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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120507572B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510694536.6，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法及系统是由董金强;侯牡玉;肖东海;杨星宇;郭春生设计研发完成，并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法及系统，方法如下：一、根据电磁散射机理推导出不同尺寸下的后向散射电场公式，根据雷达散射截面RCS的定义得到入射波矢量的目标RCS计算表达式；通过待定系数法和积分中值定理，将目标RCS计算表达式转换为用于构造协方差函数的变体公式；二、将变体公式进行反变换，再进行拆解；三、采用多项式协方差函数表征反变换公式中的多项式部分，采用光谱混合协方差函数表征反变换公式中的余弦部分；将以上两种协方差函数结合成为SPFPE协方差函数；四、使用随机数方法对SPFPE协方差函数进行初始化；五、以最大化对数边缘似然为优化目标来优化SPFPE协方差函数的超参数，得到SPFPE‑GPR方法；六、用SPFPE‑GPR方法对目标RCS进行外推。

本发明授权基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于电磁散射机理的RCS全概率尺寸外推方法，其特征是，包括以下步骤： 步骤一：根据电磁散射机理推导出不同尺寸下的后向散射电场公式，然后根据雷达散射截面RCS的定义得到入射波矢量的目标RCS计算表达式；再通过待定系数法和积分中值定理，将关于入射波矢量的目标RCS计算表达式转换为用于构造协方差函数的变体公式； 步骤二：将步骤一得到的变体公式进行反变换，再将反变换后的变体公式进行拆解； 步骤三：根据高斯过程的性质，采用多项式协方差函数表征反变换公式中的多项式部分，采用光谱混合协方差函数表征反变换公式中的余弦部分；基于高斯过程的可乘性，将两种协方差函数结合成为SPFPE协方差函数； 步骤四：使用随机数方法对步骤三得到的SPFPE协方差函数进行初始化； 步骤五：以最大化对数边缘似然为优化目标来优化步骤四SPFPE协方差函数的超参数，得到SPFPE-GPR方法； 步骤六：使用步骤五得到的SPFPE-GPR方法对目标的RCS进行外推； 步骤一中，后向散射电场公式如下： 1 其中，为入波矢量，，为虚数单位，为波阻抗，和分别代表观察点和源点，表示第个照射面的外单位法向量，代表第个照射面，是照射面的个数，为入射磁场在表面点处的强度； 在照射面上有，，为入射电场的单位向量，设目标初始尺寸为,实际尺寸与放大系数之间的关系为，则有以下公式： 2 继续推导，得到不同尺寸下的后向散射电场公式： 3 定义雷达散射截面RCS为，其中，设为1；从而得到关于入射波矢量的目标RCS计算表达式： 4 其中，是对数单位； 根据待定系数法和积分中值定理将式4转换为变体公式： 5 其中，为未知数，为第个照射面上的点，为第个照射面的面积。

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