武汉法斯特信息技术有限公司尹华林获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉法斯特信息技术有限公司申请的专利一种芯片半自动耦合测试平台获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN224195341U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202521063956.6,技术领域涉及:B07C5/344;该实用新型一种芯片半自动耦合测试平台是由尹华林;谭书伟设计研发完成,并于2025-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片半自动耦合测试平台在说明书摘要公布了:本实用新型涉及光电测试的技术领域,特别是涉及一种芯片半自动耦合测试平台,其不仅可以一次性对多组芯片进行测试,极大的提高了测试效果,方便对大批量的芯片进行测试,而且可以在测试后将不合格的芯片捡出,省去了人工捡拾的麻烦;包括收集机构;还包括两组盛放机构、旋转机构、测试机构和捡出机构,两组盛放机构均滑动安装在收集机构上并对芯片进行承载,旋转机构安装在收集机构上并带动测试机构和捡出机构旋转,测试机构安装在旋转机构上并对芯片进行测试,捡出机构安装在旋转机构上并将不合格芯片捡出。
本实用新型一种芯片半自动耦合测试平台在权利要求书中公布了:1.一种芯片半自动耦合测试平台,包括收集机构01;其特征在于,还包括两组盛放机构02、旋转机构03、测试机构04和捡出机构05,两组盛放机构02均滑动安装在收集机构01上并对芯片进行承载,旋转机构03安装在收集机构01上并带动测试机构04和捡出机构05旋转,测试机构04安装在旋转机构03上并对芯片进行测试,捡出机构05安装在旋转机构03上并将不合格芯片捡出。
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