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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器及其在图像卷积处理的应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119815949B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510015535.4，技术领域涉及：H10F39/12；该发明授权基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器及其在图像卷积处理的应用是由赵昱达;苏向炜;武洪钊设计研发完成，并于2025-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器及其在图像卷积处理的应用在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器及其在图像卷积处理的应用。该器件包含沉积在衬底上的双极型二维半导体和N型二维半导体，二者形成水平异质结结构。通过背栅电压的调节，控制异质结的能带排布，实现可以连续变化的光谱响应函数，使得无需滤色片即可获得多波段下图像信息。同时，通过源漏电压调控异质结的光电流响应，进而赋予输出信号不同的权重，将与卷积核尺寸相同的若干异质结并联起来，将读取到的电流之和再映射为灰度值，便可得到该波段下卷积后的图像。通过对不同波段下分别应用卷积操作，就可以完成图像卷积处理。该器件在集成图像采集与卷积计算方面表现出色，有效减少了计算资源开销，显著提高了图像处理效率。

本发明授权基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器及其在图像卷积处理的应用在权利要求书中公布了：1.一种基于二维半导体异质结构的彩色图像传感器在图像卷积处理的应用，其特征在于，所述彩色图像传感器包括沉积在衬底上的双极型二维半导体层和N型二维半导体层，二者形成水平异质结，所述彩色图像传感器通过栅极电压及源漏电压的组合，能够同时实现具有卷积计算的图像数据的采集和处理；包括： 确定光信号强度的范围及通道种类，确定光信号强度与灰度值的映射关系； 根据需要关注的颜色确定通道种类，根据通道种类确定器件的栅极电压； 根据图像卷积处理的目的确定每个通道对应的卷积核，计算得到每个波段下的卷积核的权重分布并归一化； 建立指定通道下器件光电流与光强的映射关系，以及权重与源漏电压的映射关系； 将若干相同器件按照卷积核的尺寸与形状排布，并联起来作为感光阵列； 根据卷积核权重分布和映射关系确定感光阵列的源漏电压矩阵； 采集图像时，对感光阵列施加预先确定的不同通道下的栅极电压和源漏电压矩阵，读取光电流和； 将光电流和转化为灰度值，从而得到不同通道下卷积处理后的图像，融合得到彩色图像。

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