国营川西机器厂王鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉国营川西机器厂申请的专利一种线性缺陷深度的射线检测计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121071267B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511618736.X,技术领域涉及:G06F17/10;该发明授权一种线性缺陷深度的射线检测计算方法是由王鑫;赵希龙;黄选民;李本事;余娟;张玥设计研发完成,并于2025-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种线性缺陷深度的射线检测计算方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种线性缺陷深度的射线检测计算方法,包括如下步骤:制作专用定位标记;专用定位标记包括若干以同一点为中心向外呈放射状分布的分支;对零件进行一次透照,得到一次透照底片,确定物距f和焦距F;对一次透照底片上的线性缺陷进行线性拟合得到线性缺陷拟合线,根据线性缺陷拟合线的方向,选择与线性缺陷拟合线平行的专用定位标记分支,并测量该专用定位标记分支与线性缺陷拟合线的垂直距离L1;根据线性缺陷整体走向的法线方向对零件进行平行位移,平行位移距离W;对平行位移后的零件进行二次透照,得到二次透照底片,对二次透照底片上的线性缺陷进行线性拟合得到线性缺陷拟合线,选择与线性缺陷拟合线平行的专用定位标记分支,并测量该专用定位标记分支与线性缺陷拟合线间的垂直距离L2;根据如下公示计算线性缺陷深度:。
本发明授权一种线性缺陷深度的射线检测计算方法在权利要求书中公布了:1.一种线性缺陷深度的射线检测计算方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤一、根据零件材料和厚度制作专用定位标记;所述专用定位标记包括若干以同一点为中心向外呈放射状分布的分支; 步骤二、根据零件材料和厚度确定射线检测参数,并进行一次透照,得到一次透照底片,确定物距f和焦距F; 步骤三、对一次透照底片上的线性缺陷进行线性拟合得到线性缺陷拟合线,根据线性缺陷拟合线的方向,选择与线性缺陷拟合线平行的专用定位标记分支,并测量该专用定位标记分支与线性缺陷拟合线的垂直距离L1; 步骤四、根据线性缺陷整体走向的法线方向对零件进行平行位移,平行位移距离W; 步骤五、对平行位移后的零件进行二次透照,得到二次透照底片,对二次透照底片上的线性缺陷进行线性拟合得到线性缺陷拟合线,选择与线性缺陷拟合线平行的专用定位标记分支,并测量该专用定位标记分支与线性缺陷拟合线间的垂直距离L2; 步骤六、根据平行位移距离W,零件厚度T,物距f,L1,L2,根据如下三角函数关系计算线性缺陷深度: 。
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