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一种回路状态诊断方法与系统
本发明涉及回路状态诊断技术领域, 公开了一种回路状态诊断方法与系统。本发明通过对待测开关执行合闸操作, 实时采集并放大处理开关合闸前后的运行数据, 由录波单元记录相关数据后, 经主控制器进行波形变换以提取运行特征, 最终通过与预设特征库的匹...
一种电池系统的熔断器故障检测方法、装置及电池系统
本申请公开了一种电池系统的熔断器故障检测方法、装置及电池系统, 涉及储能系统技术领域, 该方法包括对于每个电池簇, 在第一继电器闭合时, 采集正极输入端与负极输出端之间的第一电压和正极输入端与负极输入端之间的第二电压, 并确定第一熔断器是否...
断路器合闸电阻机械缺陷检测方法、系统、介质及设备
一种基于多源信息测试的断路器合闸电阻机械缺陷检测方法、系统、介质及设备, 方法中, 对断路器合闸电阻进行振动加速度测试, 计算振动加速度信号的峰值apeak, 判断峰值apeak是否处于合闸范围内的预定阈值, 若峰值apeak出现超出预定阈...
锂电池保护板测试方法及系统
一种锂电池保护板测试方法及系统, 该方法包括:通过声学谐振传感单元对接插件结构进行谐振频率采样, 以获取接插件机械连接状态的声学基线信号。利用三轴加速度传感器和冲击传感器实时采集环境振动强度和冲击事件时间, 并与声学基线信号进行时间对齐。按...
一种用于ATE测试机的异步执行方法及系统
本发明涉及集成电路自动化测试设备领域, 揭示一种用于ATE测试机的异步执行方法及系统。异步执行方法包括SDK模块将上位机下发的测试项接口指令形成多个可执行任务并存入任务堆;SDK模块轮询任务堆中的任务, 判断任务的可执行性及处理模块;若任务...
一种可重构模块化集成电路测试设备
本发明提供一种可重构模块化集成电路测试设备, 涉及集成电路测试领域, 包括:设备底座;所述设备底座的内部后侧固定安装有控制电机, 设备底座的顶部端面中间处转动连接有旋转盘, 旋转盘的顶部中间处固定安装有主支柱, 旋转盘的顶部端面呈环形阵列滑...
一种基于人工智能的芯片检测方法及系统
本发明涉及芯片检测技术领域, 公开了一种基于人工智能的芯片检测方法及系统, 包括时钟频率获取、时钟频率对比、时钟抖动获取和时钟抖动对比。本发明提供的方法能够全面评估芯片的时钟输出、信号稳定性、功耗水平以及热管理能力, 确保仅在所有指标均符合...
一种用于缺陷定位的同轴高压和镂空功能的卡盘
本发明涉及缺陷定位的技术领域, 具体公开了一种用于缺陷定位的同轴高压和镂空功能的卡盘, 包括:底壳, 底壳包括两个连接块以及圆形支架, 连接块与圆形支架连接, 连接块上开设有第一槽口, 圆形支架周边开设有第一通槽, 第一槽口上设置有旋转调钮...
一种垂直腔面发射激光器的评估方法
本申请涉及激光器的技术领域, 尤其是涉及一种垂直腔面发射激光器的评估方法, 包括, S1、通过模板将电路图案转移到晶圆上, 模板上阵列排布有若干检测区域, 检测区域内含有阵列分布的芯片;S2、对检测区域的芯片进行抽样测试;S3、针对抽样的芯...
一种电路板自动测试装置及测试方法
本发明公开了一种电路板自动测试装置及测试方法, 包括底座和支架, 支架上设有横梁及支撑件, 底座上设有用于放置被测电路板的限位机构, 横梁上设置可驱动检测定位板上下移动的上下移动机构, 支撑件上设有与检测定位板滑动配合的导向机构, 检测定位...
一种卫星舱板加热回路检测装置及方法
本申请属于电路检测技术领域, 具体公开了一种卫星舱板加热回路检测装置及方法。该装置应用于舱板加热回路单元, 包括控制单元和成像单元;舱板加热回路单元包括多个检测区域, 每个检测区域的边界上设置有定位回路;控制单元在确定每个检测区域的回路阻值...
一种芯片数据分析方法、终端设备及存储介质
本发明涉及数据分析技术领域, 具体为一种芯片数据分析方法、终端设备及存储介质, 本发明中, 通过同步采集芯片多传感器多维时序数据流, 在目标分析窗口内识别各维度稳态、上升沿、下降沿和振荡四种变化模式类型, 同时量化变化主导维度标识、维度间时...
一种汽车用PCBA板检测装置与检测方法
本发明属于PCBA板检测技术领域, 具体涉及一种汽车用PCBA板检测装置, 包括:检测机体、安装于检测机体内部用于调节检测位置的龙门滑台以及安装于龙门滑台表面并进行检测的飞针检测头;传送组件, 包括贯穿安装在检测机体内部并位于飞针检测头底侧...
一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质
本申请公开了一种集成电路的检测系统、方法、电子设备及存储介质。所述检测系统包括信号发生模块, 用于向待测电路提供激励电流;磁场探测模块, 用于接收所述待测电路在激励电流的刺激下产生的垂直磁场分量, 并将其转化为电压信号;信号提取模块, 用于...
对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片
本申请实施例提供一种对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片。所述FPGA芯片包括激励单元、检验单元以及测试电路, 该方法包括:利用激励单元向测试电路输出激励信号;利用测试电路传输激励信号;利用检验单元对测试电路的末端输出端口输...
芯片、芯片崩应测试方法及芯片测试方法
本发明提供一种芯片、芯片崩应测试方法及芯片测试方法, 在芯片上电后能够触发自动崩应, 并能通过芯片相应的IO管脚的电位状态变化来实时反馈和监控崩应进展状态, 由此在芯片崩应期间, 测试机台无需额外向芯片发送相应指令就可以获取芯片的崩应进展状...
一种半导体器件中二极管的老化检测方法及系统
本发明公开了一种半导体器件中二极管的老化检测方法及系统, 涉及二极管检测相关技术领域, 方法包括:获取目标半导体器件的二极管接入电路, 部署微自检器执行各二极管的状态自检与判定;若自检结果为异常, 触发询问验证检定;包括:生成询问指令发送至...
一种高压二极管反向漏电流检测装置
本发明涉及一种高压二极管反向漏电流检测装置, 第三电阻R3的一端连接高压二极管D2的P极、另一端接GND, 高压二极管D2的N极与高压电源X1相连;第三电阻R3的电压检测端连接放大器N1正端, 第二电阻R2的一端接放大器负端、另一端接地, ...
一种用于发光二极管的检测装置
本发明公开了一种用于发光二极管的检测装置, 本发明涉及发光二极管的检测领域, 包括检测主体, 所述检测主体的顶部设置有发光晶体, 检测主体底部靠四角位置均固定连接有固定吸盘, 检测主体的侧面设置有通电槽, 发光晶体的底部设置有长针脚和短针脚...
IGBT的检测方法、系统及车辆
本申请公开了一种IGBT的检测方法、系统及车辆, 涉及IGBT技术领域, 应用于包括IGBT驱动模块、电流源模块和温度传感器的IGBT的检测系统, 电流源模块连接IGBT驱动模块, 温度传感器采集系统对应散热器上的散热器温度值, 接收到IG...
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