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最新专利技术
  • 一种用于空间多组学的增强子与基因调控关系识别方法
    一种用于空间多组学的增强子与基因调控关系识别方法_西安交通大学_202511596852.6
    本发明属于生物信息学及基因组学技术领域，公开了一种用于空间多组学的增强子与基因调控关系识别方法，本方法步骤包括：获取同一组织切片的空间多组学数据，并对数据进行预处理，接着根据预处理后的数据，构建分层线性空间模型，再基于分层线性空间模型去除空...
    2026-03-19
  • 基于机器学习和WGCNA的子宫内膜异位症生物标志物的识别方法
    基于机器学习和WGCNA的子宫内膜异位症生物标志物的识别方法_中国医科大学附属盛京医院_202511503293.X
    本发明提供一种基于机器学习和WGCNA的子宫内膜异位症生物标志物的识别方法。该方法包括：构建子宫内膜异位症的乳酸相关基因诊断模型；构建子宫内膜异位症的患者分型、以及子宫内膜异位症的免疫相关功能的分析流程；构建子宫内膜异位症的乳酸相关基因调控...
    2026-03-19
  • 一种内存颗粒烧录方法、装置、电子设备及存储介质
    一种内存颗粒烧录方法、装置、电子设备及存储介质_深圳市晶存科技股份有限公司_202512052430.9
    本发明提供了一种内存颗粒烧录方法、装置、电子设备及存储介质。本发明提供的方法，包括：判断第一逻辑存储单元和第二逻辑存储单元是否接收到对应的片选信号；若第一逻辑存储单元和第二逻辑存储单元均未接收到对应的片选信号，则判断内存颗粒的物理位宽；若物...
    2026-03-19
  • DDR内存频率切换测试方法及装置
    DDR内存频率切换测试方法及装置_深圳市晶存科技股份有限公司_202512048803.5
    本申请涉及内存管理领域，提供一种DDR内存频率切换测试方法及装置。该方法包括：获取DDR内存的多个预设频率档位；构建至少两个不同切换模式的多阶段测试流程；对于每一测试阶段在执行频率切换动作前生成目标数据，并在执行频率切换动作的过程中从DDR...
    2026-03-19
  • 一种内存模块的IO接口信号质量测试方法
    一种内存模块的IO接口信号质量测试方法_深圳市晶存科技股份有限公司_202512047256.9
    本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种内存模块的IO接口信号质量测试方法，该方法包括：基于眼图分析方法，验证内存模块中I/O接口的信号完整性；当验证信号完整后，定量化对比输入眼图与输出眼图的形态特征，并判断信号在传输过程中是否发生形态特征变...
    2026-03-19
  • 一种内存芯片质量测试方法、装置、电子设备及存储介质
    一种内存芯片质量测试方法、装置、电子设备及存储介质_深圳市晶存科技股份有限公司_202512025310.X
    本发明提供了一种内存芯片质量测试方法、装置、电子设备及存储介质。本发明提供的方法，包括：获取多个内存芯片的引脚的眼图，根据眼图获取眼图指标数据；对多个内存芯片的引脚对应的同一种眼图指标数据进行统计，以获取引脚对应的同一种眼图指标数据的分布，...
    2026-03-19
  • 一种加快固态硬盘测试的方法
    一种加快固态硬盘测试的方法_福建民翔半导体有限公司_202511609131.4
    本发明提供一种加快固态硬盘测试的方法；包括：通过SATA接口连接固态硬盘，对固态硬盘执行数据写入及读取比对；将至少两个固态硬盘通过切换板与同一SATA接口连接；实时采集各固态硬盘的运行状态参数；基于运行状态参数动态调整固态硬盘与SATA接口...
    2026-03-19
  • 用于磁存储器的测试结构及测试方法
    用于磁存储器的测试结构及测试方法_致真存储(北京)科技有限公司_202511557228.5
    本申请提供一种用于磁存储器的测试结构及测试方法，涉及半导体测试技术领域，用于解决测试效率低及测试精度低的技术问题，该测试结构在写入通路的第一导电通孔的两端并联第一检测部和第二检测部，以测试第一导电通孔的电阻；在设置于磁隧道结与顶电极之间的第...
    2026-03-19
  • 一种1T1CBRAM存内计算单元电学特性测试系统和测试方法
    一种1T1CBRAM存内计算单元电学特性测试系统和测试方法_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202511551400.6
    本发明公开一种1T1CBRAM存内计算单元电学特性测试系统和测试方法，属于微电子器件领域。1T1CBRAM存内计算单元电学特性测试系统包括探针台、连接端口、电源/测量单元、脉冲发生器单元。其中，探针台用于放置1T1CBRAM存内计算单元，电...
    2026-03-19
  • 一种Nand-flash性能检测装置和方法
    一种Nand-flash性能检测装置和方法_至誉科技股份有限公司_202511513936.9
    本申请涉及一种Nand‑flash性能检测装置，包括：PCB板，其上设置有主控芯片和用于与外部测试主机进行通信连接的外部接口；至少一个测试座，其设置于所述PCB板上，其用于承载待测的Nand‑flash芯片；多个安装位，其设置于所述PCB板...
