德州仪器公司G·E·弗莱明获国家专利权
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龙图腾网获悉德州仪器公司申请的专利具有嵌入式测试电路系统的集成电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115004044B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180011003.3，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权具有嵌入式测试电路系统的集成电路是由G·E·弗莱明;A·P·S·詹设计研发完成，并于2021-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本具有嵌入式测试电路系统的集成电路在说明书摘要公布了：本发明涉及一种集成电路100，其包括多个引脚104、106、108，所述多个引脚包含信号输出引脚108。所述集成电路还包括多个信号节点114N、116N、118N。所述多个信号节点中的每一节点可操作以存储相应内部数据信号。所述集成电路还包括多个测试电路120、122、124。所述多个测试电路中的每一测试电路经配置以采样相应内部数据状态且响应于同时将唯一输出信号耦合到所述多个引脚中除所述信号输出引脚外的同一引脚104。
本发明授权具有嵌入式测试电路系统的集成电路在权利要求书中公布了：1.一种集成电路，其包括： 多个引脚，其包含信号输出引脚； 多个信号节点，所述多个信号节点中的每一节点可操作以存储相应的内部数据信号；及 多个测试电路，所述多个测试电路中的每一测试电路经配置以采样相应内部数据状态，且响应于采样所述相应内部数据状态，所述多个测试电路中的每一测试电路经配置以同时将唯一输出信号耦合到所述多个引脚中除所述信号输出引脚外的同一引脚。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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