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  • 本发明涉及抗单粒子翻转的三模触发器版图、芯片和方法,通过调整设计三模冗余电路的电路版图布局,将三模冗余触发器单元交错放置,利用内部模块隔离触发器,同时对放置于三模冗余触发器单元中心的表决器进行保护环加固,隔离外界干扰以减少表决失效的概率,利...
  • 本发明属于集成电路后仿真验证技术领域,本发明公开了一种基于BFM与SDF反标的集成电路后仿真系统及方法,所述系统包括:BFM封装模块,用于描述端口输出信号的时序路径并例化BFM模块或连接验证IP的接口信号,SDF生成组件,用于从静态时序分析...
  • 本发明提供了一种多输出MPRM逻辑电路面积优化方法,属于MPRM逻辑电路面积优化领域。包括以下步骤:读取Boolean逻辑电路;对相关参数初始化;将种群初始化,其中基于XOR/AND的多输出MPRM逻辑电路极性的三进制形式被编码为三进制鲸鱼...
  • 本申请涉及一种缓冲器插入方法和装置。所述方法包括:根据待修复时序违规类型,选取对应的缓冲器插入策略;根据选取的缓冲器插入策略为集成电路拓扑图中各信号接收点生成初始缓冲器插入方案,并对多个信号接收点的初始缓冲器插入方案进行合并,得到优化后的缓...
  • 一种基于动态布局与模板融合的主接线图自动成图方法及系统。依据变电站电压等级进行区域划分,并单独设立主变压器区域;采用遗传算法优化区域合并与拆分,通过计算区域占用率设定合并与拆分阈值,动态调整区域边界,以适应变电站改扩建、间隔增加或删除等场景...
  • 本发明所提供的一种混合行高单元合法化方法、装置、终端及存储介质,属于集成电路设计技术领域,所述方法包括:对集成电路中的宏模块、多倍行高单元,以及经全局布局后位于宏模块所占据区域内的全部电路单元进行预处理,得到若干虚拟单倍行高单元;构建优化模...
  • 本申请公开了一种芯片布局方法、装置、设备、存储介质及程序产品,其中,所述方法包括:对布局区域中的N个元器件进行多级聚类,得到聚类树;所述聚类树包括M个层级,所述M个层级中的第m个层级的元器件为第m‑1个层级的元器件的集合,N,M,m为正整数...
  • 本申请公开了一种长短期记忆网络的数据处理方法、装置、设备及介质,涉及计算机技术领域,应用于预设长短期记忆网络硬件实现电路,电路中包括用于存储不同种类的网络输入数据的多个静态随机存取存储器;方法包括:基于数据处理任务确定初始化结果;基于预设切...
  • 本申请涉及用于汽车和工业应用的SERDES微型封装和布局。集成电路可包括管芯。集成电路可包括多个混合信号块,所述多个混合信号块与块栅格对准且耦合,并且具有以公共整数因子与芯片尺寸相对应的尺寸。集成电路可包括扩散元件,所述扩散元件具有栅格长度...
  • 本发明提供了高均匀度Bitter线圈的设计方法,属于Bitter线圈领域,计算出第一Bitter线圈的最大电磁应力;在Bitter片厚度的基础上按照设定增量逐步增加Bitter片厚度,得到Bitter片厚度,得到第二Bitter线圈,将第一...
  • 本发明公开了一种三相变压器三角形连接侧雷击响应的电容等效建模方法,对三角形连接侧,基于绕组对地电容和匝间电容的三相耦合网络模型,通过节点连接形成三角形拓扑,精确模拟了雷击瞬态下的相间耦合,能够有效反映三相变压器三角形连接侧的高频电容特性,通...
  • 本申请提供了一种网表检测方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机技术领域。实现方案为:响应于针对目标电源域的PG网表检测请求,获取包含目标电源域的电源门控逻辑的PG网表;在PG网表中针对目标电源域集成的各个第一隔离模块中,确定父级组件相同且隔...
  • 本申请提供了一种网表检测方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机技术领域。实现方案为:响应于针对目标电源域的电源门控PG网表检测请求,获取目标电源域的PG网表和统一电源格式UPF文件,其中,UPF文件设置有针对目标电源域的端口信号的隔离策略;...
  • 本发明公开了一种微波化合物半导体器件全流程建模方法及系统,涉及微波电子器件技术领域。该方法包括器件模型新建、实测数据导入、小信号模型参数提取、非线性电流模型参数提取、非线性电容模型参数提取、模型全局验证六大步骤,实现覆盖全流程的一站式参数提...
  • 本公开涉及程序产品、计算方法、计算装置。程序使计算机作为获取部和计算部发挥功能,其中,所述获取部获取第一信息和第二信息,所述计算部基于学习完毕模型,根据所述第一信息来推定第一参数、第二参数以及第三参数中的至少一个参数,并且基于所述至少一个参...
  • 一种触发器电路包括第一存储电路和第二存储电路。触发器电路能够被配置为在双倍边沿触发模式期间,响应于时钟信号的上升沿,将数据信号的第一值存储在第一存储电路中,并且响应于时钟信号的下降沿,将数据信号的第二值存储在第二存储电路中。触发器电路能够被...
  • 本发明涉及SRAM技术领域,提供一种SRAM读取良率评估与性能优化的方法、系统及芯片,包括:基于多种电路特征参数的统计特征值确定失效概率模型,得到失效判别结果,其中,失效判别条件设置为读1时有效感应斜率与感应时间窗口的乘积小于失调电压,读0...
  • 本发明提供一种基于Transformer深度学习模型的器件模型调参方法,S1:建立参数‑电学特性数据库,在参数‑电学特性数据库中存储有目标器件若干组由实验已知的参数‑电学特性对应数据;S2:基于Transformer网络架构建立深度学习模型...
  • 本公开提供了一种DFT测试任务管理方法、装置、电子设备及存储介质,属于芯片设计验证技术领域,该DFT测试任务管理方法包括:基于设计模块列表和测试步骤列表,构建数据模型,数据模型用于指示各设计模块的可测性设计DFT测试步骤,数据模型包括多个D...
  • 本公开提供了一种DFT流程的优化方法、装置、电子设备及存储介质,属于可测性设计技术领域。该DFT流程的优化方法包括:获取预设数据模式的可测性设计DFT流程的配置数据;在生成用于DFT流程的DFT脚本之前,对配置数据进行校验;基于校验通过的所...
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