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  • 本申请涉及X射线成像技术领域, 公开了一种基于多焦点X射线源的层析成像装置和方法, 其中装置包括:控制系统, 用于控制多焦点X射线源对被检测物体进行纵向扫描;多焦点X射线源上设有横向分布的N个射线管, 每个射线管内包括独立的阴极与阳极, 用...
  • 本发明涉及芯片检测技术领域, 具体为一种集成电路芯片检测装置, 包括:X射线检测机、驱动电机、对中组件、定位板、往复组件和清洁胶卷;X射线检测机内安装有检测装置, 检测装置之间设有检测平台, 检测平台上开设有驱动腔;驱动电机安装于检测平台上...
  • 本发明公开了一种用于确定煤炭元素含量的方法、系统及计算设备, 涉及放射性安全检测技术领域, 解决了现有煤炭元素分析复杂的标准化校正、煤炭元素分析与预测结果精度低的技术问题;本发明通过伽马探测器获取初始煤炭样本的实测能谱数据;将实测能谱数据进...
  • 本发明提供一种基于电磁波反射原理的GIS内部机械缺陷无损检测装置及其工作方法, 包括:设置不同机械缺陷工况的GIS物理原型, 通过安装在检修孔的收发一体天线向导体系统定向发射检测电磁信号, 获取导体的反射电磁信号;利用发射和反射电磁信号构造...
  • 本发明涉及纺织品检测技术领域。本发明公开了一种纺织品瑕疵检测装置及纺织品瑕疵检测方法, 其包括纺织品下方的梯度吸光组件, 由吸光底层与反光多孔调节表层构成, 表层孔隙率沿检测方向梯度分布以放大穿透光局部变化。上方有脉冲偏振光源组, 发射偏振...
  • 本申请公开了PBA自动测试设备, 涉及印刷电路板生产技术领域, 包括主体单元, 所述主体单元内部设置有用于对PBA进行识别的视觉测试结构, 所述主体单元侧面设置有用于抗干扰的抗干扰结构, 所述主体单元内部设置有用于遮挡PBA的遮光结构, 所...
  • 本发明涉及图案检测技术领域, 提出了一种彩印包装图案检测装置及方法, 其中, 一种彩印包装图案检测装置, 包括视觉检测设备, 视觉检测设备设有两个, 其特征在于, 还包括, 支撑台、双轴传动机构、双向上料机构、供料组件、传动组件和配合机构,...
  • 本发明公开了一种PCB板表面处理前孔壁残胶检测方法, 包括以下步骤:S1、光学检测:PCB板送入自动光学检测设备对钻孔进行残胶检测, 得到孔壁的残胶检测图像, 根据PCB设计文件以及设定的残胶判定阈值;S2、图像分析:对若干个PCB板的残胶...
  • 本发明涉及视觉检测技术领域, 尤其是涉及一种腕臂管材的视觉检测装置, 以解决由于现有腕臂生产过程中主要通过线扫描对管材进行检测, 且线扫描仅能对管材的外观进行检测, 导致管材的部分潜在缺陷难以被发现的问题, 本设备适用于对腕臂管材上瑕疵和缺...
  • 本发明涉及线缆视觉识别技术领域, 且公开了一种线缆表面生产缺陷检测修复系统及方法, 该方法通过工业相机检测装置对线缆表面进行缺陷检测, 利用注塑装置对检测的缺陷位置进行注塑, 再经过修整机构对产生的凸凹块缺陷进行修整处理, 最后进行打磨抛光...
  • 本申请涉及晶圆检测技术领域, 提供了一种晶圆检测机构及晶圆检测设备。该晶圆检测机构包括晶圆载盘、光学检测模组、移动模组及搬运模组;晶圆载盘包括设有通光孔的支撑部和设于通光孔内的透光元件, 透光元件与通光孔孔壁共同围设形成透光介质槽, 透光介...
  • 本申请涉及晶圆检测技术领域, 提供了一种光学检测系统。该光学检测系统包括液膜形成模块、支撑部、照明模块、成像模块和控制模块;液膜形成模块具有通光孔, 通光孔底部设有透光元件, 透光元件与通光孔的内壁共同围设形成用于容纳透光介质的积液槽, 照...
  • 本发明公开了一种用于自动化检测光学棱镜表面缺陷的方法及检测系统, 该系统包括图像采集模块、光源模块、机械载物模块与控制处理模块。图像采集模块通过高分辨率面阵相机与远心镜头采集多角度图像;光源模块结合同轴光源与低角度环形光源以增强缺陷对比度;...
  • 一种极细微刀具观测仪, 它涉及刀具检测技术领域。它包含机台;安装于机台上的第一摄像头, 第一摄像头用于拍摄刀具端刃;安装于机台上并与第一摄像头垂直分布的第二摄像头, 第二摄像头用于拍摄刀具周刃, 且第二摄像头拍摄端安装有调节件, 调节件上安...
  • 本发明涉及一种药片包衣周边封膜破损检测装置及方法, 该装置包括壳体、检测组件、控制模块和操作显示模块;壳体包括底面板和壳体背板;检测组件包括图像采集模块、中心载具和转动电机, 图像采集模块挂设在壳体背板上, 转动电机驱动连接中心载具, 转动...
  • 本发明涉及一种药片包衣侧面缝隙的封装破损检测装置及方法, 该装置包括固定壳体、检测组件、控制模块和操作显示模块;固定壳体包括垂直连接的底面板和壳体背板;检测组件包括图像采集模块和进料放置台, 图像采集模块固定在壳体背板上, 进料放置台固定在...
  • 本发明公开了一种芯片测试方法、电子设备、存储介质及程序产品, 涉及计算机技术领域。该方法包括:确定目标图像中丝印区域的丝印图像, 并得到丝印图像的识别结果;根据识别结果确定目标芯片的测试条件, 并基于测试条件得到各测试值;基于各测试值在预设...
  • 本发明涉及工业无损检测技术领域, 尤其涉及一种基于机器视觉的纸桶缺陷全检方法, 包括:步骤1:曲面自适应光学环境构建:沿纸桶周向等间距布置环形低角度条形光源阵列, 各光源出射方向与纸桶表面法线呈动态调整的设定锐角, 该锐角随纸桶直径增大而减...
  • 本发明公开了基于自适应光学的单晶涡轮叶片晶向的缺陷检测系统, 具体涉及无损检测领域, 用于解决复杂结构件声学成像中热损伤与信号一致性难以兼顾的问题, 是通过分区能量门限设定、动态脉冲规划、光声处理以及统一坐标跨子区数据合成, 在材料检测过程...
  • 本发明涉及一种基于空间光调控的二次谐波表征系统, 包括:入射光路单元、探测光路单元以及样品台;入射光路单元沿光束入射方向依次包括激光器、起偏器、半波片、光调制器、长通滤光片和入射物镜;样品台上承载晶圆;探测光路单元沿光束反射方向依次包括可调...
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