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龙图腾网获悉安徽中科超安科技有限公司申请的专利一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116029128B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310008812.X，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备是由请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-01-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备在说明书摘要公布了：本发明涉及中子测井技术领域，尤其涉及一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备，方法包括：当待测井的目标地层为高孔隙度的地层时，将目标地层的热中子计数比和目标地层的地层密度代入高地层孔隙度模型，得到目标地层的地层孔隙度；当待测井的目标地层为低孔隙度的地层时，将目标地层的热中子计数比和目标地层的地层密度代入低地层孔隙度模型，得到目标地层的地层孔隙度。与现有技术相比，本发明从中子输运理论出发，充分考虑到中子的非弹性散射对于中子慢化的影响，最终提高了目标地层的孔隙度测量的精度和灵敏度。并且该方法所用的仪器均为本领域常用仪器设备，便于操作、实施和测试。

本发明授权一种测量地层孔隙度的中子测井方法、系统和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种测量地层孔隙度的中子测井方法，其特征在于，包括： 当待测井的目标地层为高孔隙度的地层时，将所述目标地层的热中子计数比和所述目标地层的地层密度代入高地层孔隙度模型，得到所述目标地层的地层孔隙度； 当待测井的目标地层为低孔隙度的地层时，将所述目标地层的热中子计数比代入低地层孔隙度模型，得到所述目标地层的地层孔隙度； 所述高地层孔隙度模型为：，其中，表示地层孔隙度，,，Rt为热中子计数比，为地层密度，均为刻度系数； 所述低地层孔隙度模型为：，其中，表示地层孔隙度，Rt为热中子计数比，M、N、O、P、Q、R、S、T均为刻度系数； 的具体值的获取过程，包括： 将地层孔隙度中子测井仪器放入孔隙度标准刻度井中，测量不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的近热中子探测器计数和远热中子探测器计数，得到不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的地层孔隙度中子测井仪器的近热中子计数和远热中子计数的比值的第一实验测量值Rte； 将第一实验测量值Rte作为所述高地层孔隙度模型中热中子计数比，将所述标准刻度井的地层密度作为，以及将所述标准刻度井的地层孔隙度作为代入所述高地层孔隙度模型，求解得到的具体值； 还包括：M、N、O、P、Q、R、S、T具体值的获取过程，包括： 将地层孔隙度中子测井仪器放入孔隙度标准刻度井中，测量不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的近热中子探测器计数和远热中子探测器计数，得到不同孔隙度的孔隙度标准刻度井中的地层孔隙度中子测井仪器的近热中子计数和远热中子计数的比值的第二实验测量值rte； 将第二实验测量值rte作为所述低地层孔隙度模型中热中子计数比，将所述标准刻度井的地层孔隙度作为，代入所述低地层孔隙度模型，求解得到M、N、O、P、Q、R、S、T的具体值。

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