山东大学王小利获国家专利权
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龙图腾网获悉山东大学申请的专利能谱图通量测量方法以及死时间矫正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115657110B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211144285.7，技术领域涉及：G01T1/40；该发明授权能谱图通量测量方法以及死时间矫正方法是由王小利;马一茗;史全岐;王硕;韩晨尧设计研发完成，并于2022-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本能谱图通量测量方法以及死时间矫正方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种能谱图通量测量方法以及死时间矫正方法，其解决了现有硅探测器测量信号过程中获得能谱器，当粒子通量过大时，ASIC芯片中电容阵列饱和，导致获得能谱通量不准确以及ASIC芯片死时间过长的技术问题，其将ASIC芯片的触发信号单独引出并通过定时器进行计数的方式，判断总的信号数量，结合SCA内部的数据可以获得完整的能谱。
本发明授权能谱图通量测量方法以及死时间矫正方法在权利要求书中公布了：1.一种能谱图通量测量方法，其特征是，包括以下步骤： 第一步，将能谱仪中ASIC芯片的触发信号TRIGOUT引脚，额外接入MCU的定时器TIM2的etr引脚； 第二步，使硅探测器工作，在一定时间内获得能谱图； 第三步，通过MCU的TIM2定时器的计数功能获得TRIG信号一定时间内的下降沿个数k； 第四步，建立ASIC芯片死时间的公式： P＝1.1674*N2*10-104-1 公式4-1中，N表示每秒的事件数量，P为死时间百分比； 通过反演算法弥补TRIGOUT内多个触发事件时间相聚过近导致的信号粘连，通过反演算法得到粘连信号的个数m，通过公式4-1反推粘连信号的个数，将每秒的事件数量具体值带入公式4-1，从而计算出死时间百分比P的具体值，然后再用下降沿个数k乘以P的具体值就得到粘连信号的个数m的具体值； 第五步，对下降沿个数k和粘连信号个数m求和：H＝m+k； 第六步，计算求和结果H与SKIROC2A芯片中电容阵列的数据个数S之比B：B=HS； 第七步，能谱图的通量是A，用A乘以B计算真实的能谱通量F：F＝A*B。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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