    2026-03-19
  • 一种内存芯片的阻抗匹配测试方法
    一种内存芯片的阻抗匹配测试方法_深圳市晶存科技股份有限公司_202512053961.X
    本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种内存芯片的阻抗匹配测试方法，该方法包括：对内存芯片的CA‑odt、DQ‑odt、SOC‑odt三个维度进行不同阻抗值匹配测试，得到不同阻抗组合；根据不同阻抗组合分别对内存芯片进行阻抗验证；筛查不同阻抗组...
    2026-03-19
  • 存储器、存储系统以及存储器的操作方法
    存储器、存储系统以及存储器的操作方法_长江存储科技有限责任公司_202511605527.1
    公开了一种存储器、存储系统以及存储器的操作方法，属于存储技术领域。在该方法中，接收来自控制器的操作指令，将操作指令中的多个初始字线标识映射为多个物理字线标识；通过多个物理字线标识指示的多个第一类字线，对多个第一类存储单元行执行操作指令对应的...
    2026-03-19
  • 移动终端系统的内存测试方法及装置
    移动终端系统的内存测试方法及装置_深圳市晶存科技股份有限公司_202512044783.4
    本申请涉及内存管理领域，提供一种移动终端系统的内存测试方法及装置。该方法包括：将安卓系统的程序存储于存储设备中，在设备启动后根据预设的原始启动地址加载安卓系统，在加载系统内核前将位于原始启动地址之后的初始空闲内存空间执行多模态预检测试；若预...
    2026-03-19
  • 一种内存芯片的Die容量自动识别方法
    一种内存芯片的Die容量自动识别方法_深圳市晶存科技股份有限公司_202512043676.X
    本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种内存芯片的Die容量自动识别方法，该方法包括：通过内存芯片的模式读取寄存器MR8并获取单个Die的容量；通过pin脚识别Rank数量和Channel数；判断单通道IO位宽，当位宽为16位，根据位宽分配D...
    2026-03-19
  • 一种基于机器学习优化内存芯片采集的测试数据的方法
    一种基于机器学习优化内存芯片采集的测试数据的方法_深圳市晶存科技股份有限公司_202512044063.8
    本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种基于机器学习优化内存芯片采集的测试数据的方法及其系统，该方法包括：从待测内存芯片的测试平台采集原始测试数据；构建一个卷积神经网络模型，通过卷积神经网络模型学习测试数据特征与内存缺陷之间的映射关系，通过采...
    2026-03-19
  • 测试装置
    测试装置_深圳星火半导体科技有限公司_202512010663.2
    本申请提供一种测试装置，包括多个卡槽，多个卡槽包括第一卡槽、第二卡槽和第三卡槽；每个卡槽具有与待测存储卡的对应引脚电性连接的接口；第一卡槽内设置有第一检测电路，用于检测存储卡的信号引脚的上钳位二极管是否正常导通；第二卡槽内设置有第二检测电路...
    2026-03-19
  • 快闪存储器控制器及快闪存储器控制器的补偿方法
    快闪存储器控制器及快闪存储器控制器的补偿方法_慧荣科技股份有限公司_202511026607.1
    本发明涉及快闪存储器控制器及快闪存储器控制器的补偿方法。该方法包括：提供第一输入/输出接口用于耦接于主机装置与内部总线之间；提供第二输入/输出接口用于耦接于快闪存储器装置与该内部总线之间；提供中央处理单元以管理多个快闪存储器操作；以及当应用...
    2026-03-19
  • 存储器系统及其操作方法、电子设备
    存储器系统及其操作方法、电子设备_新存科技(武汉)有限责任公司_202311668196.7
    本申请实施例提供一种存储器系统及其操作方法、电子设备。其中，存储器系统包括：非易失性存储器装置，包括多个页；预设个数的页形成一个存储组；存储器控制器，与非易失性存储器装置耦接，且被配置为：在对非易失性存储器装置进行读取操作的过程中，根据待读...
    2026-03-19
  • 一种存储器的编程方法、存储器及存储系统
    一种存储器的编程方法、存储器及存储系统_长江存储科技有限责任公司_202411027511.2
    本公开提供了一种存储器的编程方法、存储器及存储系统，涉及半导体芯片技术领域。方法包括：在第一编程阶段的第一时间段，向第一类型选择字线施加第一编程电压，并向第一类型选择字线相邻的非选择字线施加参考电压，在第一编程阶段的第二时间段，向第一类型选...
    2026-03-19
  • 存储器、存储系统以及存储器的操作方法
    存储器、存储系统以及存储器的操作方法_长江存储科技有限责任公司_202511622827.0
    本申请公开了一种存储器、存储系统以及存储器的操作方法，属于存储技术领域。对存储器的操作方法包括：确定参考存储单元的存储态，基于参考存储单元的存储态，确定目标存储单元对应的感测节点的放电时长。基于目标存储单元对应的感测节点的放电时长，对目标存...
    2026-03-19
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