中国科学院沈阳自动化研究所王锴获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院沈阳自动化研究所申请的专利一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117665496B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211016869.6，技术领域涉及：G01R31/12；该发明授权一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法是由王锴;孙越;徐皑冬;曾鹏;郭海丰设计研发完成，并于2022-08-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法，包括：向待测线圈注入小幅值高频信号并采集其响应信号，待测线圈当前温度信号利用温度传感器采集或基于非侵入式信号估算获取，基于线圈的高频响应信号构建绝缘健康因子，借助绝缘健康因子映射模型将当前温度下的健康因子变换成参考温度下的健康因子，基于参考温度下电磁线圈健康评估模型确定监测阈值，最后完成电磁线圈绝缘退化状态精准评估。本发明充分考虑了线圈温度对高频电学参数的干扰问题，通过引入健康因子映射，有效提升了现有基于高频电学参数的电磁线圈绝缘退化监测方法的鲁棒性，对于避免因线圈绝缘失效而引发的意外停机事故以及最终实现工业装备的预测性维护有重要意义。
本发明授权一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法在权利要求书中公布了：1.一种高鲁棒性的电磁线圈绝缘退化状态评估方法，其特征在于，包括以下步骤： 数据采集：获取待测电磁线圈的温度以及不同温度下电磁线圈的高频电学响应信号； 健康因子构建：基于高频电学响应信号构建当前温度下的健康因子HImeasure，用于表征电磁线圈的健康状态； 健康因子映射：基于待测电磁线圈的温度，根据健康因子映射模型，把待测电磁线圈当前温度下的健康因子HImeasure映射至基准温度下，得到基准温度下的健康因子HIreference； 线圈退化阈值确定与健康状态评估：基于基准温度下的健康因子确定阈值，将待测电磁线圈基准温度下的健康因子HIreference与基准温度下的轻微退化状态阈值HISlightdegradation、严重退化状态阈值HISeveredegradation和故障预警状态阈值HIfailure比较，完成待测线圈的健康状态评估。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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