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最新专利技术
  • 自动高温计跟踪
    自动高温计跟踪_贺利氏科万特北美有限责任公司_202480030998.1
    描述了用于在烧结工艺中将温度测量装置与模腔自动对准的部件、系统、组件及其相关方法。这些包括监测模具上的位置的温度，并且包括高温计、安装到该高温计的激光测量装置，以及投射激光束和测量从该激光测量装置到该激光束投射位置的距离。每个激光装置输出信...
    2026-01-14
  • 用于求取至少一个热学特征变量的方法、计算机程序和测量系统
    用于求取至少一个热学特征变量的方法、计算机程序和测量系统_汉堡联邦国防军大学_202480018395.X
    本发明涉及一种用于根据对电气系统的谐振部位的评估来求取电气系统的至少一个热学特征变量的方法。此外，本发明涉及一种用于执行这种方法的计算机程序以及一种测量系统，所述测量系统具有至少一个控制单元，所述控制单元配置用于执行所述方法。
    2026-01-14
  • 压力传感器及其制造方法
    压力传感器及其制造方法_SC2N公司_202480036277.1
    本发明涉及一种压力传感器，其包括连接器、印刷电路(3)、金属本体和压敏元件(5)，所述压敏元件(5)包括衬底(6)，所述衬底(6)包括连接到金属本体(4)的内表面和由介电层(8)覆盖的外表面(7)，在所述介电层(8)上定位有四个电阻器(9、...
    2026-01-14
  • 针对传感器装置的核心组件以及传感器装置
    针对传感器装置的核心组件以及传感器装置_TDK电子股份有限公司_202580002448.3
    说明了一种针对传感器装置(1000)的核心组件(100)，该核心组件包括电路载体(102)，所述电路载体具有顶侧(102a)和与顶侧(102a)相对置的底侧(102b)；压力传感器元件(104)和温度传感器元件(105)，其中所述电路载体(...
    2026-01-14
  • 不平衡修正系统、不平衡修正方法及不平衡修正程序
    不平衡修正系统、不平衡修正方法及不平衡修正程序_岛津产业机械系统株式会社_202480037342.2
    对工件的不平衡量进行测定，基于测定出的不平衡量来运算对所述工件的修正指示量，基于运算出的修正指示量对所述工件实施不平衡修正，对所述修正指示量或基于所述修正指示量的修正动作量进行调整，以使实施了修正的所述工件中残存的残存不平衡量成为减少的趋势...
    2026-01-14
  • 用于识别有源模块的壳体内的临界湿度的方法和装置
    用于识别有源模块的壳体内的临界湿度的方法和装置_罗伯特·博世有限公司_202480037464.1
    本发明涉及一种用于监视有源模块(1)的封闭的壳体(4)内部的湿度的方法，包括以下步骤：‑ 在所述有源模块(1)冷启动后，在预设的冷启动阶段期间检测(S2)所述壳体(4)内部的气体的温度和湿度的时间变化曲线；‑ 提供(S2)所述有源模块(1)...
    2026-01-14
  • 用于样品制备的方法和系统
    用于样品制备的方法和系统_FEI公司_202480037930.6
    在由显微镜系统中的样品台保持样品的同时，铣削该样品以暴露样品内的感兴趣区域(ROI)。基于用样品图像确定的ROI地点来铣削该样品，样品图像用从不同轴照射的光束获取。在使用同一样品台保持样品以进行铣削的同时，获取样品图像。
    2026-01-14
  • 确定导管的应力和应变
    确定导管的应力和应变_贝克休斯控股有限责任公司_202480033959.7
    从应变测量工具接收表征导管的应变的数据。从应力测量工具接收表征导管的应力的数据。基于所接收的表征应变的数据和所接收的表征应力的数据来确定所提供的应力‑应变曲线上的应力‑应变状态位置。然后提供所确定的应力‑应变状态位置。
    2026-01-14
  • 表面增强光谱基底
    表面增强光谱基底_剑桥实业有限公司_202480036523.3
    一种SES基底的处理方法包括提供支撑体并在该支撑体上形成纳米颗粒层。纳米颗粒层包含金属纳米颗粒。纳米颗粒层经过氧化清洁步骤，从而在纳米颗粒表面形成氧化物涂层。随后，对纳米颗粒层进行重定义步骤，其中在支架配体的存在下去除氧化物涂层，以便将支架...
    2026-01-14
  • 材料分析方法
    材料分析方法_现代制铁株式会社_202480028423.6
    本发明涉及一种材料分析方法，其可以包括以下步骤：(a)制备用于结构分析的试样；(b)利用任意试样的标记有结构特征的训练图像来训练人工智能模型；(c)使用经训练的人工智能模型来分析试样的未标记有结构特征的多个分析图像，并且去除被分类为预设噪声...
