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最新专利技术
  • 基于智能遥控器按键故障的自动检测系统及方法
    基于智能遥控器按键故障的自动检测系统及方法_江苏爱仕达电子有限公司_202511808323.8
    本发明涉及智能家电控制与电子测量诊断技术领域，尤其为基于智能遥控器按键故障的自动检测系统及方法，包括以下步骤：周期性采集按键所在环境的温度T和相对湿度RH；在矩阵扫描过程中读取第i行、第j列被按下按键的原始电压值；依据工厂标定的多项式系数，...
    2026-05-08
  • 绝缘开关设备的故障程度确定方法，装置与计算机设备
    绝缘开关设备的故障程度确定方法，装置与计算机设备_国网北京市电力公司_202511745088.4
    本发明公开了一种绝缘开关设备的故障程度确定方法，装置与计算机设备。其中，该方法包括：获取目标绝缘开关设备的运行数据；基于运行数据，检测绝缘开关设备对应的目标故障类型；基于目标故障类型和运行数据，确定绝缘开关设备的故障概率；基于预设的故障类型...
    2026-05-08
  • 一种基于继电器的多电源切换测试电路及方法
    一种基于继电器的多电源切换测试电路及方法_成都华芯天微科技有限公司_202511732908.6
    本发明公开了一种基于继电器的多电源切换测试电路及方法，属于电源测试技术领域，测试电路包括多路电源通道，每路电源通道包括：NMOS级联控制电路，用于接收上位机的控制指令并执行两级开关动作；继电器开关电路，由所述NMOS级联控制电路驱动，用于控...
    2026-05-08
  • 基于电弧辐射信号的电力开关状态检测方法及相关装置
    基于电弧辐射信号的电力开关状态检测方法及相关装置_西安交通大学_202511723112.4
    本发明涉及领域，尤其涉及一种基于电弧辐射信号的电力开关状态检测方法及相关装置，包括通过天线传感器测试电力设备开关的开关触头在接触分离时的电磁脉冲辐射信号波形，接收到的信号包括因触头结构改变直接引起的辐射特征变化，以及电导率变化而间接引起的电...
    2026-05-08
  • 一种开关性能测试综合装置
    一种开关性能测试综合装置_江苏新亚高电压测试设备有限公司_202511596856.4
    本发明涉及开关性能测试技术领域，尤其涉及一种开关性能测试综合装置，包括测试箱，测试箱内固定连接设置有闸刀开关定位架，闸刀开关定位架上转动连接设置有闸刀开合机构，测试箱底端内壁固定连接设置有水箱，水箱一侧固定连接设置有加水座，测试箱底端内壁固...
    2026-05-08
  • 电器元件延时特性的校验方法、系统、电子设备及介质
    电器元件延时特性的校验方法、系统、电子设备及介质_浙江正泰电器股份有限公司_202511338214.4
    本申请公开了一种电器元件延时特性的校验方法、系统、电子设备及介质，属于低压电器技术领域，所述方法通过对具有双金属片的电器元件进行磨合测试后，采用预设校验策略对电器元件进行校验，再采用预设检验策略对电器元件进行检验，从而可快速剔除异常产品，实...
    2026-05-08
  • 一种扫描测试装置、方法和芯片
    一种扫描测试装置、方法和芯片_海光云芯集成电路设计(上海)有限公司_202511844732.3
    本申请实施例提供了一种扫描测试装置、方法和芯片，其中，所述扫描测试装置，包括：第一交换网络配置阵列，用于生成第一配置信号；第一交换网络，用于基于所述第一配置信号，配置第一交换网络的测试通道选通；第二交换网络配置阵列，用于生成第二配置信号；第...
    2026-05-08
  • 一种扫描测试装置、方法和芯片
    一种扫描测试装置、方法和芯片_海光云芯集成电路设计(上海)有限公司_202511844713.0
    本申请实施例提供了一种扫描测试装置、方法和芯片，其中，所述扫描测试装置，包括：交换网络配置单元，所述交换网络配置单元包括配置阵列和配置阵列修复逻辑；所述配置阵列用于生成配置信号，以配置测试通道的选通；所述配置阵列修复逻辑用于在所述配置阵列失...
    2026-05-08
  • 一种独立式FPGA在线调试装置及调试方法
    一种独立式FPGA在线调试装置及调试方法_武汉船舶通信研究所(中国船舶集团有限公司第七二二研究所)_202511708915.2
    本发明公开了一种独立式FPGA在线调试装置及调试方法，属于电子器件测试技术领域，包括上位机、调试设备及待测FPGA；上位机用于指令输入及数据可视化，调试设备与上位机相连，具有集成控制器、集成逻辑分析器和信号解码器；待测FPGA与调试设备相连...
    2026-05-08
  • 芯片压力测试机构、板级压力测试机构及温循测试装置
    芯片压力测试机构、板级压力测试机构及温循测试装置_上海季丰电子股份有限公司_202610122169.7
    本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片压力测试机构、板级压力测试机构及温循测试装置，包括底部基板、上部压板、导向件以及弹性元件；所述底部基板与所述上部压板平行间隔，所述导向件的第一端与所述底部基板连接，所述上部压板活动安装在所述导向件...
