上海智殷自动化科技有限公司甘中学获国家专利权
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龙图腾网获悉上海智殷自动化科技有限公司申请的专利基于多光场视角的粗糙度识别装置及算法检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115585757B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211253774.6，技术领域涉及：G01B11/30；该发明授权基于多光场视角的粗糙度识别装置及算法检测方法是由甘中学;孙仕亮;张庆久;殷兴国;田培运设计研发完成，并于2022-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于多光场视角的粗糙度识别装置及算法检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供基于多光场视角的粗糙度识别装置及算法检测方法，其特征在于包括光源A、光源B以及工业相机，所述工业相机设置在待测产品正上方，所述光源A设置在待测产品前侧，所述光源B设置在待测产品后侧；该装置能够快速准确的检测出材料粗糙度，并能根据算法通过粗糙度识别出有问题的材料，成本低、速度快易于实现。
本发明授权基于多光场视角的粗糙度识别装置及算法检测方法在权利要求书中公布了：1.基于多光场视角的粗糙度算法检测方法，其步骤为： 步骤一、依次点亮光源A、光源B，每次点亮后用工业相机进行拍图，这样就获取了不同光场视角下的图像，记为Img1和Img2； 步骤二、分别对这两张图像进行灰度变换，变换思路为将平均灰度变为127，针对每张图像计算其平均灰度值avgGray,则灰度偏移值为grayOffset=127-avgGray； 步骤三、对图像中的每一个像素进行灰度偏移计算，newValue=oldValue+grayOffset，如果newValue小于0则置0，如果大于255则置255，这样就会得到处理后的两张图像proImg1、proImg2； 步骤四、然后进行像素比对，把差值大于判断阈值的像素值设置为前景色255，其它设置为背景色0，这样就得到了对比的二值化图像； 步骤五、根据每个像素周围区域内的前景色面积大小作为判断该点粗糙度的一个指标，将不合格的区域定位出来，从而判断每个模块的粗糙度是否为良品。
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