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龙图腾网获悉深圳市芯片测试技术有限公司申请的专利基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121765670B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610248349.X，技术领域涉及：G06F18/26；该发明授权基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法及设备是由黄辉;吴韵;项月超设计研发完成，并于2026-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法及设备在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法及设备，方法包括：采集Flash存储颗粒测试任务中的颗粒响应行为数据，提炼时序关联逻辑信息；基于适配的行为序列分析算法创建动态推理模型，挖掘不同指令请求下的演化规律并生成隐藏演化轨迹；通过颗粒性能演化特征推导衰退趋势预测结果，将趋势特征转化为语义化知识节点并建立与失效类型的语义映射关系；结合测试日志数据生成结构化测试知识图谱，本申请突破了传统单一特征判断局限，为Flash颗粒寿命预测提供新维度，同时打破测试数据与设计优化的信息壁垒，能够实现数据到决策的高效转化。

本发明授权基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于人工智能的Flash颗粒测试数据处理方法，其特征在于，所述方法包括： 采集Flash存储颗粒测试任务执行过程中产生的颗粒响应行为数据，根据所述颗粒响应行为数据提炼得到颗粒响应行为的时序关联逻辑信息； 基于适配所述Flash存储颗粒测试任务的行为序列分析算法，以及所述时序关联逻辑信息中不同测试阶段的颗粒响应行为特征，创建基于行为序列的动态推理模型； 将所述Flash存储颗粒测试任务中不同指令请求对应的颗粒响应行为数据输入所述动态推理模型进行时序解析，挖掘不同指令请求下颗粒响应行为的演化规律，生成不同指令请求对应的隐藏演化轨迹：基于所述时序关联逻辑信息确定时间窗口划分的区间参数，按照所述区间参数对所述Flash存储颗粒测试任务中不同指令请求对应的颗粒响应行为数据进行时间窗口划分，得到若干个与指令请求一一对应的数据窗口，每个数据窗口均包含对应指令请求执行过程中连续时间段内的颗粒响应行为数据；采用潜在变量模型对每个数据窗口内的颗粒响应行为数据进行特征提取，生成每个数据窗口对应的隐状态序列，所述隐状态序列用于表征对应数据窗口内颗粒响应行为的内在变化特征；对不同指令请求对应的隐状态序列进行行为模式对比，对对比过程中存在相似变化特征的隐状态序列进行序列对齐，计算对齐后各隐状态序列之间的相似度参数，基于所述相似度参数对所有隐状态序列进行事件序列聚类，将聚类后的隐状态序列按照时间先后顺序进行时序分割，得到若干个时序分割段；提取每个时序分割段内隐状态序列的状态转移概率，通过所述状态转移概率表征对应时序分割段内颗粒响应行为的演化稳定性，将所述状态转移概率输入所述动态推理模型，由所述动态推理模型结合时序解析能力对各时序分割段的演化特征进行整合，挖掘不同指令请求下颗粒响应行为的演化规律，基于所述演化规律完成不同指令请求对应的隐藏演化轨迹的演化路径提取，生成与每个指令请求一一对应的隐藏演化轨迹，所述隐藏演化轨迹用于呈现对应指令请求下颗粒响应行为的动态变化过程； 通过所述隐藏演化轨迹中包含的颗粒性能演化特征，对颗粒测试失效事件的发生趋势及影响范围进行推导分析，得到与所述颗粒测试失效事件关联的衰退趋势预测结果； 将所述衰退趋势预测结果中的各趋势特征转换为对应的语义化知识节点，结合各语义化知识节点及颗粒测试失效事件建立趋势特征与失效类型的语义映射关系； 调用所述Flash存储颗粒测试任务执行过程中生成的测试日志数据，提取所述测试日志数据中与所述颗粒响应行为、所述颗粒测试失效事件相关的测试状态信息，基于所述测试状态信息以及所述语义映射关系进行关联匹配，利用关联匹配结果生成结构化测试知识图谱。

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