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上海聚克流体控制有限公司薛辉获国家专利权

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龙图腾网获悉上海聚克流体控制有限公司申请的专利基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121481577B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610024236.1,技术领域涉及:G06Q30/018;该发明授权基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法及系统是由薛辉;宋海晓设计研发完成,并于2026-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。

基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法及系统,本发明涉及部件追溯技术领域,解决了缺乏对零部件物理特征、影像信息等关键数据的关联整合,导致异常发生时难以快速定位根源的问题,本发明通过融合设备编号、表面特征点位、编码区域空间关系三重核心信息:通过灰度化处理与Sobel算法提取零部件梯度轮廓特征点,结合特征夹角与中心点定位形成表面特征基准;这种“编码+物理特征”的双重绑定模式,避免了传统编码易磨损、易篡改导致的身份混淆问题,即使在零部件表面编码轻微受损时,仍可通过梯度轮廓与特征点比对确认身份,确保每个零部件从出库到流转全流程的“唯一标识”不失效,为追溯数据的准确性奠定了基础。

本发明授权基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法及系统在权利要求书中公布了:1.基于智能编号的半导体设备零部件全流程追溯方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一、获取每组半导体设备零部件的出库影像,并确定出库影像内所关联的设备编号,结合零部件的表面特征,确认零部件的表面综合特征编号,具体方式为: 在出库影像内确认零部件表面编码所在区域,并对所在区域的中心点进行标定,确认标定中心点与表面特征之间的直线距离; 再从零部件表面编码所在区域直接提取部件编码,将直线距离置于部件编码后,生成属于当前零部件的表面综合特征编号; 步骤二、在半导体设备零部件进入下一流程时,重新获取半导体设备零部件的表面影像,并再次确认表面综合特征编号,识别所确认的表面综合特征编号是否与所记录的表面综合特征编号一致,若一致,则无需进行任何处理,若未一致,则将此设备零部件记作异常流程部件; 步骤三、针对于所确认的异常流程部件,提取此部件所关联的流程信息,并从流程信息内提取每次流程信息所记录的表面综合特征编号,从所记录的表面综合特征编号中,确认不一致的流程,并从中提取表面影像,评定异常流程部件的异常信息并展示,具体方式为: 确认异常流程部件在出库影像中所关联的表面综合特征编号并记作主编号,再从异常流程部件的所关联的流程信息中,将每次所确认的表面综合特征编号按照时间先后进行排序,确认编号序列,并在编号序列内从前至后确认首次与主编号未一致的表面综合特征编号,将此表面综合特征编号所关联的流程信息记作待定信息,从待定信息确认关联影像; 对关联影像所标定的梯度轮廓进行确认并记作次轮廓,并在主编号所关联的出库影像中确认梯度轮廓并记作主轮廓,使主轮廓与次轮廓进行重合校验,确认异常信息: 若主轮廓与次轮廓未完全重合,零部件表面编码区域完全重合,则生成零部件形变信号进行展示; 若主轮廓与次轮廓未完全重合,零部件表面编码区域也未完全重合,则生成多重异常信号进行展示,多重异常信号包括零部件形变信号以及表面编码更换信号; 若主轮廓与次轮廓完全重合,零部件表面编码区域未完全重合,则生成表面编码更换信号。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海聚克流体控制有限公司,其通讯地址为:201700 上海市青浦区拓青路405号10D幢;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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