芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司邓维维获国家专利权
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龙图腾网获悉芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司申请的专利芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114253784B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111567074.X，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备是由邓维维;葛平;廖毅;张涌设计研发完成，并于2021-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备，属于集成电路技术领域。该芯片测试模式的配置方法包括：获取用户输入的用于对SOC芯片的指定测试模式进行测试的控制指令；将所述控制指令发送给所述SOC芯片，以触发所述SOC芯片运行所述控制指令对应的预设代码，以对所述SOC芯片中的寄存器相关参数进行配置，以使所述SOC芯片进入所述指定测试模式，其中，所述预设代码中包含有该指定测试模式下寄存器的配置参数。该方法不需要测试工程师理解用于配置寄存器的各串口协议，也不要了解具体寄存器如何配置，简单的几个指令选择，便可轻松使芯片进入想要的测试场景。
本发明授权芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试模式的配置方法，其特征在于，包括： 将包含SOC芯片的每个测试模式下寄存器所需配置参数和用于触发每个测试模式的控制指令的代码，存储到所述SOC芯片内的存储器或与所述SOC芯片连接的存储器中，其中，所述代码为能在所述SOC芯片的内核运行的软体代码，且所述代码中的配置参数为满足ATE测试要求使所述SOC芯片进入指定测试模式的寄存器所需配置参数； 获取用户输入的用于对SOC芯片的指定测试模式进行测试的控制指令；将所述控制指令发送给所述SOC芯片，以触发所述SOC芯片运行所述存储器中与所述控制指令对应的预设代码，以获取所述预设代码中的配置参数对所述SOC芯片中的寄存器相关参数进行写操作配置，以使所述SOC芯片进入所述指定测试模式，其中，所述预设代码中包含有该指定测试模式下寄存器的配置参数和用于触发该指定测试模式的控制指令。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(成都)有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区春晓路289号张江大厦20A；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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