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龙图腾网获悉上海为旌科技有限公司申请的专利芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121277745B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511852265.9，技术领域涉及：G06F11/07；该发明授权芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质在说明书摘要公布了：本申请提出了一种芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质。本申请从芯片的测试数据中解析出测试项、信号名称及模块的信息，并创建嵌套字典，通过该嵌套字典定义了在测试项下信号名称与模块之间的映射关系，然后从测试数据中解析出指定类型的数据，即FTR数据和PMR数据，并从所述指定类型的数据中得到信号数字索引，继而根据信号数字索引得到对应的失效信号名称，最后根据嵌套字典的映射关系得到失效信号名称对应的失效模块。基于此，本申请基于FTR和PMR这两个指定类型的数据，可以实现对芯片失效模块的精确且迅速定位，同时不会额外增加测试时间和测试成本。

本发明授权芯片失效模块的定位方法及设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片失效模块的定位方法，其特征在于，包括： S1、在测试前，确定芯片的多个测试项，并获取各个测试项使用的多个信号名称、以及各个所述信号名称对应的模块； S2、对所述芯片进行测试以得到测试数据； S3、从测试数据中解析测试项、信号名称及模块的信息，并创建嵌套字典，所述嵌套字典定义了在测试项下信号名称与模块之间的映射关系； S4、从所述测试数据中解析出FTR数据，并从所述FTR数据中获取测试项对应的所有信号数字索引以及管脚的测试结果标识； S5、从所述测试数据中解析出PMR数据，并从所述PMR数据中获取信号数字索引和信号名称，构建信号数字索引为键、信号名称为值的索引字典； S6、根据信号数字索引与测试结果标识之间的一一对应关系，从所述FTR数据中读取表示失效的测试结果标识及对应的失效的信号数字索引，并根据所述索引字典，确定失效的信号数字索引对应的信号名称，作为失效信号名称； S7、根据所述嵌套字典确定所述失效信号名称对应的模块，作为失效模块。

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