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  • 本发明涉及IDC数据中心技术领域,具体为一种基于IDC数据中心的能耗智能监控方法,包括以下步骤,基于IDC数据中心,分析服务器输出功率变化,动态调整采样周期并记录电流信息,识别高频采样设备的热扩散核心,结合空间分布与风速方向构建同向扩散链路...
  • 本申请公开一种网卡监控方法及装置,涉及计算机技术领域,用于解决处于辅电状态下的服务器无法对网卡进行监控的问题。其中方法包括:服务器中的基板管理控制器BMC启动后,获取服务器中各插槽的在位信息,其中,在位信息用于表征插槽中是否插入了卡;针对在...
  • 本发明涉及数据库领域,具体提供了一种数据库工作负载随机采集方法及装置,首先,进行数据库负载随机采集,用户执行多条SQL,每条SQL的到达时间不固定,将SQL语句去掉参数后,划分为不同的模板,每个模板下的多次执行,称为SQL个体,采集规则有两...
  • 本申请公开了一种分布式存储系统的数据采集方法、电子设备和存储介质,涉及分布式存储技术领域,通过本申请提供的超时时间确定方法和根据超时时间对分布式存储系统的数据进行智能化采集,使分布式存储系统的监控组件能够根据集群规模、网络状况和节点负载自动...
  • 本申请实施例提供一种多源异构数据采集方法及装置,包括:从任务列表中获取待处理的采集任务的配置信息;其中,配置信息包括采集任务的优先级、数据类型、数据处理策略;根据采集任务的优先级,将采集任务的配置信息插入对应优先级的采集队列中;按照采集队列...
  • 本发明公开了一种应用异常日志处理方法和装置,涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括:对终端设备中第一应用开启无障碍服务,通过第一应用检测终端设备第二应用;启动后台服务,根据第二应用的标识生成请求操作命令传输至后台服务,接收后台服务返...
  • 本发明涉及芯片技术领域,提供一种中断模块验证方法、设备、介质和程序产品,所述方法包括:当监测到中断模块产生外部可观测行为时,将监测到的行为信息与外部可观测行为的参考值进行比对,验证外部可观测行为的正确性;对输入至中断模块的中断请求进行状态计...
  • 本发明实施例提供了一种仿真测试方法、仿真测试装置、仿真测试系统、电子设备、计算机存储介质和计算机程序产品。所述仿真测试方法包括:调用预设随机约束组件,生成符合输入约束条件的随机激励参数,其中,所述预设随机约束组件用于根据所述输入约束条件执行...
  • 本发明公开了基于PCle直通回环与虚拟驱动的链路极限测试系统及方法,系统包括:自定义PCIe设备,所述自定义PCIe设备内置FPGA芯片,用于实现PCIe物理层通信与数据包原语级回环,且不经过DDR缓存;虚拟驱动模块,运行于PC端操作系统内...
  • 本发明公开了一种雷电/USB4接口自动化测试设备及方法,设备包括:下位机,支持雷电/USB4协议,配置多通道开关模块,可同时激活USB、DisplayPort、PCIe通道;上位机,运行测试软件,集成EDID解析模块与NVMe序列号比对模块...
  • 本申请提供了一种打印状态检测方法,可以应用于人工智能技术领域。该打印状态检测方法包括:获取打印过程所产生的监控图像数据、日志信息、音频信息和纸张震动信息;基于纸张检测模型,从监控图像数据中确定打印过程中的纸张状态;识别音频信息中的文本信息;...
  • 本申请公开了一种数字芯片验证方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质,应用于验证系统,验证系统包括软件仿真平台和硬件验证平台,方法包括:确定目标数字芯片的待测代码;利用软件仿真平台根据待测代码生成激励信号,并将激励信号发送至硬件验证平台;...
  • 本发明提出了一种内存通道检测电路、设备以及方法和存储介质,内存通道检测电路包括:接口、信号采集模块、供电模块和控制模块;信号采集模块的输入端连接接口,输出端连接控制模块;供电模块分别连接信号采集模块的电源端和控制模块的供电端,用于提供电源电...
  • 本发明提供一种基于Visual Studio的太赫兹自动化测试系统及方法,属于太赫兹测试及控制技术领域。本发明有效提高了实验的效率以及实验数据的准确度,并在实验过程中以实时变化的图像来展示实验数据,方便用户观察实验进度与实验效果。可以实现对...
  • 本发明公开了基于IPMITool和Badfish的服务批量自动检验方法,包括以下步骤:获取待检验的多台服务器的IP地址并形成IP地址列表;同时接收检验人员输入的服务器硬件配置标准值、固件版本标准值及硬件健康波动阈值,其中硬件配置标准值包括C...
  • 本申请涉及嵌入式控制测试技术领域,尤其涉及一种EC外设测试方法与系统。该方法通过控制测试上层程序根据预设指令结构生成测试指令;通过物理通信通道将测试指令发送至嵌入式控制器;控制嵌入式控制器接收测试指令,并根据测试指令解析目标外设类别与对应的...
  • 本申请提出一种确定性时延的测试装置、测试方法、电子设备和存储介质,属于高速数据转换器串行接口系统技术领域。该测试装置包括时钟源、ADC、FPGA和示波器。其中,ADC与FPGA分别与时钟源连接,从而可分别接收时钟源产生的ADC侧系统参考时钟...
  • 本发明提供一种基于PXI架构的多功能测试芯片及方法,涉及测试芯片技术领域;芯片包括总线接口、功能模块组和地址控制器;总线接口通过PXI总线与上位机交互;功能模块组含脉冲发送、检测、模拟量采集/输出、串行通信、存储控制器及温度采集模块,可实现...
  • 本申请公开了一种处理器性能测试方法、测试装置、电子设备及存储介质。在对目标处理器进行性能测试时,先配置目标处理器的测试数据,将目标处理器的目标核心与测试程序的目标线程相关联,保证目标线程在目标核心上运行。在测试程序按照测试数据运行的过程中,...
  • 本发明提出了一种工业设备的测试方法、装置、自动化测试系统和存储介质。工业设备的测试方法包括:获取测试对象和测试用例集,测试对象为对工业设备进行仿真封装得到的,测试用例集中包括多个测试用例;依次执行测试用例集中的每个测试用例,得到多个第一测试...
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