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中国科学院上海技术物理研究所袁立银获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120314240B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510496656.5,技术领域涉及:G01N21/35;该发明授权孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法是由袁立银;李想;李春来;何志平设计研发完成,并于2025-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法在说明书摘要公布了:本发明提出了孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法。此方法以N×M滤光片阵列作为室内成像目标,该滤光片阵列包含位于中心的红外窗口片,以及环绕红外窗口片周围的多个具有不同中心波长的滤光片,包含了丰富的光谱特征信息与滤光片的几何和空间位置信息。利用大面源黑体和大焦面的平行光管,系统能够捕获滤光片阵列中所有的必要信息。在图像重建后,以中心窗口的数据作为基准,各滤光片的光谱透射率曲线能够被快速且准确地计算出来,从而验证系统对光谱信息的采集能力。通过观察各光谱通道中滤光片的几何形状和相对位置也能验证系统对几何信息的采集能力。本发明为孔径编码红外高光谱成像系统提供了一种高效、可靠的快速验证手段。

本发明授权孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法在权利要求书中公布了:1.孔径编码红外高光谱成像系统的成像效果快速验证方法,其特征在于,包括以下步骤: 1以滤光片阵列为成像目标,使用面源黑体、平行光管和孔径编码红外高光谱成像系统搭建成像光路; 所述滤光片阵列为N×M排布,N与M均为大于等于3的单数;滤光片阵列中,位于中心的是红外窗口片,环绕红外窗口片周围的是其余多个具有不同中心波长的滤光片; 红外窗口片的透过波段范围覆盖孔径编码红外高光谱成像系统的探测波段;每个滤光片的半高宽不大于孔径编码红外高光谱成像系统的探测波段长度的30%;每个滤光片的中心波长均处于孔径编码红外高光谱成像系统的探测波段范围内,且任意两个滤光片的中心波长间隔不小于孔径编码红外高光谱成像系统的探测波段长度的10%,以确保滤光片阵列具有丰富的光谱特征信息; 2面源黑体发出长波红外辐射,经滤光片阵列后形成包含光谱特征信息的长波红外信号,再经平行光管后被孔径编码红外高光谱成像系统接收,完成一次编码数据采集; 3孔径编码红外高光谱成像系统对编码数据进行图像重建,得到滤光片阵列的高光谱图像数据; 4以红外窗口片区域的黑体光谱数据为基准,计算所有滤光片的透过率曲线,并与滤光片的出厂测试数据对比,验证孔径编码红外高光谱成像系统的光谱采集能力; 观察各光谱通道的图像数据,通过分析图像中各滤光片的几何形状和相对位置分布,并与滤光片阵列实物进行对照,验证孔径编码红外高光谱成像系统的空间采集能力。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海技术物理研究所,其通讯地址为:200083 上海市虹口区玉田路500号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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