    2026-05-08
  • 一种电路板自动测试方法及系统
    一种电路板自动测试方法及系统_成都智达电力自动控制有限公司_202610121265.X
    本申请公开了一种电路板自动测试方法及系统，涉及电路板测试技术领域，公开的电路板自动测试方法及系统，通过自动化获取板件型号数据、生成测试配置、执行多类型测试项并生成标准化测试报告，解决了人工测试效率低、易出错的问题，具有提高测试效率、减少人为...
    2026-05-08
  • 晶圆测试装置
    晶圆测试装置_上海伟测半导体科技股份有限公司_202610114304.3
    本公开涉及晶圆测试领域，涉及一种晶圆测试装置，包括承载件、探针件、第一图像采集部件和加热台。其中探针件设于所述承载件，供与待测晶圆表面的待测部位相抵以形成针痕。第一图像采集部件设于所述承载件，用于采集所述待测晶圆的含有针痕的待测部位图像。加...
    2026-05-08
  • 一种电子墨水屏驱动基板批量化检测系统及方法
    一种电子墨水屏驱动基板批量化检测系统及方法_宁波圆芯电子有限公司_202610108202.0
    本申请公开了一种电子墨水屏驱动基板批量化检测系统及方法，涉及电子电路测试技术领域。系统包括整体式接触电极、参考阻抗单元、切换控制模块和测量分析模块。通过切换控制模块选择将参考信号施加于单个通道或整体式接触电极，配合参考阻抗单元，分别实现通道...
    2026-05-08
  • 晶圆测试装置及测试设备
    晶圆测试装置及测试设备_上海伟测半导体科技股份有限公司_202610106639.0
    本公开提供晶圆测试装置及测试设备，所述晶圆测试装置包括第一载体、第二载体和测试部。所述第一载体包括供承载并加热待测晶圆的承载部。所述第二载体，包括一保温部。所述测试部设于所述承载部和保温部上方；其中，所述第一载体和第二载体与所述测试部之间可...
    2026-05-08
  • 一种PCB偏位检测设备及检测方法
    一种PCB偏位检测设备及检测方法_浙江鼎晶科技有限公司_202610100264.7
    本发明提供一种PCB偏位检测设备及检测方法，涉及PCB检测技术领域，上料手臂与搬送手臂搭配分区吸附加按压的组件与检测平台、上料平台的配合，有效规避FPC吸附不平的问题；检测平台采用可调节间距的吸附组件，结合顶丝调节件精准调控水平度，既能适配...
    2026-05-08
  • 一种ICT和FCT组合式检测方法
    一种ICT和FCT组合式检测方法_杭州松下家用电器有限公司_202610070147.0
    本发明公开一种ICT和FCT组合式检测方法，属于家用电器自动化装配领域，解决了现有技术的检测效率较低的问题，解决该问题的技术方案包括通过识别装置获取PCBA板身份标识，查询数据库是否存在对应FCT测试记录；若存在，则跳过ICT测试，直接进行...
    2026-05-08
  • 一种用于霍尔线路板的检测工装
    一种用于霍尔线路板的检测工装_安徽晟豪光学科技有限公司_202512029024.0
    本发明提出了一种用于霍尔线路板的检测工装，包括：机架、输送架、托台、托盘和检测台，所述输送架滑动设置在所述机架上端，所述托台升降设置在机架上端，所述检测台下端设置有用于对托盘上端线路板进行检测的检测探针；调节动力机构，与所述输送架传动连接，...
    2026-05-08
  • 一种双模模块FCT自动化测试工装
    一种双模模块FCT自动化测试工装_湖南智焜能源科技有限公司_202512021575.2
    本发明公开了一种双模模块FCT自动化测试工装，涉及测试设备技术领域，包括：至少2个用于同步或异步地对两个PCBA产品进行功能测试的测试工位；设置在所述测试工位的一侧用于输送待测及已测的PCBA产品的传送装置；设置在所述测试工位与所述传送装置...
    2026-05-08
  • 一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法
    一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法_吉光半导体科技有限公司_202511977629.6
    本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法，测试装置包括：顶部具有芯片卡槽的散热金属板，芯片卡槽从散热金属板的第一侧向散热金属板的顶面中心延伸，激光芯片设置在芯片卡槽内，激光芯片的第一侧与散热金属板的第一侧位...
    2026-05-08
  • 芯片自动测试方法、装置以及系统
    芯片自动测试方法、装置以及系统_深圳市辰卓科技股份有限公司_202511933396.X
    本申请提供了一种芯片自动测试方法、装置及系统，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：控制所述IBI处理模块获取所述待测芯片发送的目标IBI请求；基于所述IBI处理模块中存储的IBI请求与响应数据之间的对应关系，在所述IBI处理模块中搜索...
    2026-05-08
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