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一种分离栅器件结构、半导体封装结构和电源模块
本申请提供了一种分离栅器件结构、半导体封装结构和电源模块,涉及半导体技术领域,该分离栅器件结构包括:集成设置在同一衬底上的多个功率管,多个功率管分别具有不同的开启阈值;多个功率管的漏极连接同一漏极端,多个功率管的源极连接同一源极端,多个功率...
半导体器件
一种半导体器件,包括堆叠式多栅极晶体管,该半导体器件包括:衬底;包括第一下有源图案和第一上有源图案的第一有源图案;包括第二下有源图案和第二上有源图案的第二有源图案;在第一有源图案上的第一栅极结构,在第二有源图案上的第二栅极结构,第一栅极结构...
电压生成电路
一种电压生成电路,具备:第一端子,被供给第一电压;第二端子,被供给第二电压;多个扩散电阻,设置在半导体基板上,串联连接在第一端子与第二端子之间,具有第一导电型;多个区域,设置在半导体基板上,分别包围多个扩散电阻,具有与第二导电型;第一晶体管...
一种级联碳化硅开关器件及其原胞结构、制造方法
本发明提供了一种级联碳化硅开关器件及其原胞结构、制造方法,包括 : 碳化硅双极型晶体管,所述碳化硅双极型晶体管包括基极、发射极、集电极,施加基极‑发射极偏置电流后,集电极与发射极之间导通;碳化硅结型场效应晶体管,所述碳化硅结型场效应晶体管包...
半导体结构的形成方法
一种半导体结构的形成方法,包括:基底包括第一区和第二区;图形化第一核心材料层,形成第一核心层;形成第一侧墙;对第二区的部分第二核心材料层进行改性处理,形成与第二核心材料层具有刻蚀选择比的第三核心材料层;图形化第二区的第二核心材料层和第三核心...
一种降低GaN器件集成衬底串扰的外延方法
本发明提供一种降低GaN器件集成衬底串扰的外延方法,包括以下步骤:选取平切的Si(111)低阻材料作为衬底;对衬底进行表面原位处理,去除表面氧化层;在衬底上依次生长起始层和下缓冲层;外延厚度5~100 nm和掺杂浓度1E18~2E20 cm...
一种双极元件-CMOS-DMOS半导体器件的制备方法及半导体器件
本申请提供了一种双极元件‑CMOS‑DMOS(BCD)半导体器件的制备方法及半导体器件,该方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有BCD器件区;在隔离所述双极元件、CMOS、DMOS器件区的任意两种之间,形成包括用于浅沟槽隔离结构...
半导体装置与其形成方法
本公开涉及一种半导体装置与其形成方法。半导体装置的形成方法包括形成多个通道区的堆叠于鳍状物的表面上,且通道区隔有个别的间隙;以及对通道区的侧壁与鳍状物的表面进行表面处理,且表面处理造成通道区的侧壁与鳍状物的表面比表面处理之前更不易沉积牺牲材...
一种瞬态电压抑制二极管合封器件及其制造方法
本发明提供一种瞬态电压抑制二极管合封器件及其制造方法,本发明提供瞬态电压抑制二极管合封器件及其制造方法,该合封器件包括瞬态电压抑制二极管和整流二极管及封装体,瞬态电压抑制二极管和整流二极管反向串联,将反向串联的瞬态电压抑制二极管和整流二极管...
一种POP叠层封装结构及封装方法
本发明涉及芯片封装技术领域,具体地说是一种POP叠层封装结构及封装方法。包括上封装体、下封装体,所述的下封装体包括重布线层、芯片、干膜、锡球,重布线层一侧表面设有芯片,芯片、重布线层表面设有干膜,相邻干膜之间形成锡球预留区,锡球预留区内设有...
一种用于制备电容器的半导体结构
本发明提供一种用于制备电容器的半导体结构,该用于制备电容器的半导体结构包衬底及沟槽阵列,其中,衬底包括多个间隔设置的电容区,电容区中包括多个间隔设置且呈阵列排布的子电容区,沟槽阵列位于子电容区中并包括多个沟槽,位于同一子电容区中的多个沟槽间...
一种低漏电III族氮化物选区外延PN结的制备方法
本发明公开了一种低漏电III族氮化物选区外延PN结的制备方法,属于半导体技术领域。首先图形化刻蚀III族氮化物模板形成梯形凹槽,在凹槽内二次外延含p型层在内的III族氮化物,然后退火驱动受主扩散推结,得到低漏电III族氮化物选区外延PN结。...
一种JFET器件及其制造方法
本发明属于晶体管领域,具体涉及一种JFET器件及其制造方法。主要解决现有JFET器件存在面积大和导通电阻大的问题。该器件包括衬底、外延层、第一N型区、P型区、填充层、第二N型区和正面结构;衬底设置在漏电极的上表面;外延层设置在衬底的上表面,...
可拉伸薄膜晶体管、可拉伸面板、和电子设备
公开可拉伸薄膜晶体管、可拉伸面板、和电子设备,所述可拉伸薄膜晶体管包括栅电极、与栅电极重叠的半导体层、在栅电极和半导体层之间的栅极绝缘层、以及电连接到半导体层的源电极和漏电极,其中半导体层包括含硫属元素的二维半导体材料和取代或未取代的芳基硫...
芯片、存储器、电子设备
本申请提供一种芯片、存储器、电子设备,涉及半导体技术领域,通过使ΔG1≥ΔG2,可以使栅极不再从沟道层的至少部分材料中夺取氧,改善了晶体管特性漂移的问题,提高了晶体管的稳定性。该芯片包括衬底和设置在衬底上的晶体管,晶体管包括依次层叠设置的沟...
半导体功率器件及其制备方法
本发明涉及半导体功率器件技术领域,公开了一种半导体功率器件及其制备方法,旨在提升器件耐压性能与可靠性。该半导体功率器件包括衬底;外延层,位于衬底的上方;重掺杂区,位于外延层中;结终端扩展区,位于外延层中,且与重掺杂区接触;氧化层,位于重掺杂...
半导体装置
本发明的实施方式涉及半导体装置。实施方式的半导体装置具有:第1电极;第2电极;具有第1面和与第2电极对置的第2面的半导体层;半导体层中的包含沿第1方向延伸的第1部分和第2部分的栅极电极;半导体层中的设置于栅极电极与第2面之间且与第1电极电连...
半导体装置
本发明的实施方式涉及半导体装置。实施方式的半导体装置具备:第二导电型的第二半导体区域,配置在第一导电型的第一半导体区域之上;第一导电型的第三半导体区域,配置在所述第二半导体区域之上,且与第一电极电连接;第三电极,沿与从所述第一电极朝向第二电...
半导体装置
本发明的实施方式涉及半导体装置。实施方式的半导体装置具备:半导体层,具有第一面与第二面,包含设于第一面一侧的第一沟槽;第一沟槽之中的第一场板电极;栅极沟槽之中的栅极电极;第一电极,相对于半导体层设于第一面一侧,且电连接于第一场板电极;第二电...
横向扩散金属氧化物半导体晶体管及其制造方法
本发明提供一种横向扩散金属氧化物半导体晶体管及其制造方法。该晶体管包括衬底、栅极结构、源极区和漏极区。其关键在于,在衬底中形成有凹槽,且源极区至少部分地形成在凹槽内。本发明通过在源极区设置凹槽,延长了载流子的传输路径,增强了栅极的控制能力,...
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