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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118068244B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410124879.4，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法是由张云鹏;朱香宝;谢春茂;范哲源;高冲;余承勇;龙嘉威;高勇;李恩设计研发完成，并于2024-01-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法在说明书摘要公布了：本发明的目的在于提供一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法，属于材料电磁性能测试技术领域。该装置创新性地设置圆周型滑轨，使装置能够在不同入射角域下实现对电磁结构材料反射系数和传输系数的获取，并基于反射系数和传输系数推导出斜入射下的等效电磁参数反演公式；同时，反演过程基于装置进行了适应性改进，尤其是对校准过程进行完善，从而实现了在不同入射角域下对等效电磁参数的反演，为电磁结构材料的研发和应用提供了更多维度的电磁性能基础数据的可能性。

本发明授权一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法在权利要求书中公布了：1.一种电磁结构材料的等效电磁参数反演方法，其特征在于，所述反演方法基于以下测试装置实现，测试装置包括发射天线、接收天线、样品架和滑轨； 所述滑轨呈圆形，发射天线和接收天线可在滑轨上沿圆周移动，滑轨圆周内设置直径臂；样品架呈矩形，中心镂空，待测电磁结构材料或金属平板固定设置于样品架远离发射天线一侧的表面，待测电磁结构材料中心或金属平板中心与样品架中心保持一致；样品架设置于直径臂中心处；接收天线辐射方向轴线与发射天线辐射方向轴线关于样品架平面中心处法线对称，或接收天线辐射方向轴线与发射天线辐射方向轴线重合； 反演方法包括以下步骤： 步骤1：根据所需电磁波入射极化要求，调整发射天线的极化状态，同时将发射天线沿滑轨滑动，使发射天线辐射方向轴线与样品架平面中心处法线的夹角等于所需入射角θ； 步骤2：调整接收天线的极化状态，使其与发射天线保持一致，然后沿滑轨滑动接收天线，使接收天线辐射方向轴线与发射天线辐射方向轴线关于样品架中心处平面法线对称，再提取待测电磁结构材料在入射角θ下的反射系数Γ，具体过程为： 步骤2.1.在样品架上不放置任何物品，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤2.2.在样品架上放置金属平板，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤2.3.在样品架上放置待测电磁结构材料，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤2.4.计算得到反射系数Γ，具体公式为， 1； 步骤3：沿滑轨滑动接收天线，使接收天线辐射方向轴线与发射天线辐射方向轴线重合，然后提取待测电磁结构材料在入射角θ下的传输系数T，具体过程为： 步骤3.1.在样品架上不放置任何物品，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤3.2.在样品架上放置金属平板，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤3.3.在样品架上放置待测电磁结构材料，测量得到发射天线和接收天线之间的参数； 步骤3.4.计算得到传输系数T，具体公式为， 2 其中，d为待测电磁结构材料厚度，k为自由空间波数，k=2πλ，λ为自由空间波长；j为虚数； 步骤4：基于步骤2得到的反射系数Γ和步骤3得到的传输系数T，计算得到待测电磁结构材料在入射角θ下的等效电磁参数，具体公式为： 当发射天线为垂直极化入射时，入射角θ下的等效磁导率μr⊥和等效介电常数εr⊥分别为： 3 4 当发射天线为水平极化入射时，入射角θ下的等效介电常数εr∥和等效磁导率μr∥分别为： 5 6 其中： 7 8 9 10 式中，为待测电磁结构材料在入射角θ下背靠空气时的传输系数，，为样品厚度引起的传播方向上的相位变化，n为相位模糊时的相位修正系数，n为自然数。

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