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龙图腾网获悉杭州湘亭科技有限公司申请的专利一种Kr样品气除杂方法、系统、终端及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121731873B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610194326.5，技术领域涉及：B01D46/00；该发明授权一种Kr样品气除杂方法、系统、终端及存储介质是由李海;吴丹;王远;于万里;陶士华;李芷宜设计研发完成，并于2026-02-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种Kr样品气除杂方法、系统、终端及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种Kr样品气除杂方法、系统、终端及存储介质，涉及气体净化的技术领域，包括根据预设的单次空气体积预设的气罐向预设的三级过滤器输送样本空气进行初步除杂，以得到一次除杂空气；采集一次除杂空气中的一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量；根据一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量控制预设的分子筛对一次除杂空气进行除杂操作，以生成二次除杂空气；采集二次除杂后的分子筛内部温度；根据分子筛内部温度控制预设的深度除杂装置对二次除杂空气进行深度除杂，并控制预设的集气装置将深度除杂空气进行收集。本申请具有提高除杂效率和除杂能力的效果。

本发明授权一种Kr样品气除杂方法、系统、终端及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种Kr样品气除杂方法，其特征在于，包括： 根据预设的单次空气体积预设的气罐向预设的三级过滤器输送样本空气进行初步除杂，以得到一次除杂空气； 采集一次除杂空气中的一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量； 根据一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量控制预设的分子筛对一次除杂空气进行除杂操作，以生成二次除杂空气； 采集二次除杂后的分子筛内部温度； 根据分子筛内部温度控制预设的深度除杂装置对二次除杂空气进行深度除杂，并控制预设的集气装置将深度除杂空气进行收集； 根据一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量控制预设的分子筛对一次除杂空气进行除杂操作，以生成二次除杂空气的步骤包括： 将一次空气含水量和一次空气二氧化碳含量代入预设的分子筛高度计算公式中进行计算，以生成目标分子筛高度；分子筛高度计算公式为，式中，是指目标分子筛高度，是指除杂空气中水分子的质量，通过处理终端将一次空气含水量与1m3相乘即可得到，是指分子筛吸水容量，是指除杂空气中二氧化碳分子的质量，通过处理终端将一次空气二氧化碳含量与1m3相乘即可得到，是指分子筛吸二氧化碳容量，是指分子筛水平截面积，是指分子筛颗粒的填充密度； 采集实际分子筛高度； 计算目标分子筛高度与实际分子筛高度之间的差值，以生成分子筛需补偿高度； 根据分子筛需补偿高度控制预设的分子筛补充装置对分子筛进行补充； 将一次除杂空气输入分子筛进行二次除杂操作，并采集实际分子筛压强和实际分子筛气体流速； 根据实际分子筛压强和实际分子筛气体流速对预设的分子筛进气口和预设的分子筛出气口的阀门开度进行调整，以生成二次除杂空气。

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