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龙图腾网获悉湖南融创微电子股份有限公司申请的专利基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224114625U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520366834.8，技术领域涉及：B07C5/344；该实用新型基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台是由陆志杰;韩龙;左富祥;程晓虎;任智仁设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台在说明书摘要公布了：本实用新型涉及基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台，通过采用高精度的温度监测模块，将低温环境的温度波动控制在较小范围内，从而可以监控芯片是否在稳定的低温条件下进行测试，提高了测试结果的准确性和测试可信度；采用的芯片测试夹具能够同时测试多颗芯片，并且可以根据不同的生产任务支持进行差异定制，操作简单，可通过联动既有的相关测控平台完成全自动筛选，极大的减少了人员的测试时间。采用芯片测试夹具和温度监测模块、多路电源模块等其他模块隔离的设计，避免了人员的频繁操作，极大的提高了人员和设备的安全，降低待测芯片的二次损伤概率，有效实现了对芯片低温性能的高效、准确且低成本的筛选。

本实用新型基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台在权利要求书中公布了：1.一种基于单片机控制的全自动芯片低温筛选平台，其特征在于，包括主控模块、串口模块、芯片测试夹具、温度监测模块、多路电源模块、数据采集处理模块以及结构板，所述主控模块分别连接所述串口模块、所述多路电源模块和所述数据采集处理模块，所述数据采集处理模块分别连接所述多路电源模块、所述芯片测试夹具和所述温度监测模块，所述串口模块用于连接上位机，所述芯片测试夹具、所述温度监测模块和所述数据采集处理模块通过PCB板装设在所述结构板上； 所述芯片测试夹具包括针对待测试的芯片定制的待测芯片座，用于装载待测试的芯片，连接所述多路电源模块和所述数据采集处理模块分别到芯片的各相应引脚，所述温度监测模块用于实时监测所述芯片测试夹具的芯片测试区域的温度数据并控制温箱内的筛选实验温度保持在设定温度范围内； 所述多路电源模块中每一路电源模块均包括继电器以及ADC检测电路，所述继电器用于切换接入所述芯片测试夹具的电源，所述ADC检测电路用于检测芯片的实时功耗并传给所述主控模块，所述数据采集处理模块用于采集芯片在低温测试过程中的性能数据并通过软排线回传到所述主控模块。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人湖南融创微电子股份有限公司，其通讯地址为：410205 湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路18号中电软件园二期第A5栋1层101号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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