一种电路板通电电压检测装置
    一种电路板通电电压检测装置_江西遂川通明电子科技有限公司_202511334454.7
    本发明涉及电路板检测技术领域，具体为一种电路板通电电压检测装置，包括检测仪器，还包括移送机构、放板架、移板机构和故障提示器，移送机构的移动路径的侧方设有多个检修工位，移送机构的顶部设有升降机构，升降机构上设有检测平台，检测仪器设在检测平台上...
    2026-03-11
  • 柔性电路板的寿命预测方法及系统
    柔性电路板的寿命预测方法及系统_珠海市沃德科技有限公司_202511330169.8
    本申请涉及电路板检测技术领域，提供了柔性电路板的寿命预测方法及系统，该方法包括：实时获取柔性电路板的多点检测数据信息，并基于所述多点检测数据信息生成所述柔性电路板的损伤分布热力图；所述柔性电路板包括多个功能区域；基于所述损伤分布热力图识别潜...
    2026-03-11
  • 一种多工位模块化集成转塔式IC测试设备及测试方法
    一种多工位模块化集成转塔式IC测试设备及测试方法_先之科半导体科技(东莞)有限公司_202511311269.6
    本发明涉及IC测试相关技术领域，具体是一种多工位模块化集成转塔式IC测试设备及测试方法，所述多工位模块化集成转塔式IC测试设备包括测试柜及设于所述测试柜内的转塔，还包括：承接座，用于放置待测IC界面板，所述承接座在所述转塔上沿圆周等距设有多...
    2026-03-11
  • 一种用于液晶屏故障快速检测系统及方法
    一种用于液晶屏故障快速检测系统及方法_晶铯电子科技(东莞)有限公司_202511276300.7
    本发明公开了一种用于液晶屏故障快速检测系统及方法，涉及液晶屏故障检测技术领域。该用于液晶屏故障快速检测系统，包括：液晶屏反馈信号采集模块、液晶屏特征提取模块和液晶屏故障检测模块。本发明通过采集液晶屏在预设驱动状态下各行列的反馈信号，并进行反...
    2026-03-11
  • 一种制冷型红外探测器暗电流的测试方法
    一种制冷型红外探测器暗电流的测试方法_昆明物理研究所_202511251833.X
    本发明公开了一种制冷型红外探测器暗电流的测试方法，涉及制冷型红外探测器性能测试技术领域。该方法包括：步骤A，在制备好的探测器芯片表面制备多层金属镀层；步骤B，制备低矮的盲冷屏；步骤C，芯片封装；步骤D，暗电流测试，测试过程中保证组件低温环境...
    2026-03-11
  • 一种PCB线路板的漏电保护检测方法与系统
    一种PCB线路板的漏电保护检测方法与系统_深圳市汉龙赋科技有限公司_202511247749.0
    本发明涉及印刷电路板检测的技术领域，公开了一种PCB线路板的漏电保护检测方法以及系统，通过多点分布式传感器采集关键节点的电流电压信号，对原始信号进行时间对齐和同步处理，采用小波包分解提取时频域特征，结合能量谱分析识别异常节点，应用卡尔曼滤波...
    2026-03-11
  • 一种电源芯片测试方法、系统、设备及存储介质
    一种电源芯片测试方法、系统、设备及存储介质_锦州科瑞微电子有限公司_202511244250.4
    本发明属于芯片测试技术领域，涉及一种电源芯片测试方法、系统、设备及存储介质。本发明通过采集电源芯片实际负载数据构建动态负载跳变序列，结合连续输入电压顺变、周期性启停冲击测试，同步监测多维度参数，解决现有固定测试与实际场景脱节、单一指标评估片...
    2026-03-11
  • 一种用于检测PCB电路板缺陷的装置
    一种用于检测PCB电路板缺陷的装置_昆山磊晶电子有限公司_202511241398.2
    本发明涉及PCB电路板技术领域，公开了一种用于检测PCB电路板缺陷的装置，包括底板，其用于检测PCB电路板缺陷的装置内部零部件的承载安装，两个块体，其设置于电路板本体的两端，所述两个块体被设置为，当两个块体相互靠近运动时，能够对电路板本体进...
    2026-03-11
  • 一种pcb板用测试装置
    一种pcb板用测试装置_河南霍夫动力科技有限公司_202511237212.6
    本发明公开了一种PCB板用测试装置，包括测试箱体、测试治具、测试仪器和控制上位机。测试箱体内设有模拟电池模块、逻辑控制模块、中间继电器模组、基准BMS模块及供电电源；模拟电池模块输出多路可调电芯电压供待测PCB板采样，逻辑控制模块接收上位机...
