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中国人民解放军国防科技大学罗登获国家专利权

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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利用于SerDes的TI-ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119853687B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411647334.8,技术领域涉及:H03M1/10;该发明授权用于SerDes的TI-ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质是由罗登;赵强国;陈硕;郭阳;梁斌;池雅庆;陈建军;孙晗晗设计研发完成,并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。

用于SerDes的TI-ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于SerDes的TI‑ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质,其包括:将每个子ADC量化得到的当前输出值分别与SerDes判决恢复出的前一拍数据做运算;以某个子ADC通道作为参考,得到其余子ADC采样时间相对于参考时间偏移的误差函数;采用LMS算法调节子ADC的采样时间以最小化误差函数,从而完成采样时间偏移失配的校准。该存储介质用来存储用来执行上述方法的计算机程序。本发明具有原理简单、操作简便、适用范围广、校准效果好和精度高等优点。

本发明授权用于SerDes的TI-ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种用于SerDes的TI-ADC采样时间偏移失配的校准方法,其特征在于,包括: 将每个子ADC量化得到的当前输出值分别与SerDes判决恢复出的前一拍数据做运算; 以某个子ADC通道作为参考,得到其余子ADC采样时间相对于参考时间偏移的误差函数; 采用LMS算法调节子ADC的采样时间以最小化误差函数,从而完成采样时间偏移失配的校准; 第一个通道子ADC的采样时钟为kMTS,其中k表示第k次采样,TS表示TI-ADC的采样周期;第二个通道子ADC的采样时钟为kMTS+TS,依次类推可得第m个通道的采样时钟为kMTS+m-1TS;考虑采样时间偏移误差,TI-ADC第1个通道的输出信号用下式表示: 其中,表示TI-ADC第1个通道的第k次采样值,表示输入码元,表示第1个通道的采样时钟偏差; 当仅考虑当前拍以及前一拍的数据,当前拍为第k次采样值,前一拍为第k-1次采样值,那么: 上式中,右侧式子的最后一项表示的是由其余数据在当前采样时刻导致的码间干扰ISI; 对求均值,得: 作为第m个通道有表示为: 为常数,得: 其中,表示时的斜率;将上式作为误差函数送给LMS模块,使趋向于0,实现采样时钟偏移的校准。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国人民解放军国防科技大学,其通讯地址为:410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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