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龙图腾网获悉武汉智动飞扬科技有限公司申请的专利一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119334241B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411221534.7，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法及系统是由张峰;石诗豪设计研发完成，并于2024-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法，分别在X轴、Y轴方向采用光斑对准目标透镜进行循环扫描，再分别由线阵CCD采集反射光斑，并分别根据光功率分布数据提取光斑数据；分别依据在X轴、Y轴方向所提取的光斑数据通过高斯函数拟合高斯曲线，若无法拟合出高斯曲线，且目标透镜无法完整反射光斑，则分别计算有效光功率面积大小，并判断目标透镜是否破损，若可以拟合出高斯曲线，则分别结合X轴、Y轴方向中所确定的光斑最大点对应的X轴位置，确定目标透镜的相对位置信息，并判断目标透镜耦合过程中是否超出范围。有益效果为：可以判断透镜位置和识别是否破损，以指导透镜进行耦合工序，降低耦合难度，提升良品率。

本发明授权一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种800G硅光耦合透镜位置和缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、分别在X轴方向以及Y轴方向采用比目标透镜尺寸小的光斑对准目标透镜进行循环扫描，再分别由X轴线阵CCD230以及Y轴线阵CCD330采集目标透镜上的反射光斑，并分别根据光功率分布数据提取光斑数据； S2、依据在X轴方向所提取的光斑数据通过高斯函数拟合高斯曲线，若无法拟合出高斯曲线，则进入S5，若可以拟合出高斯曲线，则确定光斑最大点对应的X轴位置，并进入S4； S3、依据在Y轴方向所提取的光斑数据通过高斯函数拟合高斯曲线，若无法拟合出高斯曲线，则进入S5，若可以拟合出高斯曲线，则确定光斑最大点对应的X轴位置，并进入S4； S4、结合两次所确定的光斑最大点对应的X轴位置，确定目标透镜的相对位置信息，并根据所设定范围比较目标透镜耦合过程中是否超出范围； S5、若判定目标透镜无法完整反射光斑，则分别计算X轴线阵CCD230以及Y轴线阵CCD330所接收到的有效光功率面积大小，并分别将有效光功率面积与真实面积对比，再根据是否超出范围以此判断目标透镜是否破损，若判定透镜光斑没有返回，则表明透镜超出扫描范围或没有透镜。

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