苏州亿现电子科技有限公司雷威获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州亿现电子科技有限公司申请的专利一种积分探测X射线彩色成像方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116359256B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310342291.1,技术领域涉及:G01N23/04;该发明授权一种积分探测X射线彩色成像方法是由雷威;周建明;朱莹设计研发完成,并于2023-04-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种积分探测X射线彩色成像方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种积分探测X射线彩色成像方法,该方法采用X射线管发射出宽谱X射线束,穿透过被探测物体后照射到能量分辨积分型X射线探测器。该探测器首先选用厚度很高的光子吸收体将不同波长的X射线能量完全沉积;然后利用高能X射线光子沉积深度较深,低能X射线光子沉积深度较浅,以及通过改变探测器偏置电压调控不同X射线沉积位置的光生载流子复合速率,将不同能量X射线光子入射所产生的探测信号转换为一个非线性规划问题;通过对该非线性规划的最优化求解,识别出入射X射线的能量和强度信息。在探测速度和价格方面有明显优势。
本发明授权一种积分探测X射线彩色成像方法在权利要求书中公布了:1.一种积分探测X射线彩色成像方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:X射线源利用韧致辐射现象发射X射线束;步骤2:所述X射线束经过被探测物体后照射到能量分辨积分型X射线探测器;步骤3:所述能量分辨积分型X射线探测器获取所述X射线束在不同探测器偏置电压下的光电流或者光电压信号,再根据光电流或者光电压信号计算出X射线束的强度和能量信息;步骤4:信号处理和图像处理模块根据所述X射线束的强度和能量信息计算出被探测物体的物质参数,再利用物质参数对X射线影像的颜色赋值,重构X射线彩色影像;所述步骤2中,所述能量分辨积分型X射线探测器的本征层的半导体材料完全吸收入射的X射线束;所述能量分辨积分型X射线探测器具有单极性载流子传输特征;所述步骤4中,再利用物质参数对X射线影像的颜色赋值,对于光子能量分别为E1和E2的X射线影像,物质参数定义为:I0是X射线束入射到被探测物体前的强度,是被探测物体的成分;利用色调-色饱和-强度HIS模型对X射线影像进行彩色赋值得到X射线彩色影像,其中X射线彩色影像的色调由被探测物体的物质参数R决定,色饱和度定义为:其中,I为X射线彩色影像的强度,将4种光子能量E1、E2、E3和E4的X射线的强度平均值作为图像强度,即。
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