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最新专利技术
  • 可追溯的芯片测试系统及芯片测试方法
    可追溯的芯片测试系统及芯片测试方法_上海华岭集成电路技术股份有限公司_202511603726.9
    本公开提供一种可追溯的芯片测试系统及芯片测试方法，所述芯片测试系统包括：芯片身份信息采集装置，配置为采集待测芯片的芯片身份信息；EAP系统，配置为控制芯片测试设备以及芯片分拣设备执行芯片测试及芯片分拣，并将所述芯片身份信息与芯片的测试数据一...
    2026-05-04
  • 一种具有柔性夹持功能的PCB板用检测设备
    一种具有柔性夹持功能的PCB板用检测设备_及强(上海)智能科技有限公司_202511616531.8
    本发明公开了一种具有柔性夹持功能的PCB板用检测设备，涉及检测设备技术领域，该检测设备包括传送机床，传送机床上设置有定向运送架，定向运送架上设置有转向推送架，转向推送架上设置有转移组件，传送机床上设置有形状扫描组件，传送机床上设置有检测箱，...
    2026-05-04
  • 一种基于多线程并行的电路板测试方法及系统
    一种基于多线程并行的电路板测试方法及系统_北京锐和昌航天科技有限公司_202511617200.6
    一种基于多线程并行的电路板测试方法及系统，涉及电子测试技术领域。接收测试员上传的测试模式和待测电路板，对待测电路板进行识别，得到待测数量；根据待测数量创建目标数量个并行的测试组；从测试模式中提取配置测试参数并分别下发至目标数量个测试组中的各...
    2026-05-04
  • 一种FCT设备灯点位置纠偏方法
    一种FCT设备灯点位置纠偏方法_顺德职业技术大学_202511653685.4
    本发明公开了一种FCT设备灯点位置纠偏方法，根据电路板的测试步骤和内容编制功能测试设置文件，通过对文件中的子拼板裁剪框和灯点位置信息进行可视化的调整来实现灯点位置纠偏，包括步骤：导入功能测试设置文件，选择并导入要调整灯点位置的功能测试设置文...
    2026-05-04
  • 一种自动化型电路板测试装置及测试方法
    一种自动化型电路板测试装置及测试方法_上海航天能源股份有限公司_202511664517.5
    本发明提供了一种自动化型电路板测试装置及测试方法，属于电路板测试技术领域，装置包括箱体、测试台、上下移动机构、测试顶针、工装测试主板和高精度电流表，通过测试台与上下移动机构分别从水平、垂直方向固定被测试电路板，能确保测试顶针与被测试板触点精...
    2026-05-04
  • 一种半导体探针卡自动插针检测装置及方法
    一种半导体探针卡自动插针检测装置及方法_无锡宜扬半导体有限公司_202511788084.4
    本发明公开了一种半导体探针卡自动插针检测装置及方法，包括第一传送带，第一传送带上方中部连接有支撑框架，支撑框架上表面中部连接有第一气缸，所述第一气缸输出端贯穿支撑框架并与横板连接，横板下表面中部连接有插针检测器，靠近插针检测器一侧的第一齿轮...
    2026-05-04
  • 一种自动实现芯片测试数据管理报警的控制方法及系统
    一种自动实现芯片测试数据管理报警的控制方法及系统_安测半导体技术(江苏)有限公司_202511844051.7
    本发明属于半导体芯片测试领域，为了解决芯片测试数据的管理报警方式缺乏实时性、效率低下、主观性强的问题，本发明提供了一种自动实现芯片测试数据管理报警的控制方法及系统，包括：采集芯片测试数据并进行处理，处理过程包括解析及转换为预设数据格式；将处...
    2026-05-04
  • 一种穿刺式扎针的射频探针及使用方法
    一种穿刺式扎针的射频探针及使用方法_迪赛康科技(深圳)有限公司_202511851206.X
    本申请涉及一种穿刺式扎针的射频探针及使用方法，该射频探针包括通过连接器安装在探针台上的线缆，线缆第二端打磨出台阶和圆弧面后焊接有微板，微板正面设微带线及GSG焊盘，背面为参考地并设掏空区以优化阻抗。三组呈四棱锥体的探针针尖通过超声波焊接于微...
    2026-05-04
  • 算力芯片的状态评估方法、装置、设备及存储介质
    算力芯片的状态评估方法、装置、设备及存储介质_杭州博思芯宇科技有限公司_202511852035.2
    本申请涉及算力芯片的状态评估方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取目标算力芯片的目标参考测试频率；基于目标参考测试频率，根据预定的标准电压确定目标算力芯片的算子集的第一计算结果，以及根据梯度电压偏置条件确定目标算力芯片的算子集的第二计算...
    2026-05-04
  • 用于超导微波复用器件检测的信号读出系统及方法
    用于超导微波复用器件检测的信号读出系统及方法_中国科学技术大学_202511852617.0
    本发明公开一种用于超导微波复用器件检测的信号读出系统及方法，属超导微波复用器件检测领域，系统包括：服务器，能向信号板下发检测配置指令、接收回传检测数据、运行检测软件和执行频谱分析及数据分析并生成检测结果；信号板，设有的含可编程逻辑器件的电路...