    2026-03-11
  • 多通道抗干扰芯片的测试方法、装置、设备及存储介质
    多通道抗干扰芯片的测试方法、装置、设备及存储介质_广州润芯信息技术有限公司_202511213580.7
    本发明公开了一种多通道抗干扰芯片的测试方法、装置、设备及存储介质，该方法应用于测试系统，该系统包括信号源、多路功分器、模数转换电路和数据处理单元，该方法包括：利用多路功分器将信号源产生的激励信号均分为多路激励子信号；将各激励子信号并行注入待...
    2026-03-11
  • 一种电路板故障智能检测系统
    一种电路板故障智能检测系统_华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)_202511185937.5
    本发明的技术方案是公开了一种电路板故障智能检测系统。针对电路故障检测，本发明设计了一种满足电路故障检测功能的检测系统，支持人机交互显示，电路板故障快速定位，记录检测数据和查看功能。针对智能化需求，本发明公开的检测系统具有人机交互模块，数据处...
    2026-03-11
  • 一种双恒流源自动调零的热导检测电路
    一种双恒流源自动调零的热导检测电路_安徽皖仪科技股份有限公司_202511169485.1
    本发明公开了一种双恒流源自动调零的热导检测电路，属于四热丝电桥热导检测技术领域，包括第一热丝电阻模块、第二热丝电阻模块、第一电流负反馈调节模块、第二电流负反馈调节模块、检测模块、电流设定模块；所述第一热丝电阻模块与第一电流负反馈调节模块连接...
    2026-03-11
  • 推导实时故障率的方法、计算机可读介质及计算机系统
    推导实时故障率的方法、计算机可读介质及计算机系统_台湾积体电路制造股份有限公司_202511125421.1
    本公开提供了推导集成电路的实时故障率的方法、非瞬态计算机可读介质及计算机系统。方法包括以下步骤：获得包括多个单元的集成电路的操作波形；基于所获得的操作波形执行到集成电路内的每个单元的状态映射；计算集成电路内的每个单元的一个或多个操作电压状态...
    2026-03-11
  • 一种多功能板卡快速测试装置
    一种多功能板卡快速测试装置_南京熊猫电子股份有限公司_202511106910.2
    本发明公开了一种多功能板卡快速测试装置，包括电源处理部分、板卡快速固定部分、电性能测试部分、综合控制部分以及各种接口；所述接口包括装置外部供电接口、装置对外通信接口、外接仪表接口以及外接烧录接口；电源处理部分接收外部输入交流供电电源信号，转...
    2026-03-11
  • 一种基于BIST的TSV快速测试诊断电路
    一种基于BIST的TSV快速测试诊断电路_浙江大学_202511005546.0
    本发明公开一种基于BIST的TSV快速测试诊断电路，包括：设置连接在发送端的芯粒和接收端的芯粒之间的TSV收发阵列和互连对双向测试电路，其中的TSV接收阵列的每条TSV上均连接设置有缺陷自动识别模块；互连对双向测试电路基于内建自测试技术设计...
    2026-03-11
  • 一种测试电路和堆叠芯片的测试方法
    一种测试电路和堆叠芯片的测试方法_长鑫科技集团股份有限公司_202410727842.0
    本公开提供了一种测试电路和堆叠芯片的测试方法，测试电路包括：多条导电通路、测试控制电路、电源控制电路和缺陷检测电路；测试控制电路配置为，响应于测试时钟信号依次接收串行输入的测试控制信号生成并输出与多条导电通路一一对应的多个测试使能信号；电源...
    2026-03-11
  • 可调门极电压的驱动电路及设备
    可调门极电压的驱动电路及设备_杭州飞仕得科技股份有限公司_202511631945.8
    本申请提供可调门极电压的驱动电路及设备，涉及半导体测试技术领域。该电路包括：驱动芯片、恒压电源、后级驱动电路、正压可调电源及负压可调电源，后级驱动电路，用于通过后级驱动电路的控制端接收驱动芯片输出的驱动信号，并在驱动信号的作用下向被测器件输...
    2026-03-11
  • 一种IGCT单级频率工作特性测试装置
    一种IGCT单级频率工作特性测试装置_国网经济技术研究院有限公司_202511411665.6
    本发明公开了一种IGCT单级频率工作特性测试装置，应用于电气测量领域，包括单级IGCT测试压装结构、信号控制系统、单级吸收回路及外部供能电路，单级IGCT测试压装结构用于安装固定元件并提供电气连接，信号控制系统通过光纤向单级IGCT测试压装...
    2026-03-11
  • 一种重离子辐照对氮化镓高电子迁移率晶体管逆压电效应影响的试验方法
    一种重离子辐照对氮化镓高电子迁移率晶体管逆压电效应影响的试验方法_中国科学院新疆理化技术研究所_202511334195.8
    本发明涉及一种重离子辐照对氮化镓高电子迁移率晶体管逆压电效应影响的试验方法，该方法是由试验样品选择及分组、重离子辐照试验、逆压电效应试验组成。氮化镓高电子迁移率晶体管由于自身特殊的压电效应的影响，在高电压下会引起逆压电效应，导致晶体管性能下...
    2026-03-11
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