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中理检验有限公司胡顺峰获国家专利权

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龙图腾网获悉中理检验有限公司申请的专利铝土矿的X射线荧光光谱检测方法、系统、介质及产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121740931B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610236711.1,技术领域涉及:G01N23/223;该发明授权铝土矿的X射线荧光光谱检测方法、系统、介质及产品是由胡顺峰;林冠春;杨国辉;周祥;熊永慧;周超权设计研发完成,并于2026-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

铝土矿的X射线荧光光谱检测方法、系统、介质及产品在说明书摘要公布了:一种铝土矿的X射线荧光光谱检测方法、系统、介质及产品,涉及铝土矿检测技术领域。在该方法中,首先获取待测样品的荧光光谱数据和矿区环境指纹数据,通过背景噪声剥离确定初始浓度。然后构建矿物相干涉网络,基于矿物相特征计算界面辐射衰减率和次级荧光激发概率,生成相间耦合干扰矩阵。接着根据环境参数构建应力场模型,利用晶格畸变系数修正干扰矩阵。将共生矿物相组合输入环境自适应干扰模型,确定非线性基体效应偏差值。最后通过迭代补偿校正,直至相邻修正值差异小于阈值,输出目标金属元素的准确品位数据。实施本申请提供的技术方案,能够提高铝土矿的X射线荧光光谱检测的准确性。

本发明授权铝土矿的X射线荧光光谱检测方法、系统、介质及产品在权利要求书中公布了:1.一种铝土矿的X射线荧光光谱检测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取目标产区的待测样品和矿区环境指纹数据; 通过X射线荧光光谱仪获取所述待测样品的荧光光谱响应数据,并基于所述矿区环境指纹数据对所述荧光光谱响应数据进行背景噪声剥离,确定目标金属元素的初始浓度值; 构建所述待测样品的矿物相干涉网络,并基于所述矿物相干涉网络中各矿物相的元素组成和密度特征,计算各所述矿物相之间的界面辐射衰减率和次级荧光激发概率,生成相间耦合干扰矩阵; 基于所述矿区环境指纹数据中的温湿度参数和孔隙度参数,构建环境应力场模型,计算不同环境应力下各矿物相的晶格畸变系数,并利用所述晶格畸变系数对所述相间耦合干扰矩阵进行加权修正,得到环境干扰模型; 将所述矿物相干涉网络中的共生矿物相组合输入所述环境干扰模型,确定所述共生矿物相对所述目标金属元素的非线性基体效应偏差值; 利用所述非线性基体效应偏差值对所述初始浓度值进行补偿校正,直至相邻两次修正后的浓度差值小于预设阈值,输出所述目标金属元素的目标品位数据; 所述基于所述矿物相干涉网络中各矿物相的元素组成和密度特征,计算各所述矿物相之间的界面辐射衰减率和次级荧光激发概率,生成相间耦合干扰矩阵,包括: 从所述矿物相干涉网络中提取各矿物相的元素组成数据,并基于所述元素组成数据计算各矿物相对入射X射线和特征荧光X射线的质量吸收系数; 基于所述质量吸收系数和各矿物相的密度特征,计算相邻矿物相界面处的X射线穿透深度和荧光逸出深度; 根据所述X射线穿透深度和所述荧光逸出深度的比值,确定各所述矿物相之间的界面辐射衰减率; 计算各矿物相中原子序数大于或等于预设序数的元素对相邻矿物相中原子序数小于预设序数的元素的荧光激发能量转移效率,确定各所述矿物相之间的次级荧光激发概率; 将所述界面辐射衰减率作为衰减权重、所述次级荧光激发概率作为增强权重,构建反映矿物相间荧光信号传递关系的相间耦合干扰矩阵; 所述将所述矿物相干涉网络中的共生矿物相组合输入所述环境干扰模型,确定所述共生矿物相对所述目标金属元素的非线性基体效应偏差值,包括: 基于所述矿物相干涉网络的拓扑结构,确定承载所述目标金属元素的载体矿物相节点和与所述载体矿物相节点存在连边的伴生扰动相节点,生成待分析的原位共生拓扑簇; 从所述环境干扰模型中解析所述载体矿物相节点与各所述伴生扰动相节点在当前环境应力下的环境-晶格耦合传输张量; 结合各所述伴生扰动相节点的质量分数,利用所述环境-晶格耦合传输张量对所述原位共生拓扑簇进行荧光通量调制计算,量化各伴生扰动相节点对目标金属元素的特征荧光的基体辐射指数; 依据所述X射线荧光光谱仪的探测灵敏度,将所述基体辐射指数映射为浓度维度的等效品位漂移矢量,并将所述等效品位漂移矢量的模长确定为所述非线性基体效应偏差值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中理检验有限公司,其通讯地址为:100032 北京市西城区裕民路18号北环中心A座21层2101号(德胜园区);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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