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最新专利技术
  • 一种微秒级响应速度阈值电压测试电路及方法
    一种微秒级响应速度阈值电压测试电路及方法_合肥综合性国家科学中心能源研究院(安徽省能源实验室)_202512020549.8
    本发明提供了一种微秒级响应速度阈值电压测试电路及方法，涉及功率半导体器件的可靠性测试技术领域，包括小电流源；所述小电流源的正极与MOS开关S3的漏极连接；MOS开关S3的栅极与控制单元连接；MOS开关S3的源极与IGBT开关S2的集电极连接...
    2026-05-08
  • 一种基于模块化设计的双脉冲测试装置及测试方法
    一种基于模块化设计的双脉冲测试装置及测试方法_合肥综合性国家科学中心能源研究院(安徽省能源实验室)_202512030090.X
    本发明公开了一种基于模块化设计的双脉冲测试装置及测试方法，涉及双脉冲测试技术领域，包括由多个模块连接形成的模块组，多个模块分别为电容模块、测试板模块、驱动模块和充放电控制模块，各个模块上均设置有第一接口单元和/或第二接口单元；其中，在模块组...
    2026-05-08
  • MOS管的阈值电压测试方法、设备及存储介质
    MOS管的阈值电压测试方法、设备及存储介质_广州增芯科技有限公司_202512043002.X
    本申请提供一种MOS管的阈值电压测试方法、设备及存储介质，涉及集成电路测试技术领域。该方法包括根据预设最低电压，对待测MOS管的栅极进行第一电压测试，得到待测MOS管在饱和区的栅极阈值电压；根据饱和区的栅极阈值电压，对待测MOS管的栅极进行...
    2026-05-08
  • 一种基于ac-SPV测量半导体耗尽层复合寿命和反型层界面态复合寿命的方法
    一种基于ac-SPV测量半导体耗尽层复合寿命和反型层界面态复合寿命的方法_麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司_202610100338.7
    本发明提供了一种基于ac‑SPV测量半导体耗尽层复合寿命和反型层界面态复合寿命的方法，包括以下步骤：建立半导体在强反型状态下的等效电路模型，所述等效电路模型将半导体的表面响应表征为并联的耗尽层电容、耗尽层复合电导、反型层电荷存储电容和反型层...
    2026-05-08
  • 一种能源器件单粒子烧毁脉冲测量系统及方法
    一种能源器件单粒子烧毁脉冲测量系统及方法_中国科学院国家空间科学中心_202511837235.0
    本发明公开了一种能源器件单粒子烧毁脉冲测量系统及方法，属于能源器件抗辐射效应测试与加固技术领域。系统由飞秒脉冲激光设备、三维移动平台、探针台、能源器件、直流偏置电源、偏置与采样网络及数据采集模块组成。通过设置三端电流采样支路和漏极电压采样支...
    2026-05-08
  • 功率模块的损耗确定方法、确定装置和车辆
    功率模块的损耗确定方法、确定装置和车辆_蜂巢传动系统(江苏)有限公司_202511761753.9
    本申请提供了功率模块的损耗确定方法、确定装置和车辆，该方法应用于功率模块损耗评估技术领域，该方法包括：获取功率模块对应的预设导通损耗模型和预设开关损耗模型，并确定目标参数类型和至少一个开关频率组；基于开关频率组中的开关频率对逆变电路中的功率...
    2026-05-08
  • 一种多路复用板通用功能测试装置及方法
    一种多路复用板通用功能测试装置及方法_苏州市尔东电子科技有限公司_202511545638.8
    本发明公开了一种多路复用板通用功能测试装置及方法，涉及多路复用板测试技术领域；而本发明包括测试平台与操控显示屏，测试平台的顶端设有配合使用的测试夹具，且测试平台的内腔中设有配合使用的工业PC，测试平台的底端设有配合使用的助升机构，且助升机构...
    2026-05-08
  • 电涌保护器板级功能在线测试方法
    电涌保护器板级功能在线测试方法_浙江泰科天唯电气有限公司_202511679905.0
    本发明公开了电涌保护器板级功能在线测试方法，具体涉及电测量与电力电子保护技术领域，用于解决在设备不停机、不拆板的条件下难以对线路板上多只电涌保护器的真实保护能力及退化状态进行精细化在线评估的问题。通过建立线路板母线、负载及各电涌保护器的节点...
    2026-05-08
  • 一种上升时间和下降时间的测量方法、装置、介质及设备
    一种上升时间和下降时间的测量方法、装置、介质及设备_无锡亿思半导体有限公司_202511688436.9
    本申请提供一种上升时间和下降时间的测量方法、装置、介质及设备，涉及芯片测试技术领域。本申请提供的技术方案通过将高精度时间测量问题转化为可控延时量的数字化扫描问题，避免了相关技术对高速采样率模数转换器、高带宽示波器等昂贵设备的依赖，仅需比较器...
    2026-05-08
  • 一种柔性电路板测试专用设备
    一种柔性电路板测试专用设备_中山市东迪光电科技有限公司_202511726033.9
    本发明属于电路板测试技术领域，具体为一种柔性电路板测试专用设备；包括工作台；所述工作台上连接有防护罩；所述防护罩内设置有锁定夹边器件；所述锁定夹边器件包括定位柱体；两个定位柱体对称安装于工作台顶部；两个定位柱体相对面均设有定位滑槽；定位滑槽...