    2026-01-14
  • 表面缺陷检测系统
    表面缺陷检测系统_艾格特克斯针织纺织工业有限公司_202480038072.7
    本发明提供了一种用于主动检测具有表面区域的物体(1)的表面上的缺陷的系统。该系统包括：可校准图像捕获单元，被配置为从物体的至少一个目标区域捕获图像，该图像捕获单元包括图像捕获装置(6)和可选的第一反射镜(7)，该可选的第一反射镜被配置为将来...
    2026-01-14
  • 用于检查BFS型容器条带的设备
    用于检查BFS型容器条带的设备_安塔雷斯视觉股份公司_202480033335.5
    本发明涉及一种用于检查吹灌封BFS型容器条带(S)的设备(1)，该设备包括：夹持装置(11)，该夹持装置用于夹持所述容器条带(S)中的一个容器条带的端部部分(E)；以及倾斜机构(12)，该倾斜机构用于使所述夹持装置(11)围绕倾斜轴线(B)...
    2026-01-14
  • 缺陷检查装置、缺陷检查方法和缺陷检查程序
    缺陷检查装置、缺陷检查方法和缺陷检查程序_株式会社力森诺科_202480034276.3
    减少检测缺陷时的处理负荷且提高检测精度。缺陷检查装置包括：图像识别处理部，对拍摄检查对象而得到的拍摄图像数据进行图像识别处理，判定检查对象内的各区域的属性；切取部，从所述拍摄图像数据中切取出包含所述检查对象内的各区域当中具有特定属性的区域的...
    2026-01-14
  • 图案检查装置以及图案检查方法
    图案检查装置以及图案检查方法_纽富来科技股份有限公司_202480037823.3
    本发明的一个方式的图案检查装置，其特征在于，具备：光学图像取得机构，其取得形成有图案的被检查试样的光学图像；参数范围设定电路，其根据与过去的检查条件参数的一致度，设定参照图像生成参数的范围；滤波函数生成电路，其使用所设定的所述参照图像生成参...
    2026-01-14
  • 用于X射线显微镜中的几何和光学放大的指导
    用于X射线显微镜中的几何和光学放大的指导_卡尔蔡司有限公司_202480015342.2
    在显微镜系统的显示器上呈现的用户界面提供了用于在两个不同角度获取2D投影图像的测量的工作流程，然后使用能够围绕所述图像移动的感兴趣区域(ROI)工具以在所有3个维度(X、Y、Z)定位旋转轴线的中心。
    2026-01-14
  • 荧光X射线分析装置
    荧光X射线分析装置_株式会社理学_202480037745.7
    本发明的荧光X射线分析装置中，定量机构基于修正前积分强度与修正前微分强度，通过式(1)计算并显示修正后微分强度的理论标准偏差作为计数精度。其中，σW：修正后微分强度的理论标准偏差，It0：修正前积分强度，IW0：修正前微分强度，IW：修正后...
    2026-01-14
  • 用于X射线荧光分析装置的X射线光学器件的安全装置
    用于X射线荧光分析装置的X射线光学器件的安全装置_赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所_202480038035.6
    本发明涉及一种用于X射线荧光分析装置(11)的X射线光学器件(19)的安全装置，该安全装置具有：壳体(34)，X射线光学器件(19)至少部分地位于壳体(34)内；安装座(36)，该安装座(36)配设有X射线光学器件(19)的至少一个出射口(...
    2026-01-14
  • 将水溶液的氧化还原状态作为氢电极电位获得的方法、水溶液的有效氢气分压的获得方法、以及将水溶液的氧化还原状态作为氢电极电位获得的装置
    将水溶液的氧化还原状态作为氢电极电位获得的方法、水溶液的有效氢气分压的获得方法、以及将水溶液的氧化还原状态作为氢电极电位获得的装置_木山辉郎_202480023422.2
    [课题]提供将水溶液的氧化还原状态作为氢电极电位获得的方法和装置。[解决手段]利用能斯特方程来定义水溶液的氢电极电位。包括：对与水溶液处于平衡状态的气相的氢分压和温度、水溶液的pH进行测定的步骤；以及，根据所测得的氢分压的反对数pH2和温度...
    2026-01-14
  • 样品分析装置
    样品分析装置_株式会社岛津制作所_202480037143.1
    一种对样品中的分析对象成分进行定量的样品分析装置，其具备：存储部(41)，其保存有信息，该信息是就多个已知成分的每一个，将该成分的量与用于去除该成分的清洗液的种类及量建立对应关系的信息；定量分析部(42)，其以预先决定的顺序导入多个样品，对...
    2026-01-14
  • 用于根据检测数据进行磁应力校准的预测和材料识别的系统和方法
    用于根据检测数据进行磁应力校准的预测和材料识别的系统和方法_贝克休斯控股有限责任公司_202480035709.7
    本公开提供一种检测系统，该检测系统包括：一个或多个磁探针，该一个或多个磁探针被配置为获取沿着样本的表面的多个点处的应力测量结果，其中针对该多个点中的每个点在多个角度处获取应力数据；以及计算系统，该计算系统通信地耦接到该一个或多个磁探针，该计...
    2026-01-14
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