    2026-05-04
  • 一种用于智能水表电路板的测试装置以及测试方法
    一种用于智能水表电路板的测试装置以及测试方法_深圳市兴源智能仪表股份有限公司_202511855850.4
    本申请涉及水表生产检测设备领域, 公开了一种用于智能水表电路板的测试装置以及测试方法，包括：基座，其上设置有竖直向上的检测针，检测针电连接检测电路；下压机构，其沿上下方向活动设置在基座上；承载件，其上设置有限位部，限位部用于容置待测试的电路...
    2026-05-04
  • 芯片测试方法、装置、设备、介质及程序产品
    芯片测试方法、装置、设备、介质及程序产品_此芯科技(苏州)有限公司_202511881852.0
    本发明实施例公开了一种芯片测试方法、装置、设备、介质及程序产品。包括：获取待测试CPU核心和待测试CPU核心测试需求，根据待测试CPU核心和待测试CPU核心测试需求构造电源噪声测试模型；将电源噪声测试模型配置到待测试芯片中，以将电源噪声测试...
    2026-05-04
  • 芯片测试方法和装置、电子设备及存储介质
    芯片测试方法和装置、电子设备及存储介质_深圳为迅科技有限公司_202511520236.2
    本申请实施例提供了一种芯片测试方法和装置、电子设备及存储介质，属于芯片测试技术领域。该方法用于对待测芯片进行测试，待测芯片包括多个待测试模块和控制模块，待测芯片设有对应于每一待测试模块的控制引脚，控制模块与每一待测试模块对应的控制引脚电连接...
    2026-05-04
  • 数字量输入卡件消抖时间的测试方法，系统、装置及介质
    数字量输入卡件消抖时间的测试方法，系统、装置及介质_南京国电南自维美德自动化有限公司_202511533171.5
    本发明公开了数字量输入卡件消抖时间的测试方法，系统、装置及介质，属于火电发电厂分散控制系统的输入卡件消抖技术领域，包括：设置通断信号的产生周期时间；将所述通断信号发送给数字量输入卡件；检测所述数字量输入卡件是否接收到通断信号；若未检测到数字...
    2026-05-04
  • 内置自测试(BIST)电路、集成电路器件及方法
    内置自测试(BIST)电路、集成电路器件及方法_台积电(中国)有限公司_202411231535.X
    本公开涉及内置自测试(BIST)电路、集成电路器件及方法。内置自测试(BIST)电路包括第一开关、第一电阻器、至少一个第一晶体管和控制电路。第一开关、第一电阻器和至少一个第一晶体管串联耦合在第一电源电压的第一电源端子和输入/输出(I/O)电...
    2026-05-04
  • 继电器状态检测装置和包括该装置的电池管理系统
    继电器状态检测装置和包括该装置的电池管理系统_纬湃汽车电子(长春)有限公司_202410909692.5
    本公开涉及一种用于车载电网中的继电器状态检测装置，该车载电网包括车载电源、至少一个负载以及至少一个继电器，该装置包括：供电源，所述供电源的第一电极连接至所述至少一个继电器中的相应一个继电器的第一接线端；至少一个采样支路，每个采样支路上设置有...
    2026-05-04
  • 继电器状态检测装置和包括该装置的电池管理系统
    继电器状态检测装置和包括该装置的电池管理系统_纬湃汽车电子(长春)有限公司_202410909695.9
    本公开涉及一种用于车载电网中的继电器状态检测装置，该车载电网包括车载电源、至少一个负载以及至少一个继电器，所述装置包括：参考采样端口，其用于采集位于所述车载电源的输电线路中的至少一个参考点的参考电位，并将该参考电位反馈至控制单元；多个采样端...
    2026-05-04
  • 半导体器件
    半导体器件_三星电子株式会社_202510580834.2
    一种半导体器件，包括：连接在测试输入引脚和测试输出引脚之间的多个测试电路；和TAP控制器，其连接到多个测试控制引脚，并且被配置为响应于由多个测试控制引脚接收的测试控制信号，限定测试输入引脚和测试输出引脚之间的数据传输路径，数据传输路径包括多...
    2026-05-04
  • 一种真空断路器电寿命的预测方法和配网终端设备
    一种真空断路器电寿命的预测方法和配网终端设备_西电宝鸡电气有限公司_202511347260.0
    本发明实施例公开了一种真空断路器电寿命的预测方法和配网终端设备，方法包括：获取目标真空断路器的实际开断电流以及实际开断次数；基于目标真空断路器的电寿命特性参数以及实际开断电流确定目标真空断路器的单次开断损伤度；基于单次开断损伤度以及实际开断...
    2026-05-04
  • 基于四波剪切波前传感的开关电弧密度测量系统及方法
    基于四波剪切波前传感的开关电弧密度测量系统及方法_西安交通大学_202511399221.5
    本发明公开了基于四波剪切波前传感的开关电弧密度测量系统及方法，开关电弧密度具有时空演化快、非平衡效应显著等特点，其高时空分辨测量面临挑战。本发明提出基于四波剪切波前传感的电弧密度测量技术，通过其特有的二维衍射光栅产生四向剪切干涉，高分辨重建...
    2026-05-04
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