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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116592997B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310570798.2，技术领域涉及：G01J1/42；该发明授权基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法是由罗兰;方亮;刘博设计研发完成，并于2023-05-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法，通过设置合适的偏振态制备器和偏振态选择器，制备虚数弱值，并利用量子弱测量微分效应得到的轨道角动量光束的微分分布从而实现对轨道角动量光束的检测和角动量量子数的测量。本发明基于量子弱测量技术，运用光学微分的方式实现了在自然状态下轨道角动量光束的测量，在一定程度上降低了实验耗能，为工程及实验室相关领域提供一种简单且低耗能的轨道角动量检测方法，在光通信、传输和操纵等多个技术领域具有重要应用价值。

本发明授权基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于量子弱测量技术的轨道角动量光束检测方法，其特征在于：该方法利用的量子弱测量技术的轨道角动量光束实验装置包括聚焦透镜1、偏振态制备器2、双折射晶体3、14波片4、偏振态选择器5、准直透镜6和光电探测器7；轨道角动量光束经过聚焦透镜1聚焦后，进入偏振态制备器2制备线偏振光作为弱测量模型中的前选择态，然后双折射晶体3在水平和垂直偏振方向引入位置偏移作为弱相互作用，14波片4和偏振态选择器5共同制备略偏离线偏振光方向的椭偏光作为后选择态，准直透镜6准直光束后由光电探测器7接收信号光的光场分布； 该方法包括以下步骤： 1调节所述量子弱测量技术的轨道角动量光束实验装置，使偏振态制备器2的偏振角位于方向，双折射晶体3水平放置，偏振态选择器5与偏振态制备器2以一个极小的角度接近正交，光束通过偏振态制备器2后，垂直入射到双折射晶体3中，在双折射晶体3的作用下沿着x轴的方向上有着微小位移的o光和e光，实现仪器与检测系统的弱耦合，偏振态选择器5与14波片4组成弱测量体系中的后选择部分，通过调节后选择中偏振态选择器5的角度完成后续的检测，最后光束在CCD上以光强的形式被检测； 2根据以下公式得到经过偏振态制备器2制备的前选择态为： 其中，和和水平和垂直偏振态； 3根据以下公式得到经过双折射晶体3得到的偏振态： 其中，为双折射晶体3在o光和e光引入的微小位移，为x或者y方向的波矢，为可观测量算符； 4根据以下公式得到经过14波片4和偏振态选择器5设定的后选择态为： 其中，为后选择角，其中cot，表示相对于与前选择正交的偏振方向所产生两个对称的后选择态； 5入射光场的波函可以数描述为，和分别表示振幅分布和相位分布，对称后选择态所得到的分布相减后可以得到： 6阶的拉盖尔-高斯光束可以表示为，这里是振幅项，和相位项无关，=，是角量子数，p是径向量子数，为瑞利长度，，得到振幅的分布，在一定的阶数下是一个常数，在范围内进行上述的光学微分运算，相位函数的分布沿任意方向q可以表示为， 其中，表示振幅分布，相位全微分分布为： 上式表明直接得到轨道角动量光束相位分布函数的微分结果，从而获得轨道角动量光束相应的角动量。

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