    2026-05-08
  • 一种增强芯片抗电干扰的测试筛选方法及系统
    一种增强芯片抗电干扰的测试筛选方法及系统_北京国芯云科技有限公司_202511743994.0
    本发明提供一种增强芯片抗电干扰的测试筛选方法及系统，属于集成电路测试技术领域，包括：建立拓扑网络干扰模型，所述模型包括芯片电源引脚、接地引脚和信号引脚的拓扑连接关系，以及根据芯片额定电压范围和干扰距离设置的干扰源参数；构建干扰通路，形成三组...
    2026-05-08
  • boost电路的自检方法、电路的自检方法及其装置
    boost电路的自检方法、电路的自检方法及其装置_上能电气股份有限公司_202511756143.X
    本发明提供一种boost电路的自检方法、电路的自检方法及其装置，该自检方法包括以下步骤：获取飞跨电容Cfly的电压，以及输入电压；当≤第一预设阈值时，向下开关管T2输出第一驱动信号，如果飞跨电容Cfly的电压的变化幅度≤第二预设阈值时，则下...
    2026-05-08
  • 一种车载电路板测试治具
    一种车载电路板测试治具_苏州工业园区精泰达自动化有限公司_202511768624.2
    本发明涉及车载电路板测试装置领域，具体涉及一种车载电路板测试治具，包括载板和上盖板，载板上设有固定板；上盖板上设有探针模组和连杆组件，连杆组件包括第一板体和第二板体，第一板体、第二板体均和固定板转动连接，第一板体和第二板体转动连接，第二板体...
    2026-05-08
  • 一种具有组合式定位结构的电路板检测装置及其使用方法
    一种具有组合式定位结构的电路板检测装置及其使用方法_北臻(嘉兴)电子科技有限公司_202511832225.8
    本发明提出一种具有组合式定位结构的电路板检测装置及其使用方法，属于集成电路生产设备，该装置包括支撑装配框架，还包括移送导向组件、板件承载组件、移送驱动组件、端脚修整组件、端脚导接组件及板件取放组件，该装置采用组合式定位结构，电路板在一次装夹...
    2026-05-08
  • 一种用于老化设备的高密度混合通道板
    一种用于老化设备的高密度混合通道板_悦芯科技股份有限公司_202511851292.4
    本发明涉及高密度混合通道板技术领域，具体公开了一种用于老化设备的高密度混合通道板，包括直流转换单元、逻辑控制单元、程序处理单元、模式生成单元、时序控制单元、模数转换及多路选择单元、时钟模块，以及多种供电模块；直流转换单元为各模块提供工作电压...
    2026-05-08
  • 用于气冷高低温芯片的旋转式测试夹具
    用于气冷高低温芯片的旋转式测试夹具_深圳市世坤科技实业有限公司_202511875622.3
    本发明涉及芯片功能测试技术领域，具体为用于气冷高低温芯片的旋转式测试夹具，包括测试机构，所述测试机构包括旋压组件、外壳组件、供热组件、供冷组件、夹具组件，所述夹具组件位于所述旋压组件下方，所述供热组件以及所述供冷组件位于所述夹具组件以及所述...
    2026-05-08
  • 万能防碰撞工装
    万能防碰撞工装_深圳市智联科迅科技有限公司_202511884325.5
    本申请涉及万能防碰撞工装，属于PCBA功能测试领域，包括电动推杆和支撑板，所述电动推杆的下方连接有支架，支架上安装有第一安装板，第一安装板上转动安装有第一连接盘和第二连接盘，第一连接盘上安装有第一驱动组件，所述支撑板上安装有第二安装板，所述...
    2026-05-08
  • 一种低噪声放大器芯片噪声系数测试接收前端及测试系统
    一种低噪声放大器芯片噪声系数测试接收前端及测试系统_中国电子科技集团公司第五十五研究所_202511896135.5
    本发明公开了一种低噪声放大器芯片噪声系数测试接收前端及测试系统。接收前端包括：天线，接收太赫兹冷热源辐射功率并传输至待测件；太赫兹低噪放，对待测件输出的信号进行低噪声放大处理，并传输至太赫兹混频模块；信号源倍频组件，提供本振信号并与放大后的...
    2026-05-08
  • 芯片自动测试方法、装置以及系统
    芯片自动测试方法、装置以及系统_深圳市辰卓科技股份有限公司_202511933396.X
    本申请提供了一种芯片自动测试方法、装置及系统，涉及半导体测试技术领域。其中，该方法包括：控制所述IBI处理模块获取所述待测芯片发送的目标IBI请求；基于所述IBI处理模块中存储的IBI请求与响应数据之间的对应关系，在所述IBI处理模块中搜索...
    2026-05-08
  • 一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法
    一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法_吉光半导体科技有限公司_202511977629.6
    本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种半导体激光芯片测试装置以及测试方法，测试装置包括：顶部具有芯片卡槽的散热金属板，芯片卡槽从散热金属板的第一侧向散热金属板的顶面中心延伸，激光芯片设置在芯片卡槽内，激光芯片的第一侧与散热金属板的第一侧位...
    2026-05-08
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